电子测量

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电子测量相关的资讯

  • 量子材料内首次测量电子自旋
    一个国际研究团队首次成功测量了一类新型量子材料内的电子自旋,这一成就有望彻底改变未来量子材料的研究方式,为量子技术的发展开辟新途径,并在可再生能源、生物医学、电子学、量子计算机等诸多领域找到用武之地。相关研究论文已刊发于最新一期《自然物理学》杂志。左边是实验结果,中间和右边是理论建模。红色和蓝色表示电子的速度。图片来源:意大利博洛尼亚大学电子自旋是电子的基本性质之一,指电子在空间移动的曲率。在最新研究中,来自意大利、德国、英国和美国的研究人员,通过先进的实验技术,利用粒子加速器同步加速器产生的光,并借助于对物质行为建模的现代技术,首次成功测量了一种新型的、颇具潜力的拓扑量子“笼目”(kagome)材料内电子的自旋,这也是科学家首次测量与拓扑概念相关的电子自旋。“笼目”指一种传统的编织竹纹,意指编织的孔眼图案。意大利博洛尼亚大学梅尼科迪桑特解释说,以足球和甜甜圈为例,这两个物体形状不同,决定其拥有不同的拓扑性质。同样,电子在材料中的行为也受到某些量子性质的影响,这些量子性质决定了电子在物质内的自旋。尽管很多年前科学家们就知道了电子存在自旋,但迄今还没有人能够直接测量量子材料内电子的这种“拓扑自旋”。在最新研究中,为测量“笼目材料”内电子的自旋,研究人员利用了被称为“圆二色性”的特殊效应,这是一种只能与同步加速器光源一起使用的特殊实验技术,利用了材料基于不同偏振吸收不同光的能力。理论研究人员使用强大的超级计算机,实现了复杂的量子模拟,实验团队则据此实现了测量。“笼目材料”相关研究结果有助人们更多地了解此类材料特殊的磁性、拓扑性和超导性质,为量子材料和量子力学研究开辟新道路。
  • 测量计量与仪器、微电子光电子等入选“中国电子信息工程科技十四大挑战(2023)”
    9月25日,中国工程院信息与电子学部、中国信息与电子工程科技发展战略研究中心在北京、香港同步发布《中国电子信息工程科技发展十四大技术挑战(2023)》。据悉,中国工程院信息与电子工程学部自2014年启动相关研究工作,至今已连续9年发布“趋势”或“挑战”等系列成就。今年入选的这十四大技术挑战包括数字领域、信息化、微电子光电子、光学工程、测量计量与仪器、网络与通信、网络安全、电磁场与电磁环境效应、控制、认知、计算机系统与软件、计算机应用、海洋网络信息体系、应对重大突发事件等14个方面。其中,测量计量与仪器在2022年便入选“技术挑战”,2023年再次入选。据了解,新一代国家测量体系和仪器产业体系建设已启动,重要场景下的关键测量技术亟待突破,特别是支撑超精密光刻机、高端航空发动机和高端工业母机等为代表的高精尖装备研发制造中的超精密测量与仪器技术亟待率先突破,制造质量调控能力亟待提升;支撑数字化、网络化与智能化测量的新形态精密仪器及传感技术将面临重要挑战。“凡是科技强国,都是仪器强国;凡是制造强国,都是仪器强国;凡是科技强国,都是仪器强国;凡是仪器强国,都有一个强大的国家测量体系来支撑着高端制造的高质量发展。”谭久彬院士表示,“要想造得出,必先测得出,要想造得精,必先测得准。”构建新一代国家测量体系是实现产业高质量发展的必然选择,也是补齐我国工业短板,特别是高端装备制造质量短板的必由之路。“
  • 安捷伦科技公布新的电子测量公司名称
    安捷伦科技公布新的电子测量公司名称 Keysight Technologies(是德科技)彰显新公司“开启测量新视野”的传承与愿景 北京,2014年1月8日——安捷伦科技公司(纽约证交所:A)今日正式公布新的电子测量公司名称——“Keysight Technologies”,中文名为“是德科技”。新公司预计将于2014年11月初正式独立运营。 新公司名称“Keysight Technologies(是德科技)”表达了公司对测量科技深入独到的认知,为不断变化的技术领域带来敏锐洞察力,帮助客户、公司和员工取得成功。新公司的品牌标语为“传承75年创新史,开启测量新视野”。1939年成立的惠普公司起源于电子测量,“Keysight Technologies(是德科技)”将这一业务传承至今,并将继续发扬光大。 是德科技公司总裁兼首席执行官Ron Nersesian解释说:“Keysight Technologies(是德科技)体现了我们的丰厚底蕴,既沿袭了‘惠普之道’的正直与创新,又代表了安捷伦世界领先的测量业务。新公司名称秉承了公司文化精髓,即创新、洞察和远见。是德科技自诞生之日起,就已经拥有众多‘业界第一’,这些‘业界第一’可追溯至硅谷建立之初。我们将全力帮助客户实现更多‘业界第一’,为客户开启测量新视野,助力其将新一代技术推广到世界各地。” 新公司中文名“是德科技”,带有浓厚的中国文化气息,也彰显出公司长期植根中国的底蕴。以“是”命名,体现测量科技对于自然世界的本质规律、基准的不断探索;以“德”命名,体现对高尚行为规范、诚实正直等原则的追求与承诺。 是德科技将完全专注于电子测量行业,潜心服务该行业测试测量领域的客户。目前,作为安捷伦业务的重要组成部分,电子测量业务在测试测量行业保持全球领先地位,并在无线通信系统、航空与国防、工业、计算机及半导体等行业市场独占鳌头。是德科技将拥有安捷伦的全线电子测量产品,同时拥有测试测量行业最大的销售和支持团队。 是德科技预计将于2014年11月初成为独立公司,总部将设在加利福尼亚州的圣罗莎市,并将在全球运营,员工总数约9500人。 欢迎访问新公司网页:www.keysight.com。 关于安捷伦科技 安捷伦科技公司(纽约证交所:A)是全球领先的测试测量公司,同时也是化学分析、生命科学、诊断、电子和通信领域的技术领导者。公司拥有 20,600 名员工,遍及全球 100 多个国家,为客户提供卓越服务。在 2013财年,安捷伦的净收入达到 68亿美元。了解关于安捷伦的详细信息,请访问www.agilent.com。 安捷伦于2013年9月19日正式宣布拆分为两家上市公司,并通过免税剥离方式拆分出电子测量公司。新的电子测量公司名称为Keysight Technologies(是德科技)。预计整个拆分将于2014年11月初完成。

