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  • 【讨论】一次粒径和二次粒径问题

    粒度测试有一个不太好定性的问题,那就是一次粒径和二次粒径问题。对于多数粉体颗粒,它有一定的大小,广义角度看单个颗粒是一个个体。但是从严谨角度说它依然是个可再分的由更小颗粒组成的群体。这时候问题就产生了,我们对颗粒进行粒度分析时,到底是希望测试粉体被分散到什么程度时的粒度分布呢?举个例子:某硫酸钡粉体,电镜拍摄的照片显示,单晶颗粒都在几百纳米级别,但是激光粒度仪测试结果微米级别的粒度分布,相差一个数量级。有些测试人员片面认为照片拍摄的东西绝对可靠,是粒度仪测试不准。这样判断过于主观了。这类问题晶粒如果处理后的样品体系中,超微粒子是均匀的,检测方法一般是一次粒度分析。如直观观测法,主要采用扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)、隧道扫描电镜(STM)、原子力显微(AFM)等手段观测单个颗粒的原始粒径及型貌。但如果处理后的样品微粒是不均匀的,且团聚体是不易分散体,此时电镜法得到的一次粒度分析结果一般很难代表实际样品颗粒的分布状态。因此,对处理后的物料体系必须作二次粒度统计分析。目前,较先进的3种典型方法按原理上可分为高速离心沉降法、激光粒度分析法和电超声粒度分析法。 这个问题其实也是一个粉体分散问题,测试粒度分布时,到底使用什么手段分散?分散到什么程度才是正确的?希望各路高手一起探讨,也让小弟多开阔眼界。

  • 等效粒径定义

    简单地说,粒径就是颗粒的直径。从几何学常识我们知道,只有圆球形的几何体才有直径,其他形状的几何体并没有直径,如多角形、多棱形、棒形、片形等不规则形状的颗粒是不存在真实直径的。但是,由于粒径是描述颗粒大小的所有概念中最简单、直观、容易量化的一个量,所以在实际的粒度分布测量过程中,人们还都 ◇ 粒度和粒径的定义 ◇ 等效粒径定义 ◇ 常见粉体的密度 ◇ 粒度分布的表示方法 ◇ 粒度仪器的重复性 ◇ 粒度仪器的准确性 是用粒径来描述颗粒大小的。一方面不规则形状并不存在真实的直径,另一方面又用粒径这个概念来表示它的大小,这似乎是矛盾的。其实,在粒度分布测量过程中所说的粒径并非颗粒的真实直径,而是虚拟的“等效直径”。等效直径是当被测颗粒的某一物理特性与某一直径的同质球体最相近时,就把该球体的直径作为被测颗粒的等效直径。就是说大多数情况下粒度仪所测的粒径是一种等效意义上的粒径。   不同原理的粒度仪器依据不同的颗粒特性做等效对比。如沉降式粒度仪是依据颗粒的沉降速度作等效对比,所测的粒径为等效沉速径,即用与被测颗粒具有相同沉降速度的同质球形颗粒的直径来代表实际颗粒的大小。激光粒度仪是利用颗粒对激光的散射特性作等效对比,所测出的等效粒径为等效散射粒径,即用与实际被测颗粒具有相同散射效果的球形颗粒的直径来代表这个实际颗粒的大小。当被测颗粒为球形时,其等效粒径就是它的实际直径。

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  • 【标准解读】透射电镜图像法测量多相体系中纳米颗粒粒径
