型号: | X-123 FAST SDD C系列窗口 |
产地: | 美国 |
品牌: | AMPTEK |
评分: |
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Amptek“ C系列” X射线窗利用氮化硅(Si3N4)和铝涂层来将我们的硅漂移检测器(SDD)的低能量响应扩展到(Be)。
C1 Windows:实验室,台式和手持式仪器。
C2 Windows:扫描电子显微镜(SEM)中的真空应用程序和EDS(EDX)。C2窗在最低能量下具有更高的效率
C2窗FASTSDD测试Be和C谱图
C2窗与聚合物窗效率对比
FASTSDD典型分辨率
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