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  • 【转帖】电子测量仪的分类

    1.电子测量仪的分类 电子测量仪的分类方法按不同的要求,分类不同,如按其功能,可分为下列几类。 1.1用于电量测量的仪器: 测量电流(I)、电压(V)、电功率(P)、电能(W)、电荷强度(E)等。 如:电流表、电压表、毫伏表、功率表、电能表、电荷统计计、万用表等。 1.2用于元件参数测量的仪器: 测量电阻(R)、电感(L)、电容(C)、阻抗(Z)、品质因素(Q)、损耗角tg、电子器件参数等。 如:微欧表、阻抗表、电容表、LCR测试仪、Q表、晶体管式集成电路测试仪、图示仪等。 1.3用于仪表波形测量的仪器: 测量频率(f)、周期(T)、相位(∮)、失真仪(V)、调幅(AM)、调频(FM)、谐波等。 如:频率计、石英钟、相位计、波长计、各类示波器、失真分析仪、调制度分析仪、音频分析仪、谐波分析仪、频谱分析仪等。 1.4 用于电子产品,电子设备及模拟电路和数字电路性能测试的仪器。 测量产品或设备的漏电流特性,耐压特性,频率特性,增益(K)、增减量(A)、灵敏度(S)、噪声系数(Nf)、相位特性、电磁干扰特性等。 如:漏电流测试仪、耐压测试仪、扫频仪、噪声系数测试仪、网络分析仪、逻辑分析仪、相位特性测试仪、EMC测试仪等。

