扫描力探针

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  • 扫描力探针技术在能源纳米技术研究中大有可为
    p   能源纳米技术,泛指利用纳米材料和纳米尺度的特征效应构筑能源纳米器件,致力于解决可再生能源转化和存储过程中的瓶颈问题,目前已成为一个重要的学科交叉领域。能源纳米器件显著区别于电子器件和光电子器件,其工作机制决定于器件中电子、空穴和离子等载流子的长程传输过程,其传输过程常与化学转化相耦合,并且不同于传统化学反应中电子被局域在原子核附近。基于原子力显微镜(AFM)发展的扫描力探针显微术(SFM)从最初的形貌扫描工具,逐步发展成了可探测力学、电学、热学、磁学、光学和化学等性质的多模式功能成像技术,同时结合其高空间和时间分辨率,适应于复杂环境的原位工况成像能力等优势,被广泛用于能源纳米器件工作机理的研究。 /p p   中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所研究员陈立桅团队,长期致力于能源纳米器件界面形貌、化学结构和电子过程的扫描力探针研究,目前已在Acc. Chem. Res,Nat. Commun.,JACS,Adv. Mater.,Joule,Nano Lett.,Nano Energy 等期刊上发表了一系列原创性研究成果。近日,受邀在《先进材料》(Advanced Materials)上撰写题为Functional Scanning Force Microscopy for Energy Nanodevices 的综述文章(DOI: 10.1002/adma.201802490),聚焦近年来能源纳米器件的扫描力探针技术的研究进展。 /p p   该综述首先介绍了扫描探针各种功能成像技术的发展历程,从最基本的形貌成像模式开始(图1),依次介绍纳米力学模式、化学成像模式、载流子探测模式和时间分辨成像技术等。第二部分介绍了各种扫描力探针功能成像模式在能源转换器件,如有机光伏电池和有机-无机钙钛矿电池中的进展。该部分重点突出了原位工况研究器件内部界面动态演化的重要意义和面临的挑战(图2)。在第三部分中,该综述介绍了以锂离子电池为典型代表的能源储存器件中固态电解质中间相(SEI)的形貌、力学性质、化学组分在电池循环中的演变,及其与电池循环性能的关联(图3)。该类器件区别于能源转换器件的主要特点是器件行为决定于离子的传输,因此推动了一系列探测离子运动的功能成像模式的发展。最后,该综述总结了扫描力探针技术在能源纳米技术发展中起到的积极推动作用,同时指出进一步提高测量分辨率和测量精度对于推动能源纳米技术领域革新具有重要意义。 /p p style=" text-align: center "   此综述和相关研究工作得到国内外合作者的大力支持,受到国家自然科学基金、科技部重点研发计划、江苏省自然科学基金、中科院先导专项和科研装备研制项目、苏州纳米协同创新中心(教育部2011计划)以及苏州纳米所的经费资助与研发条件支持。 br/ img title=" 1.jpg" alt=" 1.jpg" src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201809/uepic/3077aae7-37fa-4433-af33-770f84021604.jpg" / /p p style=" text-align: center "   图1.扫描力探针技术原理图,通过针尖扫描过程中是否振动将扫描力探针技术分为非振动模式(a)和振动模式(b)两大类 br/ img title=" 2.jpg" alt=" 2.jpg" src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201809/uepic/611aebf3-4b8d-49b6-9176-fdacae6f7a8e.jpg" / /p p style=" text-align: center "   图2.原位工况研究有机光伏器件和有机-无机钙钛矿光伏器件能级结构的演变 br/ img title=" 3.jpg" alt=" 3.jpg" src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201809/uepic/b1bdb1ed-c242-4cdc-952b-b2a6033070e1.jpg" / /p p style=" text-align: center "   图3.锂离子电池SEI形成原理示意图及其形貌变化的原位表征 /p p br/ /p
  • 暨南大学250.00万元采购扫描探针