    透射电子显微镜(TEM)具有原子水平的分辨能力,它不仅可以在观察样品微观形态,还可以对所观察区域的内部结构进行表征,成为纳米技术研究与发展不可或缺的工具。特别是TEM配合图像分析技术对多相体系中纳米颗粒粒度进行分析具有一定的优势。本文将对已实施的GB/T 42208-2022 《纳米技术 多相体系中纳米颗粒粒径测量透射电镜图像法》进行解读。多相体系是指体系内部不均匀的体系,在物理化学中也称为非均相体系、混相体系或者复相体系。而纳米颗粒受尺寸限制往往存在于材料基体中,形成多相体系来增加整个材料特性,这可能关系到后续产品的性能和安全性,因此对多相体系中纳米颗粒的评价尤为重要。透射电镜能作为最直观、准确的设备能够对样品内部进行评价,在多相体系中的纳米颗粒粒径表征中不可或缺。本标准从很大程度上完善和补充国内现有标准的不足,给出较为完整的多相体系中纳米颗粒粒径分析评价方法,不仅对于多相体系中纳米颗粒的粒径这种需要探讨体系内部的颗粒测量给出了方案,而且对于不同TEM的颗粒测量结果一致性评判具有重要的参考价值。本文件适用于固相多相体系中的粒径测量。考虑到多相体系的多样性,胶体和生物组织中的纳米颗粒,只要样品制备满足透射电子显微镜观察的要求,也适用本文件.一、背景纳米材料由于表面效应、量子尺寸效应、体积效应和量子隧道效应等,使材料表现出传统固体不具有的化学、电学、磁学、光学等特异性能。同时,受到尺寸的限制,纳米材料单独使用的场合有限,往往存在于材料基体中,形成多相体系来增加整个材料特性。但是由于纳米颗粒粒径较小、比表面积较大、表面能较大,极易团聚,致使其在多相体系中很难表征和评价。研究多相体系中纳米颗粒的粒度测量,对优化材料结构,改善材料的性能有着极大的促进作用,对推动纳米材料的应用和发展具有重要的意义。多相体系中纳米颗粒不同于单一的纳米颗粒,它对检测方法、样品处理及样品制备都有较高的要求。扫描电子显微镜和原子力显微镜由于成像原理的问题,不利于多相体系中纳米颗粒的测量。因此在本标准发布之前,国内该内容处于空白,本标准聚焦透射电镜的成像原理,对样品制备、图像获取、图像分析、结果表示、测量不确定度等技术内容给出了充分的、系统的说明。二、规范性引用文件和参考资料本标准在制定过程中,在符合GB/T1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准的结构和编写》国家标准编写要求的基础上,充分参照了现行相关国家标准中的相关术语及技术内容的表述,包括颗粒系统术语、纳米材料术语、微束分析、粒度分析、纳米技术等各个专业领域;同时,在规范表达上,也充分征求了行业专家、资深从业者、用户的意见和建议,力求做到专业、通俗、易懂。 三、制定过程本标准涉及的领域较为专业,因此集合了国内相关领域的一批权威代表性机构合作完成。牵头单位为国家纳米科学中心,主要参加单位包括国标(北京)检验认证有限公司、北京市科学技术研究院分析测试研究所(北京市理化分析测试中心)、深圳市德方纳米科技股份有限公司、中国计量大学、北京粉体技术协会等。对于标准中的重要技术内容,如实验步骤、不同多相体系样品的制备方法、图像获取方式、图像分析、数据处理等均进行了实验验证,确定了标准中相关技术的操作可行性。四、适用范围本文件适用于固相多相体系中纳米颗粒的粒径测量和粒径分布。胶体和生物组织中的纳米颗粒,只要样品制备满足透射电子显微镜观察的要求,也适用本文件。 五、主要内容本标准描述了利用透射电子显微镜图像处理和分析技术进行纳米颗粒在多相体系中分散的粒径测量方法的全流程,包含了标准所涉及的术语和定义,TEM的成像原理,不同类型样品的制备方法,详尽的实验步骤,结果表示以及测量不确定度的来源,并在附录中针对不同的样品类型给出了实用案例。术语及定义:即包括了纳米颗粒、分散的术语定义,还包括了TEM中明场相、暗场像、扫描透射电子显微图像和高角环形暗场像等几种成像方式的定义。一般原理:利用透射电镜图像评估纳米颗粒在多相体系中的粒径测量,主要基于透射电子显微镜中电子束穿透样品成像的原理,并对图像进行处理,通常需要借助粒径分析软件进行粒径测量,以避免人为因素的干扰。