  • 【讨论】请教关于电子束流大小的测量

    最近有人谈到电子束辐照,我想问一下电子束束流大小是怎样测量的,JEOL的电镜有小屏可以测大小,我是把小屏上测到的值折算到实际电子束辐照的面积上的束流密度,如屏上显示10 pA/cm2,实际辐照面积是100 nm2,那么实际束流密度是1A/cm2,不知道这样算对不对 还有一个奇怪现象是当你会聚电子束时,小屏上显示的束流值先增大,但是当电子束很小并接近到可会聚的最小束斑时,小屏上显示的束流值达到一个最大值后反而减小了,是不是当电子束很小时,小屏测量就不准,或者说用小屏测束流密度本身就不准. 不知大家是怎么测的. 还有在STEM下小束斑的束流密度怎么测.另外飞利普的电镜是怎么测的,我用的CM200没有找到类似于JEOL的显示值,不知是否有人知道

  • 电子测量仪器市场前景看好

    (2006-9-1)   电子仪器是对物质世界的信息进行测量与控制的基本手段。它融合了微电子技术、计算机技术、通信技术、网络技术、新元器件新材料技术、现代测试技术、现代设计制造技术和现代工艺技术等,是现代工业产品中新技术应用最多、最快的产品之一。 近年来,我国电子测量仪器行业在经过一段沉寂后,慢慢开始复苏。   生产与销售大幅增长的主要有两个原因,一是市场的巨大需求,特别是通信、广播电视市场的巨大发展,引发了电子测量仪器市场的迅速增长,二是电子测量仪器行业近几年迅速向数字化、智能化方向发展,推出了部分数字化产品,因而在若干个门类品种上取得了较快增长。值得指出的是,示波器等一些市场较大的产品门类,由于国内在数字化、智能化水平上跟不上市场的要求,因而国内市场大量被国外产品所占据。   据中国电子仪器行业协会介绍,电子测量仪器新产品继续向数字化、软件化、智能化、宽带化、集成化、多功能化、电路专用化、误差分析模型化、测试系统模块化、高精度、高稳定性方向发展。   我国电子测量仪器市场已经成为世界上最具有潜力的电子测量仪器市场之一。展望未来几年,由于我国经济发展形成的巨大需求,电子测量仪器的国内市场仍将呈高速发展的趋势,特别是数字电视和通信市场的高速发展,使我国电子测量仪器行业面临着巨大的挑战和机遇。据预测,“十一五”我国数字电视的市场将达到1000亿~1500亿元/年,将对电子测量仪器产生较大的需求;与此同时,通信市场的发展速度仍然比较强劲,而国产通信电子测量仪器的市场占有率很低,因此,加快国产通信电子测量仪器的开发和商品化已经成为本行业的迫切任务。   面对我国高速发展的电子测量仪器市场,电子测量仪器有关企业将加快技术进步和市场开发的步伐,努力做好国内外市场的开拓工作,真正把中国的电子测量仪器产业做强做大,将更多、更好、更新的电子测量仪器产品提供给广大用户 摘自:北极星