    html, body { -webkit-user-select: text } * { padding: 0 margin: 0 } .web-box { width: 100% text-align: center } .wenshang { margin: 0 auto width: 80% text-align: center padding: 20px 10px 0 10px } .wenshang h2 { display: block color: #900 text-align: center padding-bottom: 10px border-bottom: 1px dashed #ccc font-size: 16px } .site a { text-decoration: none } .content-box { text-align: left margin: 0 auto width: 80% margin-top: 25px text-indent: 2em font-size: 14px line-height: 25px } .biaoge { margin: 0 auto /* width: 643px */ width: 100% margin-top: 25px } .table_content { border-top: 1px solid #e0e0e0 border-left: 1px solid #e0e0e0 font-family: Arial /* width: 643px */ width: 100% margin-top: 10px margin-left: 15px } .table_content tr td { line-height: 29px } .table_content .bg { background-color: #f6f6f6 } .table_content tr td { border-right: 1px solid #e0e0e0 border-bottom: 1px solid #e0e0e0 } .table-left { text-align: left padding-left: 20px } 基本信息 关键内容: 扫描探针 开标时间: 2021-08-06 09:30 采购金额: 250.00万元 采购单位: 暨南大学 采购联系人: 伍先生 采购联系方式: 立即查看 招标代理机构: 广州顺为招标采购有限公司 代理联系人: 李小姐 代理联系方式: 立即查看 详细信息 暨南大学实验技术中心扫描探针显微镜采购(GZSW21156HG3017)招标公告 广东省-广州市 状态:公告 更新时间:2021-07-16 招标文件: 附件1 暨南大学实验技术中心扫描探针显微镜采购(GZSW21156HG3017)招标公告 2021年07月16日 14:48 公告信息: 采购项目名称 暨南大学实验技术中心扫描探针显微镜采购 品目 货物/专用设备/专用仪器仪表/教学专用仪器 采购单位 暨南大学 行政区域 广东省 公告时间 2021年07月16日 14:48 获取招标文件时间 2021年07月16日至2021年07月23日每日上午:9:00 至 12:00 下午:14:30 至 17:30(北京时间,法定节假日除外) 招标文件售价 ¥310 获取招标文件的地点广州市环市中路205号恒生大厦B座501室(广州顺为招标采购有限公司) 开标时间 2021年08月06日 09:30 开标地点 广州市环市中路205号恒生大厦B座501室(广州顺为招标采购有限公司), 预算金额 ¥250.000000万元(人民币) 联系人及联系方式: 项目联系人 伍先生 项目联系电话 020-83592216-822 采购单位 暨南大学 采购单位地址 广州市黄埔大道西601号 采购单位联系方式 020-85220010 代理机构名称广州顺为招标采购有限公司 代理机构地址 广州市环市中路205号恒生大厦B座501室 代理机构联系方式 李小姐 020-83592216 附件: 附件1 项目概况 暨南大学实验技术中心扫描探针显微镜采购 招标项目的潜在投标人应在广州市环市中路205号恒生大厦B座501室(广州顺为招标采购有限公司)获取招标文件,并于2021年08月06日 09点30分(北京时间)前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号:GZSW21156HG3017 项目名称:暨南大学实验技术中心扫描探针显微镜采购 预算金额:250.0000000 万元(人民币) 采购需求: 1、标的名称:扫描探针显微镜 2、标的数量:1套 3、简要技术需求或服务要求:符合招标文件要求4、其他:无 合同履行期限:交货期:国产设备在合同签订后30天内完成交货及安装、调试达验收合格标准;进口设备在合同签订后60天内完成交货及安装、调试达验收合格标准。, 本项目( 不接受 )联合体投标。 二、申请人的资格要求: 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定; 2.落实政府采购政策需满足的资格要求: 无(本项目不属于专门面向中小企业的项目) 3.