酞菁钴

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  • 【转帖】棒状薄层色谱/氢火焰法分析磺化酞菁钴的组成

    摘 要:研究建立了一种采用棒状薄层色谱/氢火焰离子检测(TLC/FID)对磺化酞菁钴组成进行定性、定量分析的方法。用薄层色谱并结合质谱分析表明工业磺化酞菁钴中含有一磺化酞菁钴的两种同分异构体,二磺化酞菁钴的5种同分异构体及三磺化酞菁钴;用棒状薄层色谱/氢离子火焰检测法可以对磺化酞菁钴中各组分进行定量分析。该方法操作简便,测定时间短,灵敏度高,可用于磺化酞菁钴工业合成的产品质量控制。 关键词:磺化酞菁钴,棒状薄层色谱/氢火焰离子检测,基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱 分类号:O65 作者单位:陈中静(石油大学重质油加工国家重点实验室,北京 102200)       范志明(石油大学重质油加工国家重点实验室,北京 102200)       柯明(石油大学重质油加工国家重点实验室,北京 102200)       刘溆蕃(石油大学重质油加工国家重点实验室,北京 102200)

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  • 电镜表征新成就颠覆认知 全固态电池量产不是梦
    导语2020开年新气象,电镜科研新成就。困扰业界许久的锂枝晶生长机理问题取得重大突破,全固态电池距离量产迈进一大步。近日,燕山大学亚稳材料制备技术与科学国家重点实验室黄建宇教授、沈同德教授和唐永福副教授等人联合美国佐治亚理工学院朱廷教授、宾夕法尼亚大学张宿林教授,通过巧妙地设计实验过程,实时直观地记录了锂枝晶生长的微观机制,精准测定了其力学性能和力-电耦合特性。更难能可贵的是,该研究团队还提出了一种固态电池中抑制锂枝晶生长的可行性方案。锂枝晶的生长机理难题困扰业界许久,至此终于有种“拨开云雾见天日,守得云开见月明”的感觉了。论文链接:www.nature.com/articles/s41565-019-0604-x据悉,该研究成果已在权威国际期刊《自然-纳米技术》(Nature Nanotechnology)刊登发布。《自然-纳米技术》是材料与纳米科技领域的国际顶级学术期刊,2019年的影响因子高达33.407,该研究成果的突破性和重要性由此可见一斑。为什么这项研究成果能够引发业界广泛关注呢?这就不得不提到目前在电动汽车上广泛使用的液态锂离子电池,其主要结构包括正负极材料、隔膜和电解液。因内部构造原因,液态锂离子电池容易受环境温度影响,而且很容易产生不可控的锂枝晶。锂枝晶非常“锋利”,可以刺破隔膜导致电解液泄漏,导致电池内部短路,从而造成电池起火甚至汽车自燃事故,近年来为提升电池的能量密度,企业把隔膜厚度从十几毫米降低到了五六毫米,2019年特斯拉、蔚来等大牌电动汽车相继“走火”,或许也间接反映了这个问题。概括言之,在材料体系没有创新的条件下,目前商品化的液态锂离子电池的能量密度已经逼近“极限”(300Wh/kg左右),“里程焦虑”、“可能自燃”等问题重创消费市场。既然液态电解液不行,那改用机械刚性的固态电解质不就完事了么?于是乎,全固态锂离子电池(简称:全固态电池)进入了公众视野。顾名思义,全固态锂离子电池采用的是固态电解质,不含任何液态组份,结构更加安全。与液态锂离子电池相比,全固态锂离子电池的能量密度最高潜力达900Wh/kg,因此,固态电池被视作为下一代锂电池技术革命,其量产与普及将会彻底解决电动汽车发展的最大瓶颈问题,国内外车企巨头已然纷纷布局涉足,“固态热潮”一时风头无两。然而,全固态电池的研发之路也并非一马平川。全固态电池以金属锂作为负极材料,仍然绕不开“不可控锂枝晶”的这个坎儿,实验结果表明,锂枝晶生长到一定程度时,也可以穿透固态电解质,造成电池短路失效。尽管诸多研究致力于探索如何抑制锂枝晶的产生,但是以往研究主要停留在宏观尺度,对于锂枝晶生长的微观机理、力学性能、刺穿固态电解质的机制及抑制其生长的科学依据缺乏足够了解。赘述至此,相信您应该充分了解黄建宇教授、沈同德教授等人的研究成果的重要性了吧?!