电子测量相关的资料

电子测量相关的仪器

  • 品牌: GATAN名称型号:Gatan SmartEMIC 电子束感应电流测量系统制造商: GATAN公司经销商:欧波同有限公司 产品综合介绍: 产品功能介绍EBIC分析系统,可以实时软件控制全自动采集电子束感生电流(EBIC)信号,获得EBIC图像信息,还可以获得IV曲线信息,最终可以测试PN结位置,宽度,少子扩散长度,材料或器件的失效点定位,广泛应用于电子半导体领域。品牌介绍美国GATAN公司成立于1964年并于70年代末进入中国市场。GATAN公司以其产品的高性能及技术的先进性在全球电镜界享有极高声誉。作为世界领先的设计和制造用于增强和拓展电子显微镜功能的附件厂商,其产品涵盖了从样品制备到成像、分析等所有步骤的需求。产品应用范围包括材料科学、生命科学、地球物理学、电子学,能源科学等领域, 客户范围涵盖全球的科研院所,高校,各类检测机构及大型工业企业实验室,并且在国际科学研究领域得到了广泛认同。经销商介绍 欧波同有限公司是中国领先的微纳米技术服务供应商,是一家以外资企业作为投资背景的高新技术企业,总部位于香港,分别在北京、上海、辽宁、山东等地设有分公司和办事处。作为蔡司电子显微镜、GATAN扫描电子显微镜制样设备及附属分析设备在中国地区最重要的战略合作伙伴,公司秉承“打造国内最具影响力的仪器销售品牌”的经营理念,与蔡司,GATAN品牌强强联合,正在为数以万计的中国用户提供高品质的产品与国际尖端技术服务。产品系统特点:高性能、地噪声EBIC系统,进行定量EBIC测量。界面友好的智能分析软件运行于DigitalMicrograph软件平台。用于SEM的SmartEBIC 系统包括:?计算机控制的、充电电池供电的EBIC放大器?高级EBIC样品座(ASH),并配有可调节的钨探针以进行台式接触。配以适当的Gatan适配器还可以通过空气锁来装载试样*? 与SEM样品台接口?链接插座及4个BNC型的电缆链接,低噪声这空馈通,适于EBIC和电子束流的测量?具有Fireware技术的DigiScan II数字电子束控制系统。它包括两个模拟输入,可同时采集摄影质量的图像,并可灵活控制像素强度、每点驻留时间、扫描旋转等。对于某些SEM,它还可以通过软件通讯SEM的操作参数。?配有先进的SmartEBIC应用插件的Digital Micrography软件,以进行定量测量、线性轮廓的实时和后处理分析 产品主要技术参数: SmartEBIC可以对EBIC信号进行自动控制采集和定量分析: 扫描控制系统: 1、1-, 2- or 4-比特数据采集提供了超大的动态范围 2、从 16 x 1 至 8000 x 8000 像素扫描分辨率 3、电子束停留时间,在0.5毫秒/像素到300毫秒/像素之间可调4、自动调节图像显示大小,使得EBIC实验过程变得更方便*5、配置Digi-Scan控制器,实时软件控制全自动采集,可以在EBIC信号的采集时就对信号进行定量分析,无需附加的后处理,*6、不仅获得EBIC图像信息,还可以获得IV曲线信息。噪音控制: 1. 特别设计的EBIC附属样品台2. 同轴绕线方式3. 可重复使用的铅酸电池 (15小时续航时间)4. 可以改变放大器的增益,从而最优化数据采集的信噪比和带宽5. 两种可选的一阶RC滤波器 ,低通或高通滤波6. 低漂移放大模式7. 在与PC通讯的时间以外,系统的微处理器会自动切换到睡眠状态8. 丰富的图像处理工具。包含锐化工具、平滑工具和傅立叶变换工具等。 9. 可以适配与Lock-in技术(本系统并不提供,这样的配置系统将不会对EBIC信号定量分析)追踪:通过软件实现。在12bit(1.22mV)采集分辨率模时为+/-5V。自动化:即使在放大器参数设定欠佳的条件下,系统也能自动优化图像的显示大小,从而提供更方便的图像浏览可以对放大器的偏移/增益进行自动设置软件:流程式一维扩散长度测量广泛的面扫/线扫描分析工具,包括数学分析工具,滤波应用等广泛的图像显示方案选项,包括二次电子图像与EBIC图像的叠加编程语言可助您为自己的实验编写定制化软件 产品主要应用领域: 测试PN结位置,宽度,少子扩散长度金属材料材料或器件的失效点定位测试半导体材料的位错密度IV特性测试应用实例:应用一:测试PN结位置,宽度,少子扩散长度应用二:材料或器件的失效点定位
