电子显微学年会

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电子显微学年会相关的资讯

  • 2013北京电子显微学年会会议日程公布
    为推动北京及周边省市广大电子显微学的学术及技术水平，促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流，一年一度的新老朋友相互聚会的&ldquo 2013年度北京市电子显微学年会&rdquo 定于2013年12月24号，星期二，在北京西直门外大街138号，北京天文馆B楼二层4D科普剧场(北京动物园斜对面)准时召开。届时将安排有关专家学者做先进的电子显微学报告。同时还安排多家仪器厂商介绍最新仪器设备和相关的应用技术进展。 　　具体事项通知如下：(学术报告时间安排表见后) 　　1、会议日期及报到时间： 　　会议日期及时间：2013年12月24日(星期二)。上午8：00至下午4：00。 　　报到时间：2013年12月24日(星期二)。上午8：00---8：40 　　2、会议地点：北京西直门外大街138号，北京天文馆B楼二层4D科普剧场 　　3、乘车路线：可乘公交7、15、19、65、102、103、332、334、360快、362、534、812、714、716、732、808、814、运通104、运通105、特4、特5、特27路动物园站下，西行20米路南即到。也可乘地铁4号线动物园站下，西南D出口，即到。 　　4、会议将根据实际报名情况，准备好相关资料和礼品，并提供午餐及饮料等 　　特邀请您及您的老师、同事、学生参加，并一定在2013年12月20日前用EMAIL邮件发到：yujing8855@126.com告知。 　　5、会议负责人的具体联系地址、联系电话、邮箱如下： 　　A. 北京理化分析测试技术学会：于靖琦：68731259，13521470325。yujing8855@126.com 　　B. 北京市电镜学会：郑维能：13671116332，nu_zhengweineng@163.com 　　C. 北京市电镜学会：张德添：13366267269,zhangdetian2008@126.com 　　北京市电镜学会 　　北京理化分析测试技术学会 　　2013年11月25日 　　2013年度北京市电子显微学年会学术报告时间安排表 (2013年12月24日、星期二、北京天文馆B楼二层4D科普剧场) 时 间 会议 主持人 报告人或 单位、公司 报 告 题 目 8；00&mdash 8：50 桂三刚 组委会、各公司会议报到。资料发放等。 8；50&mdash 9：10 郑维能 孙 飞 张德添 中科院理化所孟祥敏 ZnO/ZnS核壳结构的制备与结构表征。 9：10&mdash 9：30 刘明翠，科扬。 Gatan最新离子束制样设备介绍。 9：30&mdash 9：50 陈青山，电子 日本电子扫描电镜介绍。 9：50&mdash 10：10 王素霞，北大医学部 电镜和免疫电镜在淀粉样变性病诊断和分型中作用。 10：10&mdash 10：30 会间休息。 10：30&mdash 10：50 孙异临 沈大娲 邓平晔 肖思群，FEI。 FEI公司新一代场发射透射电镜。 10：50&mdash 11：10 黄江汉，TCSCAN TESCAN最新技术。 11：10&mdash 11：30 张跃飞，北工大。 扫描电子显微镜与扫描探针显微镜联合系统的开发及应用研究。 11：30&mdash 11：50 赵生娜。蔡司。 蔡司公司显微镜技术最新进展。 11：50&mdash 13：00 于靖琦 午餐、休息、交流 13：00&mdash 13：20 李建奇 王素霞 何其华 陈振宇周剑雄。 微束标委会。 X射线能谱分析的三个最新标准。 13：20&mdash 13：40 刘军涛。布鲁克。 布鲁克公司5on1微分析系统。 13：40&mdash 14：00 孟均，牛津。 牛津仪器最新显微分析平台&mdash &mdash Aztec 14：00&mdash 14：20 许萍。北京建筑大学。 生活饮用水中微生物及沉积物电镜形态观察与现实意义。 14：20&mdash 14：40 周 涛 张德添 郑维能 顾群，天美。 日立超高分辨扫描电镜的最新进展。 14：40&mdash 15：00 杨春，钢研总院。 事关国际民生失效分析的电镜形态观察与现实意义。 15：00&mdash 15：30 于靖琦。 免费观看最新4D影片。 15：30&mdash 16：00 桂三刚 电子显微科学技术及新老朋友自由交流。 公司回答有关技术问题。宣布会议圆满结束。