样品制备:纳米颗粒在多相体系中的分散,由于多相体系材料不同,样品制备方法不同,系统的介绍了纳米复合材料的制备、多相固态金属材料的制备以及多相生物材料的制备方法,这包含了超薄切片技术、离子减薄技术、生物染色技术等。实验步骤:包含了装样、仪器准备、图像获取的全过程。需要注意的是根据多相体系材料及其中纳米颗粒的种类和状态的不同,在测试过程中要明确选用明场、暗场、高角环形暗场等合适的成像技术,并保证有足够清晰度和对比度的透射图像,能够准确识别到图像中的纳米颗粒。除此之外,为了使拍摄所得的图像中包含有足够的样品数量进行粒径测量,需要在不同的位置多次拍摄。具体的过程,本标准在附录A中以镍基高温合金多相体系中纳米颗粒为例,给出了详细过程。粒径测量:多相体系中的纳米颗粒的透射电子显微镜图像通常存在背景亮度不均匀、分散相边界与图像背景灰度差小的特点,因此需要图像处理将样品图像从背景中区分出来。总体目标是将数字显微照片从灰度图像转化为由离散颗粒和背景组成的二值化图像。重点采用阈值算法进行单个颗粒的测量。同时,颗粒粒径测量时测量颗粒数量对测量不确定的影响较大,因此需要确认最少测量颗粒数,这也取决于实际的测量需求。在结果表示方面,实验室可以根据实际需求,只评价纳米颗粒粒径的大小,也可以以纳米颗粒的分布范围为评价目标。在标准的附录中给出了两种分布范围方式。不确定度:对多相体系中纳米颗粒的粒径测量的测量不确定度主要来源包含了样品均匀性、样品制备、图像处理和测量所需的颗粒数不足等。在上述基础上,给出了测量报告的信息及内容。本文作者:常怀秋 高级工程师;国家纳米科学中心 技术发展部Email:changhq@nanoctr.c
  • 原位电化学原子力显微镜研究锂枝晶微观生长机理
    p   近年来,关于锂离子电池爆炸的新闻已经成为一个热点话题。锂枝晶(Dendrite)生长是影响锂离子电池安全性和循环稳定性的根本问题之一。锂枝晶的生长会破坏电极和电解液间已形成的具有保护功能的固体电解质界面膜(SEI),导致电解液不断消耗及金属锂的不可逆损失,造成电池库伦效率下降 严重时,锂枝晶还会刺穿隔膜导致锂离子电池内部短路,造成电池的热失控并引发爆炸。 /p p    /p center img alt=" " src=" http://scschina.sic.cas.cn/xjsbd/201803/W020180320671863220742.jpg" height=" 193" align=" bottom" width=" 316" / /center p   关于锂枝晶的生长机理目前在学术界还存在争议。由于锂离子电池怕水怕氧,可用来表征SEI的技术手段非常有限。近年来发展起来的各种电镜技术都在努力尝试在微纳尺度甚至原子级别上理解锂枝晶生长的演变过程。遗憾的是,常规的透射电镜由于高能粒子的照射,容易引起SEI膜及金属锂的破坏 虽然低温冷冻电镜能够缓解这一问题,但是由于使用条件的限制,在实验中无法原位使用常温电解液进行实时观察。此外,其昂贵的设备也制约了其推广。 /p p   中科院宁波材料所沈彩副研究员在前期利用原位电化学原子力显微镜(EC-AFM)对多种锂离子电池负极材料SEI膜成膜机理进行深入研究的基础上,利用SEI膜成膜电位比金属锂沉积电位更正的特点,设计了两步法研究锂枝晶的实时原位实验。研究者通过EC-AFM实时研究了以碳酸乙烯酯(EC)和氟代碳酸乙烯酯(FEC)为基础电解液的SEI膜的生长过程,并在此基础上进行原位锂枝晶的微观生长观察,通过对这两种电解液所形成的SEI膜的杨氏模量、CV图谱及EIS阻抗谱分析,结合XPS光谱分析,研究者发现FEC电解液所形成的SEI膜中含有较多的LiF无机盐,由于LiF具有较好的硬度和稳定性,使得其整体SEI膜具有较好性能,能够有效抑制锂枝晶生长。 /p p   以上研究工作为SEI膜特性及锂枝晶生长研究提供了新思路。电化学原子力显微镜结合光谱技术,有望成为锂枝晶生长机制研究的有力表征手段,通过对各种电解液和添加剂的优化筛选、形成对金属锂负极有效保护的SEI膜或涂层修饰结构,提升金属锂负极的循环稳定性。 /p