本项目的特定资格要求:1、投标人应具备《政府采购法》第二十二条规定的条件:(1)具有独立承担民事责任的能力(提供法人或者其他组织的营业执照等证明文件,自然人的身份证明);(2)具有良好的商业信誉和健全的财务会计制度(提供2019或2020年度经会计师事务所审计的财务状况报告或提供基本户开户行出具的资信证明);(3)具有履行合同所必需的设备和专业技术能力(提供书面声明(可参照招标文件“第五部分 投标文件格式”《诚信声明函》)或证明材料);(4)有依法缴纳税收和社会保障资金的良好记录(提供投标截止日期前6个月内任意1个月依法缴纳税收和社会保障资金的相关材料(如依法免税或不需要缴纳社会保障资金的,应提供相应证明材料)); (5)参加政府采购活动前三年内,在经营活动中没有重大违法记录(提供书面声明(可参照招标文件“第五部分 投标文件格式”《诚信声明函》));(6)法律、行政法规规定的其他条件(提供书面声明(可参照招标文件“第五部分 投标文件格式”《诚信声明函》))。2、单位负责人为同一人或者存在直接控股、管理关系的不同供应商,不得参加同一合同项下的政府采购活动(以国家企业信用信息公示系统www.gsxt.gov.cn查询结果为准)。3、为采购项目提供整体设计、规范编制或者项目管理、监理、检测等服务的供应商,不得再参加该采购项目的其他采购活动。4、投标人未被列入“信用中国”网站(www.creditchina.gov.cn)“记录失信被执行人或重大税收违法案件当事人名单或政府采购严重违法失信行为”记录名单;且不处于中国政府采购网(www.ccgp.gov.cn)“政府采购严重违法失信行为信息记录”中的禁止参加政府采购活动期间。(以采购代理机构于投标截止日当天在“信用中国”网站及中国政府采购网查询结果为准,如相关失信记录已失效,投标人需提供相关证明资料)。5、本项目不接受联合体投标。 三、获取招标文件 时间:2021年07月16日 至 2021年07月23日,每天上午9:00至12:00,下午14:30至17:30。(北京时间,法定节假日除外) 地点:广州市环市中路205号恒生大厦B座501室(广州顺为招标采购有限公司) 方式:1、现场报名;2、邮件报名(请与工作人员联系,联系电话:020-83592216)。 售价:¥310.0 元,本公告包含的招标文件售价总和 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 提交投标文件截止时间:2021年08月06日 09点30分(北京时间) 开标时间:2021年08月06日 09点30分(北京时间) 地点:广州市环市中路205号恒生大厦B座501室(广州顺为招标采购有限公司), 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其他补充事宜 1.符合本项目资格要求的供应商以公开报名方式确认其投标资格。请凭单位法定代表人(或负责人)授权委托书到采购代理机构报名(如需邮寄,请与工作人员联系,标书售后不退,国内邮购须另加 60 元人民币)。 2.采购信息发布及结果公告网站: 中国政府采购网(http://www.ccgp.gov.cn/)、 ____(____)、 广州顺为招标采购有限公司网站(http:// www.gzswbc.com)。 七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。 1.采购人信息 名 称:暨南大学 地址:广州市黄埔大道西601号 联系方式:020-85220010 2.采购代理机构信息 名 称:广州顺为招标采购有限公司 地 址:广州市环市中路205号恒生大厦B座501室 联系方式:李小姐 020-83592216 3.项目联系方式 项目联系人:伍先生 电 话: 020-83592216-822 × 扫码打开掌上仪信通App 查看联系方式 $('.clickModel').click(function () { $('.modelDiv').show() }) $('.closeModel').click(function () { $('.modelDiv').hide() }) 基本信息 关键内容:扫描探针 开标时间:2021-08-06 09:30 预算金额:250.00万元 采购单位:暨南大学 采购联系人:点击查看 采购联系方式:点击查看 招标代理机构:广州顺为招标采购有限公司 代理联系人:点击查看 代理联系方式:点击查看 详细信息 暨南大学实验技术中心扫描探针显微镜采购(GZSW21156HG3017)招标公告 广东省-广州市 状态:公告 更新时间: 2021-07-16 招标文件: 附件1 暨南大学实验技术中心扫描探针显微镜采购(GZSW21156HG3017)招标公告 2021年07月16日 14:48 公告信息: 采购项目名称 暨南大学实验技术中心扫描探针显微镜采购 品目 货物/专用设备/专用仪器仪表/教学专用仪器 采购单位 暨南大学 行政区域 广东省 公告时间 2021年07月16日 14:48 获取招标文件时间 2021年07月16日至2021年07月23日每日上午:9:00 至 12:00 下午:14:30 至 17:30(北京时间,法定节假日除外) 招标文件售价 ¥310获取招标文件的地点 广州市环市中路205号恒生大厦B座501室(广州顺为招标采购有限公司) 开标时间 2021年08月06日 09:30 开标地点 广州市环市中路205号恒生大厦B座501室(广州顺为招标采购有限公司), 预算金额 ¥250.000000万元(人民币) 联系人及联系方式: 项目联系人 伍先生 项目联系电话 