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作为蔡司 Xradia Versa 系列中前沿的产品，蔡司 Xradia 600 系列 Versa 三维 X 射线显微镜在科学探索和工业研究领域为您开启多样化应用的新高度。基于出色的高分辨率和衬度，蔡司 Xradia 600 系列 Versa 拓展了无损成像的研究界限，大大提高了灵活性，可加快您的研究进展。
射线源和光学技术的突破性创新提高了 X 射线通量，在不影响分辨率和衬度条件下可实现更快的断层扫描速度。创新的数据采集工作流让您无需对样品进行切割即可实现对搜索-和-发现的感兴趣区域进行高分辨率成像。实现从探索到发现的工作流无缝衔接。
典型任务与应用
• 表征三维结构
• 观察失效机理、降解现象和内部缺陷
• 在多尺度下研究样品特性
• 对微观结构演变进行量化
• 进行原位和 4D（随时间推移的研究）
成像，用以了解加热、冷却、干燥、加湿、拉伸、压缩、吸入、排出及其它模拟环境的影响
蔡司 Xradia 600 系列 Versa 优势
• 以无损的方式观察使用 2D 表面成像技术无法探测到的深层显微结构；利用成
分衬度研究低原子序数或“近原子序数”元素及其它难于辨识的材料
• 能够在大工作距离下保持高分辨率，以完成无损原位成像实验• 使用 Versa FPX 进一步增强快速、高效的“定位-和-放大”技术，在宏观的尺度上确定样品高分辨率成像的感兴趣区域
• 更高的效率实现更多的样品运行，以获取更好的数据和更多的样品统计数据
• 对于学术共享设备，更快的扫描可提高用户数量和仪器利用率
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| 用户单位 | 采购时间 |
|---|---|
| 深圳市兆威机电股份有限公司 | 2019-09-02 |
1年
是
有
免费培训
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上门维修
向顾客保证4小时做出响应，下一个工作日上门的服务承诺。
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