  • 外泌体粒径分析该选谁?不同外泌体粒径分析技术间的比较
    测量外泌体的粒径分布一直以来都是外泌体表征的重要组成部分。但是由于外泌体的尺寸仅为30~200 nm,所以必须借助一些特殊的检测手段才能够对这种在光学显微镜下不可视的颗粒进行观测。本篇就外泌体粒径测量技术的发展进行简述,并对不同技术的差异进行比较。一、电镜技术在外泌体发现的早期,由于还没有专门针对这类尺寸颗粒的分析方法,因此直接在电镜下面观察粒径并统计成为了早的外泌体粒径统计方法。但是这种方法费时费力,且通量低,在面对临床和科研中的大量样本时显得十分无力。文献中外泌体在电镜TEM模式下的经典形态 二、动态光散射技术 & 纳米粒子跟踪分析技术由于外泌体与材料学所合成的脂质体在形态上十分相似,因此用于脂质体表征的动态光散射技术(DLS)便被应用于外泌体的尺寸测量上。DLS利用光射到远小于其波长的小颗粒上时会产生瑞利散射现象,通过观察散射光的强度随时间的变化推算出溶液中颗粒的大小。但是这种技术会受到测量物质的颜色、电性、磁性等理化特性的影响,并且对于灰尘和杂质十分敏感。因此使得DLS在测量尺寸较小的粒子时,测量出的粒径与实际的分布具有较大的偏差。为了弥补DLS的短板,纳米粒子跟踪分析(NTA)技术孕育而生。这种技术采用激光散射显微成像技术,用于记录纳米粒子在溶液中的布朗运动轨迹,并通过Stokes-Einstein方程推算粒子大小。这种技术能够对30~1000 nm的粒径进行测量,因此能够提供更为地粒径数据。在诸多文献的测试中均取得了较DLS更好的精度,因此成为目前为主流的外泌体尺寸测量手段。NTA技术的工作原理与DLS技术在测量不同尺寸纳米球的数据对比。可见相比于DLS,NTA测量的粒径分布更为。 虽然NTA取得了比DLS 更高的性,但是随着外泌体研究的深入,其局限性也十分明显。先NTA仅能够测量溶液中颗粒的平均粒径尺寸,但是NTA无法分辨其中的外泌体、囊泡、脂蛋白,也不能区别不同源性的外泌体。这直接限制了外泌体粒径表征的意义,使得研究者很难探究外泌体尺寸与外泌体来源之间的关系。另外NTA本身对于测试时的温度、浓度和校准都有着较高要求,因此使得NTA在测试较小的粒子时其精度仍不能达到令人满意的效果,其测试结果却仍与电镜、AFM等成像技术所观测到的粒径存在着明显差异。外泌体在TEM下的成像及粒径统计与NTA测量的结果对比。可见NTA测量到的粒径要比TEM直接测量的结果大50~100 nm。 三、单粒子干涉反射成像技术为了解决上述在实际测试中的问题,一种新型的单粒子干涉反射成像传感器(SP-IRIS)技术孕育而生。这种技术摒弃了布朗运动轨迹追踪方法,通过基底与颗粒形成的相干光进行成像,通过成像后的亮度来直接计算纳米粒子的大小。从而避免了NTA测量粒径轨迹误差大的短板,拥有更高的灵敏度和精度,即使对于NTA无法区分的40 nm与70 nm的粒子混合溶液也依然能够取得很好的分辨率。SP-IRIS的原理及芯片微阵列打印的成像效果和对混合不同粒径小球的区分效果。可见SP-IRIS技术拥有更高的测试通量和测量精度。得益于这种高精度测量方法,越来越多的研究者终于能够测量到与电镜直接观测相当的粒径。这种优势所带来的效果不单单是能够让TEM的数据与纳米粒子表征的数据更为一致,同时还能够表征不同来源的外泌体之间的粒径差异。SP-IRIS、NTA和TEM统计同一样品时所测量的粒径分布。