Photonic Lattice晶圆应力双折射缺陷检测设备PA-300-XL _价格

Photonic Lattice晶圆应力双折射缺陷检测设备PA-300-XL

参考价：面议

型号：

PA-300-XL

产地：

日本

品牌：

Photonic Lattice

评分：

产品详情

主要特点：

操作简单，测量速度可以快到3秒。
视野范围内可一次测量，测量范围广。
更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。
具有多种分析功能和测量结果的比较。
维护简单，不含旋转光学滤片的机构。
高达2056x2464像素的偏振相机。

应用领域:

SIC
蓝宝石
激光晶体

技术参数：

项次	项目	具体参数
1	输出项目	相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】

2	测量波长	520nm

3	双折射测量范围	0-130nm

4	测量最小分辨率	0.001nm

5	测量重复精度	<0.1nm

6	视野尺寸	40x48mm到240x320mm（标准）

7	选配镜头视野	可选

8	选配功能	实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制

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