型号: | Fast SDD |
产地: | 美国 |
品牌: | AMPTEK |
评分: |
|
下一代硅漂移探测器 (Next Generation SDD)
超快型硅漂移探测器 (Super Fast SDD)
10倍通量 & 不损失任何分辨率
能量分辨率(FWHM,[eV]) | 峰化时间(微秒) |
125 | 8 |
135 | 1 |
145 | 0.2 |
图1. 能量分辨率和峰化时间曲线
图2. 不同峰化时间条件下超快型硅漂移探测器的输出计数率和输入计数率的关系
图3. 不同峰化时间条件下超快型硅漂移探测器的能量分辨率和输入计数率的关系
图4. 一秒钟采集结果的定量分析1(样品为316型不锈钢-NIST 3155)
而以下表格则显示了图4中数据的定量分析结果。
元素 | 合格浓度 | Super SDD仅需1秒 |
V | 0.05 | 0.16±0.28 |
Cr | 18.45 | 18.32±0.80 |
Mn | 1.63 | 0.0±0.55 |
Fe | 64.51 | 65.89±1.64 |
Co | 0.1 | 0.00±0.40 |
Ni | 12.18 | 12.56±0.47 |
Cu | 0.17 | 0.19±0.02 |
Mo | 2.38 | 2.34±0.08 |
图5. 1.2Mcps输入计数率(ICR)情况下测量锰(Mn)样品
图6. 一秒钟采集结果的定量分析2(样品为焊锡)
相关产品
Amptek FAST SDD C系列 窗口 探测器
大面积70mm2 FASTSDD探测器
AMPTEK 70mm2 大面积FASTSDD 探测器
AMPTEK-超快型X射线/X光硅漂移探测器
X荧光光谱、XRF(能量色散型X荧光光谱仪)OEM System Package
X射线(衍射)仪/能谱仪部件及外设C1/C2
X射线(衍射)仪/能谱仪部件及外设MCA8000D
X射线(衍射)仪/能谱仪部件及外设Mini-X-OEM
X荧光光谱、XRF(能量色散型X荧光光谱仪)X-123
AMPTEK-XRF设备OEM解决方案
X射线(衍射)仪/能谱仪部件及外设PA-210/230
X射线探测装置XR-100CR
AMPTEKX射线/X光硅漂移探测器XR-100SDD
B4C SiPIN/FASTSDD
1mm FASTSDD
关注
拨打电话
留言咨询