SP-IRIS在测量不同尺寸的外泌体时,测量的粒径与TEM的尺寸统计基本一致,而NTA统计的粒径则比TEM大约50 nm。此外SP-IRIS技术还能够提供不同来源外泌体的尺寸差异,能够看出CD9来源的外泌体要比其它来源的外泌体大~10 nm。 SP-IRIS的另一个优势在于能够更换激光源的波长,因此除了能够实现外泌体的形貌成像外,还能够实现单外泌体的荧光成像。使得单外泌体的荧光共定位成为可能,研究者通过这种单外泌体荧光成像能够研究单外泌体的表型、载物、来源等生物信息。使用SP-IRIS 对受伤组和对照组小鼠不同时间点的血清CD9、CD81来源外泌体的分泌量监测。可以看到CD81来源的外泌体的分泌量呈现先增加后减少的趋势,而CD9来源的外泌体分泌量则一直在增加。 综上所述,由于SP-IRIS技术的高精度、高灵敏度、可做单外泌体荧光成像的优势,目前有越来越多的学者开始对比NTA技术和SP-SPIS技术,其结果均认为SP-SPIS技术测试的效果要明显优于NTA,这其中也不乏Cell等高水平期刊。相信在不久的将来,SP-IRIS技术将会越来越普及,为研究者研究外泌体打开新的大门。 参考文献:[1]. Ayuko Hoshino, et al, Extracellular Vesicle and Particle Biomarkers Define Multiple Human Cancers,cell, 2020, 182, 1–18.[2]. Oguzhan Avci, et al., Interferometric Reflectance Imaging Sensor (IRIS)—A Platform Technology for Multiplexed Diagnostics and Digital Detection, Sensors 2015, 15, 17649-17665.[3]. George G. Daaboul, et al, Digital Detection of Exosomes by Interferometric Imaging, Scientific Reports,6, 37246.[4]. Federica Collino, et al, Extracellular Vesicles Derived from Induced Pluripotent Stem Cells Promote Renoprotection in Acute Kidney Injury Model, Cells 2020, 9, 453.[5]. Daniel Bachurski, et al, Extracellular vesicle measurements with nanoparticle tracking analysis – An accuracy and repeatability comparison between NanoSight NS300 and ZetaView, JOURNAL OF EXTRACELLULAR VESICLES 2019, 8, 1596016.[6]. Robert D. Boyd, et al, New approach to inter-technique comparisons for nanoparticle size measurements using atomic force microscopy, nanoparticle tracking analysis and dynamic light scattering, Colloids and Surfaces A: Physicochem. Eng. Aspects 387,2011, 35– 42.