020-83592216-822 采购单位 暨南大学 采购单位地址 广州市黄埔大道西601号 采购单位联系方式 020-85220010 代理机构名称 广州顺为招标采购有限公司 代理机构地址 广州市环市中路205号恒生大厦B座501室 代理机构联系方式 李小姐 020-83592216 附件: 附件1 项目概况 暨南大学实验技术中心扫描探针显微镜采购 招标项目的潜在投标人应在广州市环市中路205号恒生大厦B座501室(广州顺为招标采购有限公司)获取招标文件,并于2021年08月06日 09点30分(北京时间)前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号:GZSW21156HG3017 项目名称:暨南大学实验技术中心扫描探针显微镜采购 预算金额:250.0000000 万元(人民币) 采购需求:1、标的名称:扫描探针显微镜 2、标的数量:1套 3、简要技术需求或服务要求:符合招标文件要求 4、其他:无 合同履行期限:交货期:国产设备在合同签订后30天内完成交货及安装、调试达验收合格标准;进口设备在合同签订后60天内完成交货及安装、调试达验收合格标准。, 本项目( 不接受 )联合体投标。 二、申请人的资格要求: 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定; 2.落实政府采购政策需满足的资格要求: 无(本项目不属于专门面向中小企业的项目) 3.本项目的特定资格要求:1、投标人应具备《政府采购法》第二十二条规定的条件:(1)具有独立承担民事责任的能力(提供法人或者其他组织的营业执照等证明文件,自然人的身份证明);(2)具有良好的商业信誉和健全的财务会计制度(提供2019或2020年度经会计师事务所审计的财务状况报告或提供基本户开户行出具的资信证明);(3)具有履行合同所必需的设备和专业技术能力(提供书面声明(可参照招标文件“第五部分 投标文件格式”《诚信声明函》)或证明材料);(4)有依法缴纳税收和社会保障资金的良好记录(提供投标截止日期前6个月内任意1个月依法缴纳税收和社会保障资金的相关材料(如依法免税或不需要缴纳社会保障资金的,应提供相应证明材料)); (5)参加政府采购活动前三年内,在经营活动中没有重大违法记录(提供书面声明(可参照招标文件“第五部分 投标文件格式”《诚信声明函》));(6)法律、行政法规规定的其他条件(提供书面声明(可参照招标文件“第五部分 投标文件格式”《诚信声明函》))。2、单位负责人为同一人或者存在直接控股、管理关系的不同供应商,不得参加同一合同项下的政府采购活动(以国家企业信用信息公示系统www.gsxt.gov.cn查询结果为准)。3、为采购项目提供整体设计、规范编制或者项目管理、监理、检测等服务的供应商,不得再参加该采购项目的其他采购活动。4、投标人未被列入“信用中国”网站(www.creditchina.gov.cn)“记录失信被执行人或重大税收违法案件当事人名单或政府采购严重违法失信行为”记录名单;且不处于中国政府采购网(www.ccgp.gov.cn)“政府采购严重违法失信行为信息记录”中的禁止参加政府采购活动期间。(以采购代理机构于投标截止日当天在“信用中国”网站及中国政府采购网查询结果为准,如相关失信记录已失效,投标人需提供相关证明资料)。5、本项目不接受联合体投标。 三、获取招标文件 时间:2021年07月16日 至 2021年07月23日,每天上午9:00至12:00,下午14:30至17:30。(北京时间,法定节假日除外) 地点:广州市环市中路205号恒生大厦B座501室(广州顺为招标采购有限公司) 方式:1、现场报名;2、邮件报名(请与工作人员联系,联系电话:020-83592216)。 售价:¥310.0 元,本公告包含的招标文件售价总和 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 提交投标文件截止时间:2021年08月06日 09点30分(北京时间) 开标时间:2021年08月06日 09点30分(北京时间) 地点:广州市环市中路205号恒生大厦B座501室(广州顺为招标采购有限公司), 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其他补充事宜 1.符合本项目资格要求的供应商以公开报名方式确认其投标资格。请凭单位法定代表人(或负责人)授权委托书到采购代理机构报名(如需邮寄,请与工作人员联系,标书售后不退,国内邮购须另加 60 元人民币)。 2.采购信息发布及结果公告网站: 中国政府采购网(http://www.ccgp.gov.cn/)、 ____(____)、 广州顺为招标采购有限公司网站(http:// www.gzswbc.com)。 七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。 1.采购人信息 名 称:暨南大学 地址:广州市黄埔大道西601号联系方式:020-85220010 2.采购代理机构信息 名 称:广州顺为招标采购有限公司 地 址:广州市环市中路205号恒生大厦B座501室 联系方式:李小姐 020-83592216 3.项目联系方式 项目联系人:伍先生 电 话: 020-83592216-822