    时间： 2013-12-23
    作者： 秦丽娟
  • 飞纳电镜参加 2016 年度北京市电子显微学年会
    2016 年 12 月 20 号, 飞纳电镜参加了在北京天文馆 B 楼二层 4D 科普剧场召开的 2016 年度北京市电子显微学年会，此次会议是为推动北京及周边省市广大电子显微学的学术及技术水平，促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流而举办的年度盛会。飞纳电镜此次携带了多款扫描电镜产品中电镜能谱一体机 Phenom Pro X 出席了此次盛会！电子显微学年会门口一景飞纳台式扫描电镜 Phenom Pro X 飞纳台式扫描电镜展位 飞纳电镜此次除了携带扫描电镜系列产品 Phenom Pro X 出席此次盛会进行展览外，飞纳电镜的应用工程师李淑波还为广大从事显微镜事业的工作者献上了题为“飞纳电镜——解放时间、空间和你”的专题报告，详细为大家介绍了飞纳电镜15秒抽真空，快速成像，防震性能好等多项适合学校分析中心的性能。 飞纳台式扫描电镜报告现场感谢北京市电子显微学给飞纳台式扫描电镜提供的此次交流和展示的机会，飞纳电镜的产品今后会更致力于解放分析测试中心工作人员！
    时间： 2016-12-25
    作者： 复纳科学仪器
  • 2011年度北京市电子显微学年会会议通知
    2011年度北京市电子显微学年会会议最新通知： 　　由于北京天文馆4D 科普剧场正在装修，特更改会议场地和会议时间。 　　[原会议时间：2011年12月20日]—现更改为[2011年12月21日] 　　[原会议地点：北京天文馆]—现更改为[国家图书馆 北京北图文化发展中心 国图音乐厅] 　　给您带来不便，敬请谅解。如能按时参会，请务必回复，如有疑问，请及时电话联系。 　　电话：010-68436471-801 　　手机：13426184802 　　QQ：921199363 2011年12月13日 2011年度北京市电子显微学年会会议通知 尊敬的各位老师、电镜同行、同学们：你们好! 　　为推动北京及周边省市广大电子显微学的学术及技术水平，促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流，一年一度的新老朋友相互聚会的“2011年度北京市电子显微学年会”。定于2011年12月20号，星期二，在北京西直门外大街138号，北京天文馆B楼二层4D科普剧场(北京动物园斜对面)准时召开。届时将安排有关专家学者做先进的电子显微学报告。同时还安排多家仪器厂商介绍最新仪器设备和相关的应用技术进展。 　　具体事项通知如下：(学术报告时间安排表见后) 　　1、会议日期及报到时间： 　　会议日期及时间：2011年12月20日(星期二)。上午8：00至下午4：00。 　　报到时间：2011年12月20日(星期二)。上午8：00---8：50 　　2、会议地点：北京西直门外大街138号，北京天文馆B楼二层4D科普剧场。 　　3、乘车路线：可乘公交7、15、808、19、65、102、103、332、334、360快、812、714、716、732、808、814、运通104、运通105、特4、特27路动物园站下，西行20米路北即到。也可乘地铁4号线动物园站下，西南D出口，即到。 　　4、会议将根据实际报名情况，准备好相关资料和礼品，并提供午餐及饮料等。 　　特邀请您及您的老师、同事、学生参加。并一定在2011年12月10日前用EMAIL邮件发到：spnh88@126.com告知。 　　5、会议负责人的具体联系地址、联系电话、邮箱如下： 　　A. 北京理化分析测试技术学会：马亚莉：010-68436471-801 13426184802 spnh88@126.com 　　B. 北京市电镜学会：郑维能：13671116332，68902655-801(办)，Cnu_zhengweineng@163.com 　　C. 