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  • EDM 665 宽粒径气溶胶粒径谱仪&bull 仪器简介EDM665 WRAS(Wide Range Aerosol System)宽粒径气溶胶粒径谱仪,是将光学粒径谱(OPC)和扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS+C)结合起来分析颗粒物粒径的设备,光学粒径谱(OPC)主要用于微米级的颗粒的监测,监测31个通道;扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS+C)用于纳米颗粒研究,监测44个通道。粒径监测范围为5nm到32μm,共分为70多个通道,系统软件将自动绘制粒径和浓度分布图。系统带有自动采样、干燥除湿系统,可在无人监管条件下连续监测长达1月。可安装GPS和无线传输系统。。&bull 仪器优势&bull 宽范围,5.0nm ~ 32μm,71个粒径通道&bull 浓度范围1 ~ 107P/cm3&bull 独立监测系统,全自动,可长期无人监守工作&bull 48cm仪器固定架&bull SMPS,CPC,软件,在线实时监测,远程控制, GPS,认证,可靠稳定。&bull 仪器应用&bull 环境研究&bull 气溶胶研究&bull 移动气溶胶研究&bull 路旁监测&bull 引擎排放研究&bull 健康效应研究&bull 性能参数&bull SMPS+C测量原理静电分类和冷凝生长检测粒径范围M–DMA (5 – 350 nm) L–DMA (10 – 1094 nm)最小扫描时间150s浓度范围107 p/cm3采样流量0.3 L/min&bull 光学设备粒径范围250nm – 32μm粒径浓度1 ~ 2×103P/cm3采样流量1.2 L/min可重复性3%最大量程&bull 电源110 – 220 VAC, 50 – 60 Hz&bull 功率100 – 150 W&bull 温度范围- 20 to + 40°C (- 4 to 104°F), RH 95%&bull 尺寸(LWH)49 x 28 x 65 cm (19.3 x 11 x 25.6 in)&bull 重量38 kg
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  • 苏州市粉末粒径测试土壤粒径检测:粒度测定方法有多种,常用的有筛析法、沉降法、激光法、小孔通过法、吸附法等。筛析法是zui简单的也是用得zui早和应用zui广泛的粒度测定方法,利用筛分方法不仅可以测定粒度分布,而且通过绘制累积粒度特性曲线,还可得到累积产率50%时的平均粒度。粒度测试的目的微小颗粒态物质在日常生活和工业生产中有着很广泛的应用尺寸的大小和分布情况直接关系到工业流程产品质量以及能源消耗和生产过程的安全性。因此,准确方便地测量微小颗粒的直径、粒径,并得到粒径分布函数成为一个非常有意义的课题。常用测试方法的种类1、筛析法(sieving method):让粉体试样通过一系列不同筛孔的标准筛,将其分离成若干个粒级,分别称重,求得以质量百分数表示的粒度分布。适用于0.02~100mm之间的粒度分布。电沉积筛(微孔筛)可达0.005mm。由于制造工艺的原因,出厂筛子筛孔尺寸难保一致;使用过程中变形导致筛孔尺寸不准——校准。优点:成本低,使用容易。缺点:对小于400目38u的干粉很难测量。测量时间越长,得到的结果就越小。不能测量射流或乳浊液在测量针状样品时这会得到一些奇怪的结果。难以给出详细的粒度分布,操作复杂,结果受人为因素影响较大,所谓某某粉体多少目,是指用该目数的筛筛分后的筛余量小于某给定值。如果不指明筛余量“目”的含义是模糊的,给沟通带来不便。2、显微镜法(microscopic method):显微镜法测量的样品量极少,取样和制样时,要保证样品有充分的代表性和良好的分散性。样品制备后即可用显微镜一个一个测定颗粒,求出统计平均径;测定的颗粒数一般需几百个以上才有意义。光学显微镜测量时,常在目镜中插入一块刻有标尺或几何图形的玻片,由人眼通过目镜直接观测;或将显微镜的颗粒图像/照片投影到一个备有标尺或几何图形的屏幕上,通过对比确定粒度。3、库尔特计数法(coulter counter method):将被测粉体分散在电解质溶液中,在该导电液中置一开小孔的隔板,并将两个电极分别于小孔两侧插入导电液中。在压差作用下,颗粒随导电液逐个通过小孔。每个颗粒通过小孔时产生的电阻变化表现为与颗粒体积或直径成正比的电压脉冲。4、沉降法(sedimentation method)重力沉降法特点:适合测量不大(50?8?6m )不小(1?8?6m)的粒子。离心沉降法特点:与重力沉降法相比,离心沉降时间减小。可测小粒径粒子,粒子尺寸下限一般为0.1m两种沉降法都只能测相同密度的粒子;重复性好。