  • 一文解读扫描探针显微镜拓展模式(一)
    01MFM(Magnetic Force Microscopy,磁力显微镜)磁力显微镜(Magnetic Force Microscopy,MFM)是一种专门用于成像样品表面的磁性分布的扫描探针显微镜,通过探针和样品之间的磁力相互作用来获得信息。MFM应用MFM主要用于研究材料的磁性特征,广泛应用于物理学、材料科学、电子学等领域。常见的应用包括:磁记录介质:研究硬盘、磁带等磁记录设备的磁性结构和缺陷;磁性材料:分析磁性薄膜、纳米颗粒、磁性多层膜等材料的磁畴结构;生物磁性:研究生物组织中天然存在的磁性物质,如磁性细菌。应用实例在自旋存储研究中,以斯格明子的研究为例,传统的磁存储单元受限于材料性质,显著影响自旋存储的高密度需求。斯格明子是一种具有拓扑性质的准粒子,其最小尺寸仅为3nm,远小于磁性隧道结,是理想的信息载体,有望突破信息存储密度的瓶颈。下图为通过MFM表征获取的斯格明子图像。[1]标准斯格明子M-H曲线 斯格明子图像在磁盘研究中,通过MFM可以获取磁盘表面的高分辨率磁性图像,详细了解其磁畴结构和分布情况。MFM具有高空间分辨率和灵敏度,为磁盘材料的研究和优化提供了重要的数据支持。下图展示了通过MFM测试获取的磁盘表面磁畴结构图像。电脑软盘磁畴图像02PFM(Piezoresponse Force Microscopy,压电力显微镜)压电力显微镜(Piezoresponse Force Microscopy,PFM)是一种用于研究材料压电性质的扫描探针显微镜,利用探针与样品表面之间的逆压电效应来成像和测量材料的压电响应。材料由于逆压电效应产生形变示意图 [2]PFM应用PFM广泛应用于材料科学和电子学领域,尤其是在研究和开发新型压电材料和器件方面。具体应用包括:铁电材料:研究铁电材料的畴结构、开关行为和退极化现象。压电器件:分析压电传感器、致动器和存储器件的性能。生物材料:研究生物组织中的压电效应,例如骨骼和牙齿。应用实例具有显著的压电效应,即在外加机械应力作用下产生电荷。这使其在超声波发生器、压电传感器和致动器中具有重要应用。在研究PbTiO3样品时,通过PFM,可以获取PbTiO3表面的高分辨率压电响应图像,详细了解其畴结构和分布情况,为PbTiO3材料的研究和优化提供了重要的数据支持。下图展示了通过PFM测试获取的PbTiO3样品表面压电力图像。PbTiO3垂直幅度图PbTiO3垂直相位图03EFM(Electrical Force Microscopy,静电力显微镜)静电力显微镜是一种用于测量成像样品表面的电静力特性的扫描探针显微镜。EFM通过探针与样品表面之间的静电力相互作用,获取表面电荷分布和电势信息。静电力显微镜(抬起模式)[3]EFM应用EFM广泛应用于材料科学、电子学和纳米技术等领域,常见的应用包括:电荷分布:测量和成像材料表面的电荷分布。表面电势:研究材料表面的电势分布和电特性。半导体器件:分析半导体器件中的电特性和缺陷。纳米电子学:研究纳米级电子器件的电性能。应用实例Au-Ti条带状电极片静电力04KPFM(Kelvin Probe Force Microscopy,开尔文探针力显微镜)KPFM是一种通过探针与样品之间的接触电势差来获取样品功函数和表电势分布的扫描探针显微镜。KPFM广泛应用于金属、半导体、生物等材料表面电势变化和纳米结构电子性能的研究。KPFM 获取 Bi-Fe薄膜样品表面电势 [4]KPFM应用KPFM在材料科学、电子学和纳米技术等领域具有广泛的应用,常见的应用包括:表面电势分布:测量和成像材料表面的局部电势分布。功函数测量:研究材料的功函数变化,特别是对于不同材料的界面和缺陷。半导体器件:分析半导体器件中的电势分布和电学特性。有机电子学:研究有机半导体和有机电子器件的表面电势。应用实例Au-Ti条带状电极片表面电势05SCM(Scanning Capacitance Microscopy,扫描电容显微镜)扫描电容显微镜(Canning Capacitance Microscopy,SCM)是一种用于测量和成像样品表面的电容变化的扫描探针显微镜。SCM能够通过探针与样品表面之间的电容变化,提供高分辨率的局部电学特性图像。这种显微镜适用于研究半导体材料和器件的电学特性,如掺杂浓度分布、电荷分布和界面特性等。SCM在半导体工艺和材料研究、故障分析以及器件优化中发挥着重要作用。通过SCM,研究人员能够获得纳米尺度的电学特性信息,从而推动半导体技术的发展和创新。SCM原理示意图 [5]SCM应用SCM主要应用于半导体材料和器件的研究,广泛应用于电子学和材料科学领域。具体应用包括:掺杂分布:测量和成像半导体材料中的掺杂浓度分布。电荷分布:研究半导体器件中的电荷分布和电场。材料特性:分析不同材料的电容特性和介电常数。06致真精密仪器自主研发的原子力显微镜科研级原子力显微镜AtomEdge产品介绍利用微悬臂探针结构对导体、半导体、绝缘品等固体材料进行三维样貌表征,纵向噪音水平低至0.03 nm(开环),可实现样品表面单个原子层结构形貌图像绘制。