北京市电镜学会：张德添：13366267269,zhangdetian2008@126.com 　　北京市电镜学会(学术活动专用章) 　　北京理化分析测试技术学会 　　2011年11月14日 　　回执用EMAIL发回spnh88@126.com告知。 姓名 单位 通讯地址 EMAIL 联系电话 　　2011年度北京市电子显微学年会 　　学术报告时间安排表 　　(2011年12月20日、星期二、北京天文馆B楼二层4D科普剧场) 时 间 会议 主持人 报告人或 单位、公司 报 告 题 目 8；00—8：50 桂三刚 组委会、各公司 会议报到。资料发放等。 8；50—9：10 郑维能 张德添 俞大鹏、北京大学。 北大物理学院电镜室在北大科研与教学中的突出 贡献。 9：10—9：30 刘凌玉，科扬。 Gatan公司最新扫描电镜配套设备。 9：30—9：50 刘军涛，布鲁克。 布鲁克TEM电致冷能谱的最新进展。 9：50—10：10 沈大娲， 中国文化遗产研究院。 扫描电镜在文物保护中的应用。 10：10—10：30 会间休息。 10：30—10：50 朱衍勇 孙异临 李树强，钢研院。 GL-69离子减薄仪的最新进展。 10：50—11：10 顾群，天美。 日立最新超高分辨扫描电子显微镜介绍。 11：10—11：30 周 涛、 军事医学科学院。 炎症调控分子CUEDC2与乳腺癌患者对内分泌治疗 耐药性的关系。 11：30—11：50 韩伟，FEI。 FEI电镜产品的最新进展。 于靖琦 等。 11：50—13：00 午餐、休息、交流。 13：00—13：20 吉 元 唐军民 高思田、中国计量 科学研究院。 电子显微技术方法在我国计量科学研究中的应用 与前景展望。 13：20—13：40 唐圣明，蔡司。 蔡司显微镜的产品及特点。 13：40—14：00 张丽娜、清华大学。 超顺排碳纳米管在电子显微表征及其他领域的应用研究。 14：00—14：20 童艳丽，莱卡。 徕卡电镜制样技术新产品简介。 14：20—14：40 李建奇 张德添 孟丽君，牛津。 牛津仪器新一代材料微观分析平台：Aztec 14：40—15：00 孙异临，北京神外所。 电镜在神经系统疾病诊断和研究中的应用。 15：00—15：30 于靖琦。 免费观看最新4D影片。 15：30—16：00 张德添 桂三刚 电子显微科学技术及新老朋友自由交流。 公司回答有关技术问题。宣布会议圆满结束。 北京市电镜学会、北京理化分析测试技术学会 2011年12月20日
    时间： 2011-11-16
    作者： WEI
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电子显微学年会相关的方案

  • 电子显微镜技术
    目前，电子显微镜技术(electron microscopy)已成为研究机体微细结构的重要手段。常用的有透射电镜 (transmission electron microscope，TEM)和扫描电子显微镜(scanning electron microscope,SEM)。与光镜相比电镜用电子束代替了可见光，用电磁透镜代替了光学透镜并使用荧光屏将肉眼不可见电子束成像。
  • 扫描电子显微镜图像系统改造方法
    扫描电子显微镜是观察物质微观表面形貌的主要工具，它主要由真空系统、电子光学系统、图像系统和控制系统组成。现代扫描电子显微镜图像显示系统和控制系统都已经实现PC控制下的数字化，同时增加了图像处理功能，能够容易的与通用软件相结合，方便编辑报告、论文和信息传送。对于早期模拟图像系统和专用计算机控制的数字图像系统的扫描电子显微镜可以通过外接计算机图像采集系统实现模拟图像数字化，或图像系统数字化。什么是模拟图像数字化？就是将获取的图像模拟信号经过模数转换器（ADC）变成数据输入到计算机中存储、显示和处理。根据这种原理制成的图像系统，就是我们常说的被动式图像系统。其优点：采集卡电路简单，价格便宜。缺点：安装、调试困难，因为它需要和扫描电子显微镜的扫描系统同步，所以要改变原扫描电子显微镜内部电路，稍不小心就会造成事故，给扫描电子显微镜带来硬伤。另外，由于不能和扫描电子显微镜扫描真正同步，采集到的图像变形，最为明显的是圆变为椭圆，同时不能实时处理，只有将采集到的图像存储以后进行处理，才可以输出。什么是图像系统数字化？