___AFM-ETEM纳米电化学测试平台,可实现原位观测纳米固态电池中锂枝晶生长机制及其力学性能和力—电耦合精准定量测量。___据悉,该研究团队基于AFM-ETEM平台发现,在室温下,当对AFM针尖施加电压(过电位)时亚微米晶须开始生长,其生长应力高达130 MPa,远高于此前研究报道。此外,研究人员还发现锂晶须在纯机械载荷作用下的屈服强度可达244Mpa,远高于宏观金属锂的屈服强度(~1MPa)。可以说,该研究成果颠覆了研究者对锂枝晶力学性能的传统认知,为抑制全固态电池中锂枝晶生长提供了新的定量基准,为设计具有高容量长寿命的金属锂固态电池提供了科学依据,这项研究成果得到应用之后,全固态电池将有望加速实现商业化量产。很荣幸,赛默飞世尔科技旗下Thermo Scientific品牌的两大拳头电镜产品能够深度参与此项研究工作,并帮助研究团队发明了一种基于原子力显微镜—环境透射电镜(AFM-ETEM)原位电化学测试平台,建立起了一种有效的研究锂枝晶的动态原位实验表征新技术。它们是Themis™ ETEM环境气氛球差校正透射电子显微镜(左图)与Helios PFIB双束电镜(右图):Helios PFIB Themis™ ETEM Themis™ ETEM 300kV原子分辨扫描/ 透射电子显微镜可以一体化解决纳米材料在接触活性气体环境和升温的过程中的时间分辨动态特性原位研究,包括材料的结构性能关系、原子尺度的几何结构、电子结构以及化学组成。Helios PFIB系统结合了Elstar电子镜筒和Vion氙等离子体离子镜筒,既可以实现纳米分辨率和最高衬度成像,又能确保尺度样品加工的速度和精确度。基于此,赛默飞推出了一系列针对锂电池行业的多尺度二维及三维表征解决方案,主要包含多功能计算机断层扫描系统、扫描电镜、镓离子双束电镜、Xe等离子双束电镜、透射电镜等产品,涉及电芯表征、电极表征、隔膜表征等应用,希望从广度和深度两个方面,为客户在锂电池开发的各个阶段提供强力支持的产品组合,助力攻克电池研发技术难题,让全固态锂离子电池的量产与普及不再是梦,让电动汽车“充一次电跑1000公里”不再是梦!
  • 扫描透射电镜研究发现固态物质新结构
    p   中国科学院金属研究所研究员陈春林与日本东京大学教授Yuichi Ikuhara、重庆大学副教授尹德强等人合作,在陶瓷材料中发现了区别于晶体、准晶体和非晶体的固态物质新结构一维有序结构(或称为一维有序晶体)。 /p p   固态物质按其微观结构的对称性可分为三大类:晶体、准晶体和非晶体。晶体具有旋转对称性和平移对称性,其原子有规则地在三维空间呈周期性重复排列。准晶体具有旋转对称性,但不具有平移对称性。准晶体的原子排列具有长程有序,但不具有三维平移周期性。非晶体不具有旋转对称性和平移对称性,其原子排列不具有长程有序。以上是发现准晶体以后,人们对固态物质结构的普遍认识。 /p p    strong 陈春林等人利用扫描透射电子显微术与第一性原理理论计算相结合的方法,在MgO和Nd2O3薄膜材料中发现了一维有序晶体 /strong ,更新了人们对固态物质结构的认识。该结构仅在一个方向上保留了晶体的平移对称性和周期性,在其他方向上其原子呈现无序排列,形成了具有一维平移周期性的长程有序结构。构成一维有序晶体的结构单元的原子排列与重位点阵倾转晶界的结构单元非常类似。研究表明,尽管MgO晶体是能隙为7.4 eV的绝缘体,MgO一维有序晶体则是能隙为3.2eV的宽带半导体。一维有序晶体的发现表明固态物质结构的种类比人们的已有认知更加丰富,并且新结构的物理性质与相应常见结构类型具有显著差异。 /p p   该项研究得到中科院前沿科学重点研究项目、国家自然科学基金与国家青年千人计划等的资助。相关成果于12月10日在《自然-材料》(Nature Materials)上在线发表。 /p p      /p p style=" text-align: center" img src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201812/uepic/a6156720-4898-4aae-8502-60e0cf6bf38b.jpg" title=" 1.png" alt=" 1.png" width=" 300" height=" 200" border=" 0" vspace=" 0" style=" width: 300px height: 200px " / /p p style=" text-align: left "    span style=" color: rgb(0, 0, 0) " 图1 一维有序晶体的原子结构示意图。