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ContourX-200光学轮廓仪完美融合了高级表征、可定制选项和易用性，可提供一流的快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。该设备作为可用于计量的小尺寸系统，配置了大视场的5百万像素摄像头和新型电动XY载物台，可提供高性能的的2D / 3D高分辨率测量功能。
ContourX-200还配有业界最先进的操作和分析软件Vision64®。最新的VisionXpress™提供了更易于使用的界面和简洁的功能，可访问多种预编程滤镜和分析工具，用于精密加工的表面，薄膜，半导体，眼科，医疗设备，MEMS和摩擦学等领域的测量分析。
ContourX-200具有无与伦比的Z轴分辨率和准确性，提供了布鲁克专有的白光干涉仪（WLI）的所有业界公认的优点，却没有传统共聚焦显微镜等产品的局限。
高性能表面计量
1、与放大倍率无关的Z轴分辨率
2、大尺寸的标准视场
3、稳定集成防震设计
卓越的测量与分析功能
1、易于使用的界面，可快速准确地获得结果
2、自动化功能用于日常测量和分析
3、广泛的滤镜和分析工具选项，用于粗糙度和关键尺寸测量分析
4、满足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等标准在内的定制化分析报告
无与伦比的一流计量设备
基于超过四十年的专有WLI创新，ContourX-200光学轮廓仪展现出定量计量所需的低噪声、高速、高精度的准确结果。通过使用多个镜头和集成的特征识别功能，设备可以在各种视野内以亚纳米垂直分辨率跟踪特征，从而提供不受放大倍数影响的结果，可用于各种不同行业中的质量控制和过程监控应用。
ContourX-200对于反射率从0.05％到100％的各种表面都非常易于测量。
最全面的分析能力
利用强大的VisionXpress和Vision64用户界面，ContourX-200提供了上千种定制分析参数，以提高实验室和工厂车间的生产率。系统新摄像头提供了更大视野，新型电动XY平台提供了更灵活定位能力，为各种样品和零件提供了更大的适用性和更高的测试通量。硬件和软件组合提供了对高可重复性和 高通量计量学测量功能的便捷访问，超过了同类计量设备的能力。
30天
1年
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到货后3天内
6小时内
是
3天内
否
是
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是
是
是
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