型号: | WPA-200-NIR |
产地: | 日本 |
品牌: | Photonic Lattice |
评分: |
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主要特点
l红外波长的双折射/相位差/内应力面分布测量
l硫系、红外透明树脂等的光学畸变评估
l小型、簡単操作、高速測量
WPA-200-NIR能高速的测量/分析波长为850nm的双折射分布
安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View
可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据
可搭配流水线对应的『外部控制选配』,也可应用于量产现场
WPA-200-NIR的功能
1. 高速测量面的双折射/相位差分布
NIR波长仅需操作鼠标数秒内就能获取高密度的双折射/相位差信息
2. 测量数据的保存/读取
全部的测量结果都可以做保存/读取。易于跟过去的测量结果做比较等
3. 丰富的图形创建功能
从测量后的面信息,可以自由制作线图形和直方图。 复数的测量结果可以在一个图形上做比较,也可以用CSV格式输出
主要技术参数
型号 | WPA-200-NIR |
测量范围 | 0~3500nm |
重复性 | <1.0nm |
测量尺寸范围 | 3×4mm~100×133mm |
像素数 | 384*288 pixels |
测量波长 | 810nm,850nm 870nm |
尺寸 | 270x337x631mm |
自身重量 | 13kg |
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