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VERTEX系列傅立叶红外光谱仪集布鲁克公司35年来技术创新与发展之大成，将红外光谱技术推向一个新的高峰。极具远见性的光学平台设计，为广泛的功能扩展及未来全方位的升级奠定了有力的基础，使VERTEX系列光谱仪成为红外光谱业界巅峰领域各项应用的首选。
室温硅材料中碳、氧的定量分析
傅立叶红外技术可以快速、灵敏、无损地分析硅材料中的碳、氧含量，因此它在硅材料质量控制领域被广泛接受
和应用。布鲁克在这个前沿领域拥有和积累了几十年的经验，并结合布鲁克VERTEX 系列傅立叶红外光谱仪推出 了业内最专业和最与时俱进的完整分析方案。
ü 根据ASTM/SEMI MF1391标准，建立了室温 硅中代位碳原子含量分析方法。
ü 根据ASTM/SEMI MF1188标准，建立了室温 硅中间隙氧含量分析方法。
ü 可达最低检出限： < 400ppba
ü 建议的样品特征：
厚度0.5-2.5 毫米 (最理想：约1.5 毫米)
双面抛光
单晶或多晶型
l 聚合物与化学
远红外谱区识别聚合物复合材料中的无机填料 （BRUKER FM）
聚合物动态和流变学研究
测定挥发性化合物及表征热分解过程 （TGA-FTIR）
反应监测和反应控制 (中红外光纤探头)
识别无机矿物质和颜料
l 研发
用于时间分辨以及幅度调制（AM）相位调制（PM）光谱的连续和步进扫描技术 (步进扫描 / 快速扫描 / 交叉扫描时间分辨光谱 TRS)
超高真空中的FT-IR光谱分析
用于电极表面和电解质的原位研究的FT-IR光谱电化学
蛋白质水溶液研究 (CONFOCHECK)
确定分子的绝对构型 (VCD)
l 制药
通对药物产品的稳定性和挥发物含量进行表征 （TGA-FT-IR）
远红外谱区区分活性药物成分的多晶型物 （BRUKER FM）
l 材料科学
光学和高反射材料（光窗、反射镜）的表征
通过光声光谱学（PAS）研究深色物质和深度剖析
材料的发射行为表征
l 半导体
硅晶圆中氧和碳含量的测定进行质量控制
30天
1年
安装调试现场免费培训
到货后3天内
6小时内
是
3天内
否
是
是
是
是
是
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