可以测量表面的弹性、塑性、硬度、黏着力、磁性、电极化等性质,还可以在真空,大气或溶液下工作,在材料研究中获得了广泛的使用。设备亮点● 多种工作模式● 适配环境:空气、液相● 多功能配置● 稳定性强● 可拓展性良好典型案例晶圆级原子力显微镜Wafer Mapper-M产品介绍利用微悬臂探针结构可对导体、半导体、绝缘品等固体材料进行三维样貌表征。样品台兼容12寸晶圆,电动样品定位台与光学图像相结合,可在300X300mm区域实现1μm的定位精度,激光对准,探针逼近和扫描参数调整完全自动化操作。可用于产线,对晶圆粗糙度进行精密测试。设备亮点● 多种工作模式● 适配环境:空气、液相● 可旋转式扫描头● 多功能配置● 稳定性强、可拓展性良好典型案例参考文献:[1]Li S, Du A, Wang Y, et al. Experimental demonstration of skyrmionic magnetic tunnel junction at room temperature[J]. Science Bulletin, 2022, 67(7): 691-699.[2]Kalinin SV, Gruverman A, eds. Scanning Probe Microscopy: Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale. Springer 2007.[3] https://www.afmworkshop.com/products/modes/electric-force-microscopy[4] https://www.ornl.gov/content/electrostatic-and-kelvin-probe-force-microscopy[5] Abdollahi A, Domingo N, Arias I, et al. Converse flexoelectricity yields large piezoresponse force microscopy signals in non-piezoelectric materials[J]. Nature communications, 2019, 10(1): 1266.本文由致真精密仪器原创,转载请标明出处致真精密仪器拥有强大的自主研发和创新能力,产品稳定精良,多次助力中国科研工作者取得高水平科研成果。我们希望与更多优秀科研工作者合作,持续提供更加专业的技术服务和完善的行业解决方案!欢迎联系我们!致真精密仪器一直以来致力于实现高端科技仪器和集成电路测试设备的自主可控和国产替代。通过工程化和产业化攻关,已经研发了一系列磁学与自旋电子学领域的前沿科研设备,包括“原子力显微镜、高精度VSM、MOKE等磁学测量设备、各类磁场探针台、磁性芯片测试机等产线级设备、物理气相沉积设备、芯片制造与应用教学训练成套系统等”等,如有需要,我们的产品专家可以提供免费的项目申报辅助、产品调研与报价、采购论证工作。另外,我们可以为各位老师提供免费测试服务,有“磁畴测试”、“SOT磁畴翻转”、“斯格明子观测”、“转角/变场二次谐波”、“ST-FMR测量”、“磁控溅射镀膜”等相关需求的老师,可以随时与我们联系。

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扫描力探针相关的仪器

  • 扫描NV探针显微镜SNVM 扫描NV探针显微镜(Scanning nitrogen-vacancy probe microscope,SNVM)是一款结合了金刚石氮-空位色心(Nitrogen-Vacancy, NV)光探测磁共振(Optically Detected Magnetic Resonance, ODMR)技术和原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)扫描成像技术的量子精密测量仪器,可实现对磁性样品高空间分辨率、高灵敏度、定量无损的磁成像。应用领域测试案例
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  • 仪器简介: MultiMode平台是世界上应用最广泛的扫描探针显微镜(SPM),已经在全球成功安装使用了近万套。它的成功基于其领先的高分辨率和高性能,无与伦比的多功能性,以及已经得到充分证实的效率和可靠性。现在,MultiMode扫描探针显微镜以其独特的ScanAsyst模式,采用其先进的自动图像优化技术,使得用户无论具备什么技能水平,也能在材料科学,生命科学,聚合物研究领域的研究中最迅速地获得符合要求的研究成果。 SPM的控制电路也是影响性能的重要因素,第五代的NanoScope V控制器具有先进的数字架构:具有高数据带宽,低噪声数据采集和无与伦比的数据处理能力。布鲁克的最先进的技术已经开创工业上的新标准,例如:ScanAsyst 模式 & PeakForce QNM 模式。 Multimode 的加热和制冷装置能对样品进行加热与制冷,适合于生物学,聚合物材料以及其他材料研究应用。采用加热和制冷装置后MULTIMODE 可在零下35º C到250 º C范围内对样品进行温度控制;并可以在水,溶液或缓冲剂的液体环境中进行扫描。