MgO一维有序晶体可由MgO晶界结构单元组合而成。 /span /p p style=" text-align: center" img src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201812/uepic/741f2e4a-0118-41df-bb7f-74d99be22ea3.jpg" title=" 2.png" alt=" 2.png" width=" 300" height=" 200" border=" 0" vspace=" 0" style=" width: 300px height: 200px " / /p p span style=" text-align: left "   /span span style=" color: rgb(0, 0, 0) " span style=" text-align: left "   /span span style=" text-align: left " 图2 形成于三叉晶界区域的MgO一维有序晶体的ABF STEM像(见区域I和II)。MgO一维有序晶体由许多六边形结构单元构成(彩色阴影所示),其原子排列与MgOΣ5 (210)[001]晶界结构单元类似。 /span /span /p p style=" text-align: center" img src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201812/uepic/a509e4ef-abf9-4570-91f0-ece9446a2cc6.jpg" title=" 3.png" alt=" 3.png" width=" 300" height=" 200" border=" 0" vspace=" 0" style=" width: 300px height: 200px " / /p p style=" text-indent: 2em " span style=" color: rgb(0, 0, 0) " 图3 DFT理论计算与STEM-EELS分析确定MgO一维有序晶体的原子与电子结构。MgO晶体是能隙为7.4 eV的绝缘体,MgO一维有序晶体则是能隙为3.2eV的宽带半导体。 /span /p p style=" text-align: center" img src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201812/uepic/86a73063-886d-4be0-81c8-17cbac93a2da.jpg" title=" 4.png" alt=" 4.png" width=" 300" height=" 200" border=" 0" vspace=" 0" style=" width: 300px height: 200px " / /p p style=" text-indent: 2em " span style=" color: rgb(0, 0, 0) " 图4 Nd2O3薄膜材料中的一维有序晶体。Nd2O3一维有序晶体由许多六边形结构单元构成(彩色阴影所示),其原子排列与Nd2O3Σ9 (221) 晶界结构单元类似。 /span /p
  • 国产!上海精测半导体专用电镜首台交付,电镜年产值预估超5亿元
