薄膜和薄片的测厚方法-操作简单检测仪器_检测方案

方案摘要

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应用领域	造纸/印刷/包装
检测样本	包装
检测项目	前处理
参考标准	GB/T 6672

GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702

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配置单

普创科技-薄膜测厚仪-PTT-03A
型号：PTT-03A普创科技

¥3800
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方案详情

当今微电子薄膜，光学薄膜，抗氧化薄膜，巨磁电阻薄膜，高温超导薄膜等在工业生产和人类生活中的不断应用，在工业生产的薄膜，其厚度是一个非常重要的参数，直接关系到该薄膜材料能否正常工作。如大规模集成电路的生产工艺中的各种薄膜，由于电路集成程度的不断提高，薄膜厚度的任何微小变化，对集成电路的性能都会产生直接的影响。除此之外，薄膜材料的力学性能，透光性能，磁性能，热导率，表面结构等都与厚度有着密切的联系。那如何检测薄膜的厚度呢，本篇文章山东普创工业科技有限公司问您提供方案。

试样制备：

在距样品纵向端部大约1 m处,沿横向整个宽度截取试样,试样宽100 mm。除为提交或包装而折叠样品,试样应无折皱,也不应有其他缺陷。

选择仪器：

PTT-03A厚度测试仪.jpg