当在气体环境下对样品进行扫描时,采用环境控制舱可以在大气压标准下控制环境气体的成分。技术参数:1. 显微镜:多种可选Multimode SPM扫描头AS-0.5系列:横向(X-Y)范围0.4µ m× 0.4µ m,竖直(Z)范围0.4µ mAS-12系列:横向(X-Y)范围10µ m× 10µ m,竖直(Z)范围2.5µ mAS-130系列:横向(X-Y)范围125µ m× 125µ m,竖直(Z)范围5.0µ mPF50:横向(X-Y)范围40µ m× 40µ m,竖直(Z)范围20µ m2. 噪声:垂直(Z)方向上的RMS值<0.3埃 (带防震系统的测量值)3. 样品大小:直径&le 15mm, 厚度&le 5mm4. 针尖/悬臂支架: 空气中轻敲模式/接触模式(标准) 液体中轻敲模式/力调制(可选) 空气中力调制(可选);电场模式(可选) 扫描热(可选-需要大的光学头或者外加的应用组件) STM转换器(可选) 低电流STM转换器(可选);接触模式液体池(可选) 电化学AFM或STM液体池(可选) 扭转共振模式(可选)5. 防震和隔音: 硅胶共振模式(可选) 防震三脚架(可选) ;防震台(可选) 集成的防震台和隔音罩(可选)主要特点:1. 世界上最高的分辨率2. 出众的扫描能力3. 优异的可操作性4. 非凡的灵活性与功能性5. 无限的应用扩展性Multimode可以实现全面的SPM表面表征技术,包括: 轻敲模式(Tapping Mode AFM) 接触模式(Contact Mode AFM) 自动成像模式(ScanAsyst) 相位成像模式(Phase Imaging) 横向力术模式(laterial Force Microscopy, LFM) 磁场力显微术(Magnetic Force Microscopy, MFM) 扫描隧道显微术(Scanning Tunneling Microscopy, STM) 力调制(Force Modulation) 电场力显微术(Electric Force Microscopy, EFM) 扫描电容扫描术(Scanning Capacitance Mcroscopy, SCM) 表面电势显微术(Surface Potential Microscopy) 力曲线和力阵列测量(Force-Distance and Force Volume Measurement) 纳米压痕/划痕(Nanoindenting/Scratching) 电化学显微术(Electrochemical Microscopy, ECSTM and ECAFM) 皮牛力谱(PicoForce Force Spectroscopy) 隧道原子力显微术(Tunneling AFM, TUNA) 导电原子力显微术(Conductive AFM, CAFM) 扫描扩散电阻显微术(Scanning Spreading Resistance Microscopy, SSRM) 扭转共振模式(Torsional Resonance mode, TR mode) 压电响应模式(Piezo Respnance mode, PR mode) 其他更多模式.... 布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑Bruker Nano Surfaces YouKu Channel &mdash 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频,观看最新的AFM产品和相关技术进展,以及历届网络研讨会和培训资料,精彩内容持续更新中!布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces 北京办公室 北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室上海办公室 上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼E-mail: 产品咨询热线:
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  • 仪器简介:Innova扫描探针显微镜(SPM)具有高扫描分辨率、出色品质,可应用于物理、生命科学和材料科学等诸多领域。Innova具有很强的灵活性,能以较低成本满足各种科研应用要求。采用独一无二的闭环扫描线性系统,卓越的设计及工艺确保测量精度以及接近于开环运行时的噪音水平。Innova可以轻松的在90微米扫描管上实现原子级分辨率。集成的高分辨率彩色光学系统,以及可编程和电动Z轴载物台,使得寻找、对准被测区域,更换针尖或样品更加快速简便。