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产品描述
设备主要利用微波测试原理，非接触式测量射频HEMT结构半导体材料的方阻、迁移率及载流子浓度。可实现单点测试，
亦可以实现面扫描的测试功能，具有快速，无损，准确等优势，可用于材料研发及工艺的监测及质量控制。
特点
适用于迁移率量测范围在100cm²/V · s～3000cm²/V · s 的射频HEMT外延片。非接触，非损伤测试，具有测试速度快，
重复性佳，测试敏感性高，可以直接测试产品片等优点。
经过测试的材料包括
石墨烯：单层、双层、多层；墨水；掺杂；在SiC上的外延层；粉末和片状；氧化石墨烯
PEDOT
碳纳米管
ITO
NbC
IZO
ALD-ZnO
GaN
MoS
旋涂光阻
售后服务
200天
1年
安装调试现场免费培训
石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统信息由南通宏腾微电子技术有限公司为您提供，如您想了解更多关于石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统报价、型号、参数等信息，宏腾微电子设备客服电话：400-860-5168转6134，欢迎来电或留言咨询。
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