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Phasics利用其四波横向剪切干涉技术，在紫外波前测量提供了较好的解决方案。它有非常高空间分辨率（250x250测量点）和在190-400nm范围具有高灵敏度（0.5 nm RMS）。因此，SID4-UVHR是完全适用于光学元件的特性（用于光刻技术、半导体…）和表面检查（透镜和晶片…）。由于它小巧，易于使用，能有效地适应各种实验条件。
SID4-UVHR 光学器件测量 自适应光学
特点：
由于其独特的专利技术技术，Phasics的SID4-UVHR波前传感器具备以下特点：
1.超高分辨率：250x250测量点
2.高灵敏度：0.5nm
3.通光孔径大：8*8mm
4.直接测量：光学元件和表面质量
应用：
SID4-UVHR紫外波前传感器提供应用：
紫外激光器：光束测试与校正
光学测量：UV光学测试（半导体…）和表面测量
SID4-UVHR产品参数：
波长范围 | 190 - 400 nm |
通光孔径 | 8 x 8 mm2 |
空间分辨率 | 32 μm |
采样点（相位/强度） | 250 x 250 (> 62 500 points) |
相位相对灵敏度 | 0.5 nm RMS |
相位精度 | 10 nm RMS |
动态范围 | ~ |
采样频率 | > 30 fps |
实时分析频率 | 1 fps (full resolution) |
数据接口 | Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) | 95 x 105 x 184 mm |
重量 | ~900 g |
| 用户单位 | 采购时间 |
|---|---|
| 华东师范大学 | 2013-02-19 |
| 上海理工大学 | 2015-02-25 |
| 上海大学 | 2016-06-23 |
| 上海交通大学 | 2016-03-23 |
1年
否
有
1人/次
根据厂家保修条款
免费质保，易耗品不在保修范围。
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