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  • Anglestar电子式角度测量装置是将 Anglestar 电子倾角传感器和数字显示器组合一起,可作为角度测量的独立装置,只需9伏电池供电,可使用外接直流电源.其电缆长四英尺.(可提供最长200英尺的电缆.有关详细信息,请向厂方咨询) 传感器和显示器的距离可达200英尺.有三种系规格可供选择,量程±20度, 分辨率0.01度: 量程±45度或90度,分辨率0.1度.电子式角度测量装置-特点☆ 三部件系统,传感器,LCD显示器和电缆☆ 远程传感一显示器与传感器可相距200英尺☆ 量程: ±20 °, ±45 ° 或 +90 °☆ 性能指标标准型(P/N02160001-000)☆ 线性范围 ............................. ±45°☆ 分辨率 .................................0.1 °☆ 高分辨率型 ...........................(P/N 02160003-000)☆ 线性范围 ............................. ±19.99°☆ 阈值与分辨率 ........................0.01 °90 度型 (P/N 02160005-000)☆ 线性范围 .............................. 0 ° to 90°☆ 阈值与分辨率 ........................ 0.1 °☆ 线性度*零到 10° ...................0.1 °☆ 10°到45 ° ..........................角度 的 ±1%☆ 零位可重复性 ....................... ±0.1°☆ 灵敏轴误差 ....................... . 45°以下小于1%☆ 时间常数 ............................ 0.3 秒☆ 频响 ................................. 0.5 赫兹电子式角度测量装置-电气性能☆电源 ................................. 9 V电池☆电池寿命 (大约).................. 1000 小时☆温度范围 .......................... -18 ° 到 55°C☆连接电缆☆四导体, AWG 26, PVC护套☆标准长度............................ 4 英寸(大约1.2米)☆蕞大长度 .......................... 200英寸 (大约61.5米)电子式角度测量装置-应用☆ 平台水准测量☆ 天线定位☆ 采矿设备☆ 机加工
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  • TOF测量仪介绍FlyTOF飞行时间法迁移率测量仪是东谱科技HiTran瞬态综合光电特性测量平台中的重要成员。该系统利用飞行时间法(time-of-flight,TOF)测量半导体材料的迁移率以及相关的光电特性, 广泛适用于各类半导体材料, 如有机半导体、金属- 有机框架(metal-organic framework, MOF)、共价有机框架(covalent organic framework,COF)、钙钛矿材料等。FlyTOF基于我司的MagicBox主机研制而成,是一款高度集成化的光电测试系统,配备便捷的上位机控制和数据测量软件,可助力客户进行快速、准确的测量。示例NPB材料在不同电场下的TOF测试信号NPB材料在不同电场下的迁移率和化学结构式主要功能:- 飞行时间法瞬态光电流测量- 半导体中的载流子迁移率测量- 电子/空穴迁移率的测量 - 低温测量
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电子测量相关的耗材

