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产品简介：SE-VE 是一款超高性价比、快速测量光谱椭偏仪，紧凑集成设计，使用简便，可一键快速测量表征各式光学薄膜膜厚以及光学常数等信息。高性价比光学椭偏测量解决方案，紧凑集成化设计，极致用户操作体验，一键快速测量分析，人机交互设计，使用便捷，丰富的数据库和几何结构模型库，保证强大数据分析能力，广泛应用于科研/企业中各种单层到多层薄膜膜厚以及光学常数等快速表征分析。
产品型号 | SE-VE光谱椭偏仪 | ||
主要特点 | 1、采用高性能进口复合光源，光谱覆盖可见到近红外范围 (400-800nm) 2、高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置，实现Psi/Delta光谱数据高速采集 3、数百种材料数据库、多种算法模型库，涵盖了目前绝大部分的光电材料 | ||
技术参数 | 1、自动化程度：固定角 2、应用定位：经济型 3、基本功能：Psi/Delta、N/C/S、R等光谱 4、分析光谱：400-800nm 5、单次测量时间：0.5-5s 6、重复性测量精度：0.05nm 7、光斑大小：大光斑1-3mm 8、入射角调节方式：固定角 9、入射角范围：65° 10、找焦方式：手动找焦 11、Mapping行程：不支持 12、支持样件尺寸：最大至160mm | ||
可选配件 | 1 | 温控台 | |
2 | 真空泵 | ||
3 | 透射吸附组件 | ||
光谱椭偏仪信息由沈阳科晶自动化设备有限公司为您提供，如您想了解更多关于光谱椭偏仪报价、型号、参数等信息，沈阳科晶客服电话：400-860-5168转1374，欢迎来电或留言咨询。
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