用数字扫描系统替代模拟扫描系统，由此获取的图像信号数据，完全对应电子束扫描点上的样品信息，图像显示分辨率对应电子束在样品上扫描过的行和列的点数，图像扫描和图像显示全数字化。需要说明的是现代数字扫描电子显微镜自定义分辨率值为：1024×1024，这是一个最佳值（从采集速度和分辨率两方面考虑），这和被动式图像系统所谓的图像分辨率不是一个概念。我们称这样的系统为主动式图像系统，国外升级扫描电子显微镜也是采用此种方法。其优点：图像质量高，速度快，不会产生图像变形等问题，安装简单，因为所有扫描电子显微镜都预留有外部图像控制接口，当外部控制信号到来时，内部扫描部分自动被旁路，显示部分被消隐，不需要改变任何内部电路结构。缺点：采集卡电路复杂，成本高。 综述，以上介绍了两种扫描电子显微镜改造图像系统的方法，最主要的区别在于是“被动式图像系统”还是“主动式图像系统”上，其中主动式图像系统是近年来国际上普遍使用的，因为被动式图像系统是一种早期图像数字化过渡产品，所谓的图像分辨率实质上是模拟信号取样点数，并非数字图像分辨率，像质较差，而主动式图像系统标称的分辨率才真正是数字图像分辨率，可以有效提高图像质量。
  • 环境扫描电子显微镜的成像特点
    环境扫描电子显微镜(ESEM)中所指的环境并非真正意义上的大气环境(760Torr)，与传统扫描电子显微镜(SEM)样品室高真空库相比，ESEM 样品室的真空度可以很低(约达 20 Torr)。ESEM 是在传统的SEM 样品室中多一个 GSED 探头，因此，它在传统的 SEM 基础上增添了新的功能。其主要的特点是，可以观察合适量水分的样品和非导体材料样品，比如植物的叶片、动物中的昆虫、作物的籽粒、含结晶水的固体材料等。
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  • 【转帖】2010年全国电子显微学会议及征文通知（第一轮）

    [table=640][tr][td=2,1]2010年全国电子显微学会议及征文通知（第一轮）[/td][/tr][tr][td=2,1][color=#999999]浏览次数：120（2010-4-1） 双击自动滚屏[/color][/td][/tr][tr][td=2,1]一、2010年全国电子显微学会议通知2010年我们将庆祝中国电子显微镜学会成立三十周年！这三十年来，随着中国改革开放的不断深入，中国的电子显微学事业也有了飞跃发展，我国电子显微学领域的研究工作已开始步入世界相关学科前沿行列中。许多老科学家为中国电镜事业的发展奉献了他们毕生的精力！学会决定于2010年秋季召开全国电子显微学学术研讨会，以此庆贺中国电子显微镜学会成立三十周年。大会将特别邀请国际、国内显微学及相关科学领域著名学者做特邀报告，以使我国相关领域的广大电镜工作者和青年学生获得与这些著名学者直接交流的机会。大会将邀请相关仪器设备的厂商做电镜和其他仪器的最新发展介绍及产品展示。大会的学术交流内容包括透射电子显微镜、扫描电子显微镜、微束分析、扫描探针显微镜（包括STM、AFM等）、激光共聚焦显微镜等在物理学、材料科学、纳米科技、生命科学、化学化工、环境科学、地学等领域中的基础和应用研究成果；显微学相关仪器的理论、技术和实验方法的发展与改进；电镜及其它显微学仪器的使用、改进与维修经验的交流等。二、征文1. 征文内容：（1）透射电子显微镜、扫描电子显微镜、微束分析仪器、扫描探针显微镜（含扫描隧道显微镜，原子力显微镜等）、激光共聚焦显微镜等在物理学、材料科学、生命科学、医学、农林、化学化工、地学、环境科学等研究领域和生产中的应用。（2）电子显微镜、微束分析仪器、扫描探针显微镜（含扫描隧道显微镜，原子力显微镜等）、激光共聚焦显微镜等仪器设备相关的理论研究，新产品研制，性能改进，软件开发等。（3）显微学的图像处理的理论研究，仪器设备及软件研发。（4）显微学样品制备的仪器，制样方法和技术的研发与改进。（5）显微学仪器的管理、使用及维修方面的经验。会议将以大会邀请报告，分会场报告，专题讨论，论文展示（poster）等形式进行。2. 论文的体裁、格式、版面要求 (1) 应征论文应主题突出、数据可靠、论证严密、图像清晰、文句简练。要求提供论文详细摘要稿1份（原稿），同时请提供论文全文稿1份（原稿）。