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  • TSI 3330 光学颗粒物粒径谱仪OPS - 颗径谱仪 3330 光学颗粒物粒径谱仪 (OPS)是一种轻型便携式的光谱仪,利用单粒子计数技术,能够提供快速、准确的粒子浓度和粒径分布测量。用户可以通过OPS在16个用户可调粒径通道中测量0.3-10μm的粒子。用户也可以将仪器放置在TSI的防水环境监测箱中进行测量,值得一提的是,用户还可以通过内置过滤器上采集粒子进行进一步分析。仪器通过电池供电的续航时间长达20小时,配有彩色大触屏,适用于从过滤器测试到工业测量,以及室内和室外环境监测等各种应用。产品详情 3330 光学颗粒物粒径谱仪 (OPS) 是一款轻型便携式装置,它采用单粒子计数技术,能够提供快速精确的粒子浓度和粒径分布检测。OPS 凭借 40 多年的气溶胶仪器设计经验,采用*先进的 120° 光收集光学系统和精致的电子处理装置,从而获得精确的高质量数据。严格的工厂校准标准确保了检测精度。3330 光学颗粒物粒径谱仪可单独使用,也可置于 TSI 的防水环保箱内。 新机型3914现在结合了 NanoScan 开关电源和光学粒子度, 使用这些负担得起的、便携的、实时的仪器来测量尺寸大小从 10 nm 到10μm 的订单。 特点和优势 0.5 μm 时粒径分辨率 5% 用户可调大小通道 粒径范围:在多达 16 个通道中 0.3 - 10 μm 0~3,000 粒子/cm 3 的宽浓度范围 具有直观用户界面的彩色触摸屏 完全符合 ISO 21501-04 标准 显示粒子数浓度和粒子质量,并且具有输入折射率和粒子密度的能力 基于过滤的样本收集,适用于重量分析或化学分析 电池供电操作长达 12 小时 内置多达 30,000 个样本的数据记录功能 包含 Aerosol Instrument Manager™ 软件和各种标准附件应用范围 过滤器测试 (即 ASHRAE 52.2) 室内空气质量 工作场所监测 室外环境监测 工业测量 排放监测和控制 质量光学仪器因其易用性、快速检测时间、稳健性和可靠性而广泛用于各种应用领域。 下面列出了一些常见应用。 技术参数: 测量原则 120°光散射和滤膜采样浓度限制~3000个/cm3(~3000000个/L)质量浓度0.001~275,000 mg/m3检测粒径范围0.3~10mm粒径分辨率0.5mm时5%(符合ISO 21501-01/04)粒径通道多16通道,用户可调测量时间≥1s,用户可调零点每分钟<1个样气流量1L/min±5%精度(符合ISO 21501)鞘气流量1L/min操作温度0~+45℃操作湿度0-96%,无凝结储藏温度-20-60℃气溶胶媒介空气数据存储5MB内置存储(30000条)界面USB接口、以太网和U盘数字显示5.7英寸彩色触摸屏,绘图显示模拟输出0-5V或4-20mA,用户可选警报输出可视化、蜂鸣器、继电器或开关量,用户设定报警值
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  • LISe晶体 LiSe LISe
    LISe晶体,LilnSe2晶体,硒铟锂晶体由孚光精仪进口,孚光精仪是中国领先的进口精密光学器件和仪器供应商!所销售的LISe晶体,LilnSe2晶体,硒铟锂晶体系高质量进口晶体, 经过在国外生长, 严格切割抛光加工和国外高质量的镀膜,并进行严格的质量控制后进口到国内,质量非常可靠。我们提供优质进口LISe晶体,LilnSe2晶体,硒铟锂晶体,价格低,发货快,欢迎垂询。LISe晶体透光光谱范围:0.43-13μmLilnSe2晶体非线性系数:d31=10.6, d32=6.3 pm/V硒铟锂晶体对称性:斜方晶系,mm2的点群 LISe晶体晶胞参数:a=7.192, b=8.412, c=6.793 LilnSe2晶体SHG基频光范围: x-y, Type II, eoe:2.73 – 8.24μm x-z, Type I, ooe: 2.08 – 12.4μm y-z, Type II, oeo:2.73 – 3.07μm         y-z Type II, oeo, 7.66 – 8.24μm 总波长覆盖:2.08 – 12.4μm硒铟锂晶体激光损伤阈值:~0.5GW/cm2 @1053 nm (t=10 ns)LilnSe2晶体在0.2的远红外吸收边透明度级别:1.24 THz at 240 μm硒铟锂晶体平行度:30arcsecLISe晶体平整度:L/6 (L=546nm)LilnSe2晶体光洁度:S/D:20/10硒铟锂晶体应用:LISe晶体光学参量振荡器Optical parametric oscilator (OPO) 1 - 13 μm, with pump Ti: Sapphire laserLilnSe2晶体中红外激光2-13 μm的差频LISe晶体和硒铟锂晶体是1-13微米OPO的有效材料。我们提供欧洲生产的优质LISe晶体,LilnSe2晶体,硒铟锂晶体。领先的进口精密激光光学器件旗舰型服务商--孚光精仪!
