型号: | PA-300 |
产地: | 日本 |
品牌: | Photonic Lattice |
评分: |
|
主要简介:
PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片,独有的双折射算法设计制造,得到每片样品仅需几秒钟的测量能力,使其成为业内,特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。
相关产品
PHL应力双折射测试仪
PHL双折射应力仪WPA-Micro
PHL显微型应力双折射仪
应力双折射测试仪器WPA-200,WPA-200-L
PHL应力双折射仪 PA-200
PHL偏振相机 PI-110
PL光子晶体波片
PHL膜厚测试仪/椭偏仪SE-101
Adamand Namiki 光干涉内周面测量仪 NMH-01
Lasertec激光白光混合共聚焦显微镜系统HYBRIO
蓝宝石专用双折射测量仪
球坑测厚仪
Photonic Lattice显微应力双折射分析仪 PA-Micro
Micro Support微区取样器AXIS Pro
ARMS SYSTEM无掩模光刻机/直写光刻机UTA-IA
关注
拨打电话
留言咨询