来稿同时用电子邮件发至编辑部（E-mail：dzxwxb@blem.ac.cn）（格式见《电子显微学报》征稿简则，请登录学报网页查看：www.dzxwxb.ac.cn）。论文摘要供会议论文（摘要）集刊用。论文全文将择优录用刊载于《电子显微学报》。 (2) 对论文要求： 入选论文摘要稿将汇编成《2010年全国电子显微学年会论文集》，单独印刷出版，不再属《电子显微学报》。论文集为大16开本，文稿全部内容排在170mm×240mm的版面内，每篇论文摘要可占1~2个版面，所附图片要求另用A4白纸剪裁整齐，规范排好。附英文题目、作者单位及作者姓名的汉语拼音。文集将在会议前出版。（参阅历届全国电子显微学会议出版的论文摘要集的版面格式） 择优选用的论文全文稿将在《电子显微学报》以正刊形式于2010年内发表。 要求有详细的英文摘要。 (3) 来稿由学术委员会组织专家审阅，根据文章水平及图片质量择优选用。来稿不论选用与否，概不退回。 (4) 征文截稿日期为2010年4月15日，以邮戳为准。来稿请写明联系人的姓名、地址、邮编、电话（含手机）及E-mail地址等。论文稿请寄“北京市中关村北二条13号，中国电子显微镜学会2010年全国电子显微学会议秘书处，邮编100190”。过时恕不受理。 联系电话：010-82671519（编辑部）；010-82673560（秘书处） E-mail：dzxwxb@blem.ac.cn 中国电子显微镜学会“2010年全国电子显微学会议”秘书处2010年12月28日 附《电子显微学报》介绍 ☆中国科学引文数据库来源期刊（CSCD）（核心库期刊） ☆中国学术期刊综合评价数据库来源期刊（CAJCED） ☆中国期刊全文数据库全文收录（CJFD） ☆中国自然科学核心期刊（北京大学图书馆） ☆美国化学文摘CA 收录 ☆俄罗斯文摘杂志AJ 收录 [/td][/tr][/table]

  • 【分享】分析电子显微学导论 课件共享

    《分析电子显微学导论》作者：戎咏华 王晓东 黄宝旭 李 伟出版社：高等教育出版社 分析电子显微学是揭示材料介观和微观世界的有力工具，它能对材料显微组织的形貌、结构、成分进行三位一体的原位分析，是材料研究的重要现代技术之一。本书是材料科学与工程专业硕士生的课程教材。全书共分六章，内容包括分析电子显微镜的构造及其功能，样品的制备方法，电子衍射花样的特征和标定方法，晶体衍射中的数学处理，电子衍射衬度运动学和动力学理论及其应用，高分辨和高空间分析电子显微术的原理和应用以及分析电子显微学的进展。 本教材是掌握分析电子显微术原理和应用的入门书，故注重基本的物理概念和相关的数学推导，并附许多实例和思考题、练习题以便读者理解和掌握重点。本书配有电子课件和练习答案的光盘，便于教师授课。本教材也可作为正在从事该领域学习和研究的科技人员的参考书。如有需要该书的课件，可以留下邮箱，发给大家共享！！[em31]

  • 这里得各位参加电子显微学会了吗？

    一般做电镜或者能谱的同行都可以参加的，大概需要两个人推荐。如果参加了，可以定期收到电子显微学报，还有会议交流，技术培训的最新信息。具体可以问中国电子显微学会联系，秘书胡萍老师：010－82673560[em17] [em17] [em17]

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  • 日立高新扫描电子显微镜FlexSEM 1000 II 400-803-2799
    扫描电子显微镜可对材料的表面进行高倍率观察及高精度元素分析，在纳米技术、生命科学、产品设计研发及失效分析等领域有着广泛的应用。 近年来，扫描电镜观察表面精细结构及元素分析的需求日趋增加，而越来越多的用户希望能在生产线、品保检验线和办公区等有限的空间里使用扫描电子显微镜。因此，体积小、操作简便、分辨率高的扫描电子显微镜备受关注。FlexSEM 1000主机宽450mm、长640mm，相比SU1510型号体积减小52%，重量减轻45%，功耗减小50%，且配备标准化的电源接口。主机与供电单元可分离，安装非常灵活。 FlexSEM 1000 II，凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器，可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新开发的用户界面，具有亮度和对焦自动调节功能，可以在短时间内进行各种观察。