  • 离轴抛物镜 定制大口径离轴抛物镜
    产品简介屹持光电提供各种规格的离轴抛物镜√ 采用铝膜基片反射镜√ 备有15°、30°、45°、60°或90°的离轴可选√ 可选择铝膜和金膜与标准抛物反射镜的不同之处在于,离轴抛物金属膜反射镜可在特定角度下直射并聚焦入射平行光,并且支持无限远焦点。这些反射镜普遍应用为Schlieren和MTF系统的平行光管,而镀金膜离轴抛物反射镜则用于FLIR测试系统。注意:由于表面粗糙度为175?,因此这种反射镜不适用于需要低散射的可见光和紫外应用。 规格参数:离轴角度15°、30°、45°、60°、90°直径 mm1' ' 、2' ' 、3' ' 、4' ' 直径公差 mm+0.00/-0.38焦距公差 %±1表面形貌 RMS1λ父焦距 PFL mm0.5' ' 、1' ' 、1.5' ' 、2' ' 、3' ' 、4' ' 有效焦距 EFL mm1' ' 、2' ' 、3' ' 、4' ' 、5' ' 、6' ' 、7' ' 、8' ' 表面粗糙程度 (Angstroms)175 RMS衬底铝 6061-T6镀膜保护金膜/铝膜波长范围 um0.7 - 2波长范围 um700 - 2000根据不同波长选择镀膜更多太赫兹元件相关产品 太赫兹透镜 太赫兹偏振片 HDPE 太赫兹线栅偏振片 太赫兹衰减片 太赫兹波片 太赫兹分束镜 太赫兹光谱分光镜 太赫兹棱镜 太赫兹窗片 太赫兹滤波片 太赫兹衰减全反射测试模块
  • LiIO3晶体
    LiIO3晶体和碘酸锂晶体由孚光精仪进口,孚光精仪是中国最大的进口精密光学器件和仪器供应商!所销售的LiIO3晶体,碘酸锂晶体系高质量进口晶体, 经过在国外生长, 严格切割抛光加工和国外高质量的镀膜,并进行严格的质量控制后进口到国内,质量非常可靠。我们已经为上海光机所, 中科院物理所,南开大学,中国工程物理研究院等诸多单位提供大量的激光晶体和非线性光学晶体,并为广大科研用户提供订制晶体服务, 欢迎垂询购买。LiIO3晶体和碘酸锂晶体是单轴非线性晶体,具有高非线性系数和宽的透光范围。 LiIO3晶体和碘酸锂晶体常用于对中低功率Ti:S宝石,翠绿宝石,Cr:LiSrAlF6 和 Cr:LiCaAlF6 激光的变频,LiIO3晶体和碘酸锂晶体也用于Nd:YAG激光的二倍频和三倍频,以及自相关仪用于测量超快脉冲的宽度。LiIO3晶体和碘酸锂晶体是单轴非线性晶体,具有较高的非线性系数,LiIO3晶体常用于对中低功率Ti:S宝石,翠绿宝石激光的变频。领先的进口精密激光光学器件旗舰型服务商--孚光精仪!
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