X射线(衍射)仪/能谱仪部件及外设C1/C2

X射线(衍射)仪/能谱仪部件及外设C1/C2

参考价:面议
型号: C1/C2
产地: 美国
品牌: AMPTEK
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核心参数
AMPTEK INC.
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产品详情
低能段X射线窗(Low Energy X-ray Windows)

AMPTEK“碳系列”X射线窗应用于X
射线荧光谱仪领域

 

    AMPTEK公司为X射线荧光测量最新研发了低能段X射线窗。新型窗由氮化硅(Si3N4 )制成,外层镀铝膜,将Super SDD系列探测器的低能段响应范围扩展到碳元素。可用于扫描电镜(SEMs),台式以及手持式分析设备中。
    Amptek曾首次在X射线探测器上应用热电冷却技术,这在很大程度上取代了传统的液氮制冷;而新产品碳系列”X射线窗则成为传统铍(Be)窗之外的首选,是低Z元素测量中不可或缺的组件。


Amptek低能段”碳系列”X射线窗的能量透过率
(和8和12微米厚的传统铍窗比较)


低Z元素的能量透过率

元素 C1 C2 8 µm Be 12 µm Be 元素 C1 C2 8 µm Be 12 µm Be
B 0.1% 18.5% 0% 0% Ne 60% 76% 20% 9%
C 4.7% 41.9% 0% 0% Na 71% 82% 40% 27%
N 21.1% 59.0% 0% 0% Mg 80% 87% 59% 47%
O 26% 61% 0% 0% Al 86% 91% 73% 64%
F 45% 70% 4% 1% Si 80% 91% 82% 75%
 
8 µm = 0.3mil; 12 µm = 0.5mil; mil为1/1000英寸

使用C2型窗的硅漂移探测器(25mm­­2/500mm)得到的能谱



测得的钠谱线对比:C1型窗和0.5mil厚传统铍窗





AMPTEK低能段C系列窗和聚合体(Polymer)窗的透过效率






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