资料摘要
资料下载电磁干扰（EMI）是辐射检测中常见的问题。探头的输出是一个非常小的脉冲，一般是几纳安，几十纳秒的时间。前放输出是一个小的电压脉冲，一般为几个mV。在这几个敏感节点附近，通常会发现有电源大电流（比如X射线管的高压），高速数字电路以及其他可能干扰源的干扰。接地，屏蔽和其他的技术可以减小干扰，但使用不当时干扰会更大。 此文档提供了一些使用Amptek的X射线探头和信号处理器时最小化这些问题的建议和方法。
文献贡献者
1mm FASTSDD 规格参数
简介：Amptek 开发了TO-8 封装的25mm2 * 1mm 厚的FASTSDD。 和AMPTEK 其他探头有着同样的封装。这样可直接替换25mm2*0.5mm 探头（同样的封装，同样的Pin 脚输出，同样的电压）。15kev 能段以上，在保持同样的性能下，透过效率更高。
新品B4C窗口探测器
简介：Amptek 宣布推出用于Amptek FASTSDD和SiPIN探测器的碳化硼（B4C）窗口。该产品经过多年的努力，旨在给用户和OEM厂商提供以替代标准铍窗的高性能窗口材料。
AMPTEK - PLEAIDES
简介：XRA-700 是一个多通道 X 射线光谱系统，搭载七个高性能 X 射线探测器和低噪声前置放大器以及一个带电源和制冷的控制单元。基于 Amptek 现有宽 能量范围的 X 射线探测器，XRA 700 可以任意组合 Amptek 探测器，为您的实验配置带来前所未有的灵活性。
复位型前置放大器应用
简介：复位型前置放大器波形与介绍。每一次 X射线的相互作用都会产生一个小的台阶信号 ，这些信号在同一个方向上叠加 ，最后复位回到起点。
AMPTEK探测器性能对比
简介：理想的探头在极高的计数率下，分辨率时有限制的。在实际探头高计数率下工作时，信号处理中的峰化时间必须很短，而这样就降低了能量分辨率。本文档主要阐述了能量分辨率和计数率相关指标。
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