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SPOT中波红外焦平面阵列空间响应测试系统是扫描式光斑投影系统，它将高亮度的小光斑投射到被测MWIR FPA表面上，同时测量其输出信号。它可以直接测量MWIR FPA传感器的空间响应分布函数，也可间接测量这些成像传感器的MTF和串扰。
SPOT测试系统的各部件结构如下，包括光斑投影系统和扫描系统。测试原始红外FPA传感器时，SPOT还可以配置与FPA相匹配的高动态范围电路。
相较竞争对手，SPOT测试系统的主要优势是提供了高能量(至少4 mW)的极小光斑(通常是8μm)用以测试。这种高能量密度可以检测到光电二极管制造过程中传感器感光层上的微小缺陷。
设备特性：
? 可控制光斑的空间位置，光强
? 测量FPA单个像元输出的信号，通过反卷积来计算结果
? 测量IR FPA的空间响应函数
? 计算MTF和串扰
? 全自动测试系统
? 软件提供调焦功能
产品参数
参数 | 描述 |
被测传感器 | |
传感器类型 | 制冷式 MWIR FPAs 响应范围 1 um 到 5.5 um |
可供选择的被测传感器 | SWIR FPAs, VIS-NIR FPAs, UV FPAs |
像元尺寸 | 典型尺寸 > 8um 可选 < 8 um |
FPA 分辨率 | SXGA 格式 1280 x 1024 |
响应率 | >0.1 A/W |
配件 | 需提供读取设备和杜瓦瓶 |
光斑投影系统 | |
大功率 | 4 mW |
光斑直径 | 在百分之七十 能量时< 6 um |
功率调节范围 | 大于100 |
光学部件 | 近似**，达到衍射极限 |
控制方式 | USB接口，PC控制 |
扫描系统 | |
XY扫描范围 | 不小于 10x10 mm |
扫描分辨率 | 粗略移动 – 2.5 um; 移动 - 0.5 um |
调焦范围 | 18 mm |
调焦分辨率 | 0.5 um |
控制方式 | USB接口，PC控制 |
环境要求 | |
工作温度 | +5oC 到35oC |
储藏温度 | -5oC 到55oC |
工作湿度 | 不超过百分之八十五 |
储藏湿度 | 不超过百分之九十 |
1年
否
有
按照合同履行
无
免费维修
8小时内响应
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