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平面近场天线测试系统
天线作为通讯、雷达等应用领域的重要组成部分，天线参数的测试和验证是天线设计过程中
不可或缺的环节。天线测试的主要内容是测量天线的电参数、辐射参数，以评价天线的性能
。天线测试方法有远场测试、紧缩场测试、平面近场测试。天线远场测试技术是早出现并
发展成熟的，但由于其对大测试场地和电磁环境的特殊要求，测试非常不方便，人们一方面
用紧缩场产生平面波来模拟理想远场，另一方面则是用近场测试代替远场测试，上个世纪60
年，大多数的天线测量仍采用远场测量方法。需要花费数月的时间和不菲的代价在数十公里
的距离完成一次测试。1967年NIST推出的近场测量法将大多数的天线测量转移到微波暗室
内完成，测试所需的人力物力时间均断崖式下降，近场测试系统成本也远远低于远场和紧缩
场测试系统。
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