技术参数:闭环扫描管:XY 90 &mu m,Z 7.5 &mu m开环扫描管:XY 5 &mu m, Z 1.5 &mu m样品尺寸: X-50 mm x 50 Y-mm x Z-18 mm电动Z轴载物台:Z轴行程: 18mm光学系统: 摄像头: 轴线彩色CCD,带电动变焦视场: 1.24mm x0.25mm (电动变焦,10x物镜)分辨率: 2&mu m,标准10x物镜(50x物镜0.75&mu m)电子电路:20位DAC控制器,100kHz、± 10v ADCs,数字反馈器件系统软件:用于数据采集和分析的SPMLab&trade v7.0,Windows® XP主要特点:Innova在同类SPM中,性价比最高· 独有的闭环扫描控制,在开环噪声水平上提供三维精确测· 高分辨光学系统辅助精确探针定位· 快速更换探针, 开放的样品台设计使得使用更方便,更容易· 拥有所有SPM操作模式,为科学研究提供更高的应用灵活性· 卓越的信号读录与输入功能便于用户自己设计研究方法 布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑Bruker Nano Surfaces YouKu Channel &mdash 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频,观看最新的AFM产品和相关技术进展,以及历届网络研讨会和培训资料,精彩内容持续更新中!布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces 北京办公室 北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室电话: 传真:上海办公室 上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼E-mail: 产品咨询热线:
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扫描力探针相关的耗材

  • 大面积扫描开尔文探针系统配件
    大面积扫描开尔文探针系统配件能够在垂直方向移动开尔文探针实现电动控制开尔文探针与样品的距离。 样品安装到真空吸盘上,真空吸盘可带着样品移动150x150mm位移,从而实现开尔文扫描探针系统大面积扫描样品表面。大面积扫描开尔文探针系统配件特色: 电动控制开尔文探针与样品的距离 电动控制样品XY移动范围150 mm x 150 mm 具有编码器的主动定位定位追踪系统 Z方向步进大小: 625 nm X - and Y-方向: 5 μm / microstep 功函分辨率:: 1 meV with 1.4 mm tip diameter on metals 最小的探针直径: 0.1 mm 集成法拉第防护功能 框架表面镀金 开尔文探针头采用纯金工艺 最大外形尺寸: 50 cm (W) x 60 cm (D) x 25 cm (H) 最大样品尺寸: 150 mm x 150 mm 真空样品吸盘 包含参考样品标准: HOPG, Au on Si, Al/Au-edge, Potential Check 可选配温度和湿度传感器
  • 高分辨率扫描探针显微镜配件
    高分辨率扫描探针显微镜配件是欧盟革命性的高分辨率扫描探针显微镜,SPM显微镜, 它具有目前世界上最为紧凑的机构构成,同时可作为扫描探针显微镜和原子力显微镜使用。高分辨率扫描探针显微镜配件有不同类型的纳米定位平台,包括各种扫描位移台,以确保用户大面积扫描样品,扫描探针显微镜具有最佳的多功能性,可提供EFM, MFM, STM, Phase Imaging, CAFM, KPM 等诸多模式供用户使用。 高分辨率扫描探针显微镜配件特色双光学样品观察(正置和倒置)扫描尺度高达 250 μm全自动样品拾取X-Y 扫描尺寸100 x 100μm (高压模式) 10 x 10 μm (低压模式)高电压模式闭环分辨率: 2 nm高电压模式开环分辨率: 0.2 nm闭环线性: 0.1%.Z 方向扫描尺寸:10 μm (高压模式)1 μm (l低压模式)分辨率: 0.16 nm (高压模式), 0.02 nm (低压模式)高分辨率扫描探针显微镜配件特色 适合样品大小: 可容纳不同结构的直径最高达到30mm的样品。扫描探针显微镜控制系统: 数字控制器和模拟反馈系统,具有高分辨率和低噪音的特点。扫描探针显微镜,SPM显微镜采集软多窗口应用的基于Windows 系统开发的软件,控制所有的硬件工作。
  • 单点开尔文扫描探针系统配件
    单点开尔文探针系统配件是全球首款用于室温条件和普通实验室条件下的系统,具有极为紧凑结构,可安放到各种环境箱或防尘罩中,探针头与振荡薄膜一起使用,预放大器集成到探针头中,方便更换。 单点开尔文扫描探针系统配件参数 探针与样品表面之间采用电动控制调节距离 Z轴定位分辨率: 5 μm 功函分辨率: 1 meV with 1.4 mm tip diameter on metals 最小的探针直径: 0.1 mm 集成法拉第防护功能 开尔文探针头采用纯金工艺,底板表面镀金 样品架磁性固定到底板上 样品架直径:40mm 带有 3 mm 孔用于标准SEM样品架子 最大可测样品尺寸: 100 mm x 100 mm (mounted on Base plate) 振动隔离腿设计 包括参考样品材料: HOPG, Au on Si 配备汤姆森控制器和计算机 可选配温度和湿度传感器
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