此外，还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”，这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点，实现最直观的视野移动。尽管是可放置在桌面上的小巧紧凑型*1电子显微镜，仍可实现4.0 nm的分辨率凭借独特的高灵敏度二次电子、背散射电子检测器、低真空检测器（UVD*2），可在低加速/低真空下观察时实现清晰的画质全新的用户界面，无论用户的熟练程度如何，都可实现高画质和高处理能力全新的定位功能“SEM MAP”，支持观察时的视野搜索和样品定位大直径（30毫米2）无氮EDS检测器，可快速进行元素分析*2*1设置到桌面上时，请将机体与电源盒分离*2选项
    留言咨询
    厂商： 日立科学仪器（北京）有限公司
    品牌： 日立/Hitachi
    型号： FlexSEM1000 II
    价格： 150万 - 200万元
  • 国仪量子高速扫描电子显微镜HEM6000 4008-166-717
    国仪量子高速扫描电子显微镜HEM6000HEM6000是一款可实现跨尺度大规模样品成像的高速扫描电子显微镜。采用高亮度大束流电子枪、高速电子偏转系统、高压样品台减速、动态光轴、浸没式电磁复合物镜等技术，实现了高速图像采集和成像，同时保证了纳米级分辨率。面向应用场景的自动化操作流程设计，使得大面积的高分辨率图像采集工作更高效、更智能。成像速度可达常规场发射扫描电镜的5倍以上。 产品优势 高速自动化 全自动上下样流程和采图作业，综合成像速度优于常规场发射扫描电镜的5倍大场低畸变跟随扫描场动态变化的光轴，实现了更低的场边缘畸变低压高分辨 样品台减速技术，实现低落点电压，同时保证高分辨率应用领域应用案例大规模成像规格书 关键参数 分辨率 1.3nm @ 3 kV，SE；2.2 nm @ 1 kV，SE； 1.9nm @ 3 kV，BSE；3.3 nm @ 1 kV，BSE；加速电压 100 V~6 kV(减速模式) 6 kV~30 kV(非减速模式) 放大倍率 66~1,000,000x 电子枪类型 高亮度肖特基场发射电子枪 物镜类型 浸没式电磁复合物镜 样品装载系统 真空系统 全自动控制，无油真空系统 样品监控 样品仓监控水平摄像头 ； 换样仓监控垂直摄像头样品最大尺寸 直径4英寸 样品台 类型 电机驱动3轴样品台（*可选配压电驱动样品台） 行程 X、Y轴：110mm；Z轴：28mm；重复定位精度 X轴：±0.6 um；Y轴：±0.3 um 换样方式 全自动控制 换样时间 ＜15 min 换样仓清洗 全自动控制等离子清洗系统 图像采集与处理 驻点时间 10 ns/pixel 图像采集速度 2*100 M pixel/s 图像大小 8K*8K 探测器和扩展 标配 镜筒内混合电子探测器 选配低角度背散射电子探测器 镜筒内高角度背散射电子探测器 压电驱动样品台 高分辨大场模式样品仓等离子清洗系统 6英寸样品装载系统主动减震台 AI降噪；大图拼接；三维重构 软件 语言 中文 操作系统 Windows 导航 光学导航、手势快捷导航 自动功能 自动样品识别、自动选区拍摄、自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散服务扫描电子显微镜实验室 我们在合肥、无锡、广州和上海设有扫描电子显微镜实验室，实验室配备多名电镜技术专家和高级电镜应用工程师，提供包含电 镜应用技术开发、样品拍摄在内的多种服务。主要应用领域有锂电池、新型纳米材料、半导体材料、矿物冶金、地质勘探、生物医药等。 实验室依托国仪量子电镜产品，在电镜应用领域开展具有自主知识产权的科研项目，致力于实现科学研究和人才培养的目标。与此同时，实验室也为有电镜应用需求的科研院所、大专院校、企事业单位提供优质的服务。
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    厂商： 国仪量子技术（合肥）股份有限公司
    品牌： 国仪量子/CIQTEK
    型号： HEM6000
    价格： 面议
  • 日本电子 JSM-IT810场发射扫描电子显微镜 400-860-5877
