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材料阻抗测试设备MIA简介
[系统简介]
材料的基础物性研究是产品产业化的根基，当一种材料需要产业化的时候，我们必须尽可能大范围地，高精度地掌握它的大部分特性，以免因为错误的数据而影响了后期产业化的方向，造成不必要的损失。
MIA系列是东阳特克尼卡株式会社与ZURICH联合开发，面向各种介电材料的交流阻抗评测系统。该系统搭配了独有的OSL补偿系统，实现了高达0.2%的测量误差精度。
[系统图片]
[测试项目，关键词]
介电材料，交流阻抗，电容测量，配位化合物，离子导电材料，调色剂，有机半导体
[系统特征]
• 可对应最大1T?的样品
- 适用于介电材料，配位化合物，离子导电材料，调色剂，有机半导体等
• 高精度
- 基础测量精度0.2%
- 带有OSL校正
• 专用软件
- HIMS全自动控制测量软件
- Z-View等阻抗分析软件
• 各种专业配件
- 适用于各种不同材料形态尺寸样品的夹具选配件
- 适用于各种气体氛围，环境和温度的选配件
[系统规格]
样品接触方式 | 2端接触 |
频率范围 | 1mHz ～5MHz |
基本测量精度 | 0.20% |
阻抗测量范围 | 100Ω ～ 1TΩ |
电容测量范围 | 1pF ～ 1mF |
介电损耗（tanδ）测量范围 | 0.0001 ～ 1000 |
施加电压（AC + DC Vpp） | -10V ～ +10V |
校正功能 | OSL |
控制软件 | 附带HIMS软件，PC控制 |
[选配件]
• 电压放大功能
- 最高DC：±4kV、AC：800Vpp，带特殊保护装置。
• 样品夹具/温度控制
型号 | TTPX | LN-Z2 | 恒温箱＋SH2-Z | HT-22-1000 | UHT-22-1200 |
名称 | 低温探针台 | 广域温度控制台 | 耐热样品台 | 桌面型烘箱 | 超高温烘箱 |
温度控制范围 | 4.2K ～ 425K | 80K ~ 473K | -60℃ ～ +150℃ | 100℃ ～ 1,000℃ | 100℃ ～ 1,200℃ |
※根据型号冷媒不同 | |||||
样品接触方式 | 探针 | 上下夹扣 | 上下电极 | 上下夹扣 | 上下夹扣 |
氛围气体控制 | 真空，气体置换 | 真空，气体置换 | 规格不同不同对应 | 流气量控制 | 流气量控制 |
[测试图例]
1年
是
无
1
1年2次
按国家规定
按国家规定
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