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VIT型VIS-SWIR成像探测器测试系统是一个可扩展的用于测试硅成像探测器、黑硅成像探测器以及InGaAs 成像探测器的测试系统，支持成像探测器所有重要参数的测试。
VIT测试系统是一个模块化的测试系统，由以下五个部分组成：双图像投影通道，一组图像采集卡，极端及，测试软件和可选的测试原始芯片用的CON控制模块。双图像投影通道是VIT测试系统的核心模块，包括辐射通道和成像通道。
VIT测试系统提供了一组传统参数的测量，这些参数通常用于表征红外焦平面/热成像核心的性能。另外也提供成像传感器和相机的EMVA1288标准推荐的性能参数测试。
一般测试功能：
1. 辐射参数：相对光谱灵敏度、比探测率D*、量子效率QE、灵敏度、动态范围、线性度、NEI、FPN固定图形噪声、非均匀性、信噪比、坏像素数、3D噪声。可以测量16个不同波长下的情况。
2. 成像参数：调制传递函数MTF、分辨率、**小可分辨对比度、串扰、高光溢出Blooming、视场。
EMVA1288测试功能：量子效率，增益，时间暗噪声，DSNU1288，大信噪比，PRNU1288，LE非线性，灵敏度阈值，饱和容量，动态范围，暗电流，相对光谱灵敏度。
产品参数
表1 用于定义VIT测试系统版本的两位数编号
编号 | A列：已封装传感器 | B列：电子控制模块支持的被测件 |
1 | VIS-NIR传感器 | 相机核心 |
2 | InGaAs传感器 | 相机核心和**多两个原始传感器 |
3 | VIS-NIR传感器和InGaAs 传感器 | 相机芯和多个原始传感器 |
表2 产品详细参数
电源 | 230/110 VAC 50/60 Hz 功率＜800W |
工作温度 | 10°C to 40°C |
尺寸 | 约163x63x73 cm |
重量 | 约91kg（不包括PC） |
1年
否
有
按照合同履行
无
免费维修
8小时内响应
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