型号: | PA-Micro |
产地: | 日本 |
品牌: | Photonic Lattice |
评分: |
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该型号适用于 0 到 130nm 的低双折射产品检测,可高速测量 500 万像素的高分辨率双折射/相位差分布,
它是一种能够在显微镜视场中测量双折射的系统,随附的显微镜可选择奥林巴斯或尼康。
应用:
通信光纤
晶体
纤维
微小透明样品
技术参数:
项次 | 项目 | 具体参数 |
1 | 输出项目 | 相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】 |
2 | 测量波长 | 520nm |
3 | 双折射测量范围 | 0-130nm |
4 | 测量最小分辨率 | 0.001nm |
5 | 测量重复精度 | 1nm |
6 | 视野尺寸 | 142x170um到3.5x4.2mm |
7 | 选配镜头视野 | 无 |
8 | 选配功能 | 实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制 |
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