  • 电子测量智能镊(Smart Tweezers)
    电子测量智能镊(Smart Tweezers)Smart Tweezers 是一系列的电阻、电感、电容测试仪表,这种产品采用独特的专利技术,将嵌入式电阻、电感、电容测试单元集成于一个金属镊子上,从而形成了独一无二的智能镊-Smart Tweezers。它可以方便地对生产线上的电气元件(SMD)进行直接的电学测量,进行元件阻抗测试,以及元件分离和分类。 SmartTweezers 大大地减少了PCB检修时间, 帮助技术人员快速找到问题所在, 使得复杂问题轻松化解。集成的SMD测试和图形显示, 以及对电阻, 电感和电容的自动测试功能允许操作人员关注于元件本身, 从而使得对元件的测试, 分类, 和评估变得高效率和低成本。 电感、电容、电阻的测量:中间的主显示屏显示当前主参数测量值,上部的次显示屏显示次参数测量值或者电感和电容的测试条件。当测量出现多个测试值时,次显示不断给出不同的读数,下方条形显示则用于显示输入模拟信号的动态变化。电压的测量:Smart Tweezers 可用于测量电压信号。在VOLTAGE/AUTO模式,它可以测量100微伏到8伏的直流电压信号;在TRACE模式,它可以测量和显示示波器形状的交流信号。Tweezers 可以用于电路的连贯性测试。当电阻测量值小于阈值,Smart Tweezers 会发出嘟嘟声,或者显示开路状态。 耐用针镊 l 针镊采用镀金抗磁不锈钢制成,可靠耐用l 采用工效学设计,简单易用 l Smart Tweezers采用接触式按键,便于选择不同功能以及修改设置。通过转动按键,便可以从功能列表中选择所要功能,然后轻按按键激活所选功能 产品参数:物理指标工作温度: 0 °C to +55 °C储存温度:40 °C to +60 °C相对湿度:0 % to 90 % (0 °C to 35 °C) 0 % to 70 % (35 °C to 55 °C)工作海拔高度: 0-2000 米储存海拔高度:10000 米电池类型: 1.5V LR44 碱性镍锌电池电池寿命: 80 小时(碱性电池);240 小时(镍锌电池)电磁兼容 (EMC):受影响和发射状况服从标准:FCC B 部分尺寸:14.0 x 2.5 x 3.0 厘米 (3.94 x 0.9 x 1.5 英寸)重量: 53 克(0.11磅lb)保修期: 1 年基本性能:测量参数:C, L, R, ESR, Rs, Rp测量频率: 100 Hz, 1 kHz, 10 kHz测试速率: 1次/秒直流电压: 0 to 8 V电阻: 0 to 9 MOhm电容: 10 pF to 900 μF电感: 1 μH to 999 mH测量精度指标:精度测量条件:温度:18°C to 28°C (64°F to 82°F);相对湿度:90%.电阻量程: 0.1 Ohm - 9.9 MOhm精度:1% 在 1 Ohm - 999 KOhm范围 5% 在0.1 Ohm- 9.9 Mohm范围最大分辨率: 10 mOhm测试频率:1 kHz电容:量程: 10 pF - 499 µF精度:3% 在 10 pF - 100 µF范围 5%在0.5 pF - 4999 µF范围最大分辨率:0.1 pF测试频率: 10 kHz 在0.5 pF-999 pF范围 1 kHz 在1000 pF - 1 µF范围100 Hz 大于1 µF电感:量程:1 µH-1 H精度: 3% 在 10 µH - 99 mH范围 5% 在0.5 µH - 999 mH范围最大分辨率: 0.1 µH测试频率:10 kHz L 1 µH 1 kHz L 1 µH 100 Hz L 1 mH特点总结:双图形显示模拟信号显示条全自动电感,电容,电阻测量自动量程选择:仪表自动选择最佳量程电路连贯性/开路测试:当电阻测量值小于阈值,会发出嘟嘟声,或者显示开路状态轨迹图形:示波器形交流电压测量 价格仅供参考,详情请致电商家
  • BT2003钠离子测量装置
    BT2003钠离子测量装置 时间: 2010-07-27 12:13:08 点击率: 3355 技术范围 测量范围:[Na+](浓度值):0~1 000µ g/L;0~10mg/L 准确度:[Na+](浓度值) 校准后读数值的± 2% 温度± 0.5 重复性误差:小于读数值的2% 水样温度:5~50.0℃;自动温度补偿范围:0~60.0℃(25℃为基础) 水样pH值调整试剂:分析纯级二异丙胺(要求用户自备) 响应时间:120 s(稳定值的90) 电源:AC(220± 22)V,(50± 1)Hz 功耗10W 电子单元输入阻抗:&ge 1× 1014&Omega 电子单元尺寸:219 mm(长)× 208 mm(宽)× 94 mm(高) 电子单元质量:1.5kg 液晶尺寸:62 mm(长)× 44 mm(宽) 工作条件: a)环境温度:5~45℃ b)相对温度:不大于85% c)无振动、无腐蚀性气体、无阳光直射。 d)周围除磁场外,无其他性能的电磁场存在。
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
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