    2020年5月25日日本电子株式会社全球同步发布新款场发射扫描电子显微镜JSM-IT800系列。 JSM-IT800的场发射扫描电镜通用性强，可广泛应用于纳米材料、金属材料、半导体材料、化学化工、医学及生物学领域，可高效观察包括非导体样品及强磁性样品等。 JSM-IT800SHL分辨率可达0.5nm,成像能力强大。浸没式电子枪可提供500nA大电流，EDS和EBSD分析速度极快。 2024年7月28日日本电子株式会社全球同步发布场发射扫描电子显微镜JSM-IT800系列升级为JSM-IT810系列，升级后的产品实时功能更强（包括实时能谱、实时3D等的），自动化程度更高，操作更加直观简单，上手更加方便。
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    厂商： 日本电子株式会社(JEOL)
    品牌： 日本电子/JEOL
    型号： JSM-IT810
    价格： 640万元
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电子显微学年会相关的耗材

  • 电子显微镜钨灯丝电子源10颗
    钨灯丝9210016适用于所有原厂的钨灯丝扫描电镜，使用寿命大于50小时。钨灯丝扫描电镜是一种用于物理学领域的分析仪器，扫描电镜分辨率：高真空二次电子像3.0nm（30KV） 扫描电镜放大倍数：5×～1000000×，连续可调 能谱仪分辨率：MnKα峰的半高宽优于127eV； 能谱仪元素测试范围：Be4— Pu94。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场，此外，还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务，以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源（电子显微镜灯丝）、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。
    供应商： 大束科技(北京)有限责任公司
    品牌： 大束科技
    价格： 面议
  • 电子显微镜ETD放大器高压板
    Det. MULTIP. TUBE,DPMTETD放大器高压板，用于原厂电子显微镜，为二次电子探头的放大器提供高压大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场，此外，还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务，以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源（电子显微镜灯丝）、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。
    供应商： 大束科技(北京)有限责任公司
    品牌： 大束科技
    价格： 面议
  • 电子显微镜专用用碳沉积
    CARBON FILL,MGIS碳沉积（多支气体注入系统专用）用于原厂电子显微镜多支气体注入系统，碳沉积（多支气体注入系统专用）是一种存放碳化合物的容器，将药品加热到一定温度，药品气化，在真空压差和可控阀门的作用下，将药品气体喷洒在样品表面，同时在离子束的诱导作用下将碳分子沉积在样品表面。以实现对样品表面形貌的保护，或对样品进行导电处理。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场，此外，还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务，以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源（电子显微镜灯丝）、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。
    供应商： 大束科技(北京)有限责任公司
    品牌： 大束科技
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