报价 面议
综合评分 暂无
品牌
型号
产地
应用领域
营业执照已认证
看了其他晶圆缺陷检测设备的用户又看了
百特Bettersize3000Plus激光粒度仪
能量色散型X射线荧光光谱仪 S2 PUMA
BeNano 90 Zeta 纳米粒度及Zeta电位分析仪
博迅 BXM-60EI 立式压力蒸汽灭菌器
上海思尔达 压差水分仪 水份仪 微量水份仪
偏光(污渍、薄膜不均匀性)
坡度(划痕、表面形貌)
反射率(内应力、条纹)
暗场(颗粒、夹杂物)
1.透明基底上的缺陷
2.单层污渍或薄膜不均匀性
3.化合物半导体的晶体缺陷
在化合物半导体基底和外延生长层上检测和分类多种类型的晶体缺陷
所有缺陷类型
薄厚基板
透明和不透明基板
电介质涂层
金属涂层
键合硅片
开发和在线生产
地图和位置
缺陷数量
彩色编码缺陷
缺陷尺寸
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 无
免费培训: 首次培训免费
免费仪器保养: 收费服务
保内维修承诺: 首次免费上门安装
报修承诺: 24小时反馈
暂无评论,点击发布评论
Jansky
相关产品
四探针方阻测试仪
晶圆缺陷光学检测设备
薄膜应力测试仪
光刻套刻测量设备
晶圆缺陷电子束检测设备
其他晶圆缺陷检测设备
光学薄膜测量设备
关键尺寸测量设备
热波系统
高分辨率晶圆厚度和平整度测量仪 MX 1012
高分辨率晶圆厚度和平整度测量仪 MX 1018
高分辨率晶圆厚度和平整度测量仪 MX 102-6/8
晶圆几何测量仪 MX 2012
手动晶圆厚度测量仪 MX 203
半自动晶圆厚度测量仪 MX 204
非接触式单点晶圆测厚仪 MX 301
晶圆高分辨率厚度和表面形貌测试仪 MX 7012
微污染防治方案
晶圓倉儲與包裝自動化
晶圓移載自動化
晶圆表面厚度翘曲度测量系统
中图仪器半导体晶圆制程检测设备几何量测系统WD4000
WD4000晶圆厚度翘曲度粗糙度检测设备
半导体晶圆粗糙度翘曲度检测设备
CT系统
缺陷检测
KLA iNano 纳米力学测试仪
KLA 纳米力学测试仪 iMicro
UVISEL Plus
AVI-600系列防震台 主动式减震
UNICORN α500 系列低频消磁系统
BOWMAN B系列 高性能XRF镀层测厚仪
BOWMAN K系列 高精度镀层测量系统
KLA Nano Indenter G200 纳米力学测试仪
KLA Nano Indenter G200X 纳米力学测量仪
KURASHIKI MT-0817隔音箱
iMicro
桌上型主动式隔振台
主动式防震系统
Filmetrics F3-XXT 薄膜厚度测量仪
Filmetrics 膜厚测量仪 F37
Filmetrics F64-C 光学膜厚测量仪
桌面式膜厚测量仪 Filmetrics F70
Bruker M系列微区X射线荧光光谱仪
Bruker M4 TORNADO
CDE DualMap 薄膜厚度测量仪
Niton XRF 手持式合金分析仪
手持分析仪 XL2100G XRF
Bowman X射线荧光分析仪
iMicro纳米压痕仪
HORIBA LA960 V2 激光粒度仪
LabRAM HR Evolution拉曼光谱仪
Herz-UT-1000A主动式减震平台
Herz-UT-1200A主动式减震平台
HORIBA GD Profiler 2射频辉光放电光谱仪
KLA台阶仪 D-300 探针式 表面轮廓仪
爱蛙科技
优尼康科技
瞬渺科技
中图仪器
阿米精控
欧屹科技
巨力科技
香港电子
当前对比仪器已满5台