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公司介绍：
来自日本的NTT-AT有着多年的X射线、极紫外光学配件的研发经验，通过与全球各大同步辐射，阿秒科学，高强度物理学等领域的科研学者紧密合作，积累了大量的客户群体，以雄厚的实力赢得了优秀的市场口碑，其独特的设计与制造技术在业内享有很高的评价。XUV镜片，XUV滤波片不仅对阿秒科学有着帮助，对下一代的光刻研究也有这重要作用。NTT-AT将在XUV，EUV，X射线领域给予客户在研发上最大的帮助。
产品介绍：
用于X射线分析的分辨率评估图的事实上的标准
优点
这款超精细、高分辨X射线测试卡作为NTT-AT的拳头产品，更是成为了行业标准、业界标杆，被广泛应用于X射线显微、X射线微束分析和X射线成像等需要超高分辨率的X射线分析应用。具有高耐X射线辐射、 超清晰图案和低边缘粗糙度等特点。基于SiC膜的Ta吸收体图样经验证结构非常准确，可以为您的X射线分析系统的评估带来非常清晰的图像。
您不尝试一下这事实上标准的性能吗？
特点：
有三种X射线图可应用于各种方面：标准型、高分辨率和高对比度型以及超高分辨率型。可为用户的系统定制图案布局和基板尺寸。
规格
| 项目 | 标准型 XRESO-100 | 高分辨率型 带较厚Ta 吸收体 XRESO-50HC | 新！！ 超高分辨率 XRESO-20 | |
|---|---|---|---|---|
| 基板 | 材料、尺寸 | Si 10平方毫米 | ||
| 厚度 | 1毫米 | 1毫米 | 0.625毫米 | |
| 膜 | 材料、 厚度 | Ru 20纳米 SiN 2微米 | Ru 20纳米 SiC 200纳米 SiN 50纳米 | Ru 20纳米 SiC 200纳米 SiN 50纳米 |
| 区域 | 1平方毫米 | 1平方毫米 | 1平方毫米 | |
| 对齐 | 基板中间 | 基板中间 | 基板中间 | |
| 图案 | 吸收体、 厚度 | Ta 1微米 | Ta 500纳米 | Ta 100纳米 |
| 最小图案 尺寸 | 100纳米 | 50纳米 | 20纳米 放射形图案 | |
| 图案区域 | 250微米×350微米 | 300平方微米 | 300平方微米 | |
X射线图（高分辨率图）的略图
恩梯梯尖端技术公司的已成为事实上标准的X射线分辨率评估图在世界上被用于企业、大学和研究所。
超高分辨率型 XRESO-20
XRESO-20是具有20纳米最小图案宽度的超高分辨率评估图。2014年开始销售的此高规格型号最近被应用于超高分辨率X射线成像系统。
| 图的SEM图像 | 图案布局 |
|---|---|
| 100纳米孔 |
①放射形图案 ③④孔图案 ⑤⑥⑦⑧L&S图案 |
| |
| 50纳米孔 | |
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| 20纳米图案 | 20纳米放射形图案 |
 |  |
超高分辨率型 XRESO-20
XRESO-20是具有20纳米最小图案宽度的超高分辨率评估图。2014年开始销售的此高规格型号最近被应用于超高分辨率X射线成像系统。
| 图案布局 |
|---|
 |
带较厚吸收体的高分辨率型 XRESO-50HC
XRESO-50HC提供成本合理的50纳米高分辨率。其已被应用于X射线微光束辐射、X射线显微镜和X射线相干成像等各种用途。
| 图的SEM图像 | 图案布局 |
|---|---|
| 放射形图案 相应于图案布局的点（1） |  |
| |
| 50纳米 L&S 相应于图案布局的点（2） | |
 |
1年
是
有
不限人次交货时现场培训
质保期内免费保养
质量保证期内提供保修（人为破坏因素、遇不可抗力或使用不当除外）
24小时内做出响应，提出解决方案，如有必要，48小时内上门
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