    仪器信息网讯 近日,武汉精测电子集团股份有限公司(上海精测半导体技术有限公司母公司,下称“精测电子”)表示,上海精测半导体技术有限公司以椭圆偏振技术为核心开发的适用于半导体工业级应用的膜厚量测设备以及光学关键尺寸量测系统,已经取得长江存储、广州粤芯等国内半导体客户的批量重复订单;电子显微镜相关设备已完成首台套的交付。eViewTM全自动晶圆缺陷复查设备是上海精测半导体自主研发的扫描电子显微缺陷复查和分类设备,它具有领先的高分辨率电子束成像能力和自动缺陷分类能力,据描述,该设备是国内首台拥有完全自主知识产权的半导体前道检测设备据悉,2020年12月23日,上海精测半导体技术有限公司宣布推出首款半导体电子束检测设备:eViewTM全自动晶圆缺陷复查设备,并于当日正式交付国内客户,助力半导体产业国产化。该设备是基于扫描电子显微镜技术的复查和分类的设备,应用于集成电路制造过程,可对光学缺陷检测设备的结果进行高分辨率复查、分析和分类,满足10x nm集成电路工艺制程的需求。随着半导体集成电路工艺节点的推进,作为晶圆厂制程控制主力设备的光学缺陷检测设备的解析度已无法满足大规模生产和先进制程开发需求,必须依靠更高分辨率的电子束复检设备的进一步复查才能对缺陷进行清晰地图像成像和类型的甄别,从而为半导体制程工艺工程师优化制程工艺提供依据。eViewTM采用了自主开发的扫描电子显微镜技术,具有超高的的分辨率,适用于10x nm及以下集成电路制程的工艺缺陷自动检测。除了高分辨率电子束成像能力外,利用自主开发的基于深度神经网络(DNN)的人工智能算法进行缺陷自动识别与分类,突破常规的基于机器学习的分类算法,极大提高晶圆缺陷分类的准确度。并采用全新的超低电压EDSX射线探测技术,突破常规设备EDS使用电压的限制,实现轻量元素的高分辨率解析能力。据3月11日公开的《武汉精测电子集团股份有限公司向特定对象发行A股股票募集说明书(注册稿)》,上海精测半导体技术有限公司研发及产业化建设项目偏重于电子束检测应用、聚焦离子束与电子束双束应用、光学关键尺寸测量技术、面向大尺寸 OLED 屏的超快精细激光切割及其检测技术等方向,重点建设半导体检测设备研发及产业化基地,侧重产业园投入及在现有半导体检测设备研发及制造基础上进行工艺优化和技术升级。其研发及产业化建设项目所生产的半导体检测设备及平板显示检测设备主要面向半导体晶圆的检测和量测,部分面向 OLED 检测。其中电镜相关产品类型包括Review SEM 电子束量测设备、FIB SEM 电子束量测设备,应用于半导体电子束检测。涉及新产品研发情况,相关产品具体类别、主要功能及目标客户:项目达产后正常年不含税收入 129200 万元,其具体构成详见下表:Review Sem 电子束量测设备为公司的新产品,其定价采取“成本加成”的定价模式,根据产品生产成本、费用及合理的利润来确定该产品的价格。FIB SEM 电子束量测设备为全新产品,其销售价格是参考其他公司同类型产品中标公告的中标金额(700 万元/套至 826 万元/套),并结合未来市场需求情况而制定。在半导体测试领域,上海精测已成功开发高性能集成电路制造前道量检测进口替代设备,自主研发的集成式膜厚测量设备于 2020 年实现来自国内一线存储客户的订单,未来上海精测持续增加研发投入研发光学检测设备(纳米薄膜椭偏测量装备、光学关键尺寸(OCD)测量装备、硅片应力测量装备)和电子光学检测设备(CD-SEM扫描电子显微镜关键尺寸测 量装备 、Review-SEM 全自动晶圆缺陷复查设备、FIB-SEM 双束系统),实现研发设备的产业化,打破集成电路高端检测设备被国外厂家垄断的局面,填补国内空白,实现进口替代,为之后研发暗场颗粒检测、精密套刻测量、多束电镜、透射电镜等前沿技术和设备提供坚实基础;另一方面,公司将充分利用资本市场功能及优势,采取多元化方式,积极做大做强公司半导体测试板块,提升竞争力。技术可行性半导体产业化过程,设备先行,半导体前道检测设备是制约我国半导体制造产业的“卡脖子”难题,以美国科磊半导体为代表的国际巨头占据了全球量测检测设备大部分的市场。在政府引导和下游市场需求的双重推动下,越来越多的国产设备企业投入到半导体测试领域。上海精测注册成立后,致力于半导体前道量测检测设备的研发及生产,在光学领域自主开发针对集成电路微细结构及变化的OCD测量、基于人工智能深度学习的OCD三维半导体结构建模软件等核心技术,在电子束领域自主开发了半导体制程工艺缺陷全自动检测、晶圆缺陷自动识别与分类等核心技术,填补了国内空白。此外,公司在半导体光学、半导体电子光学及泛半导体领域积极进行项目研发,在半导体单/双模块膜厚测量设备、高性能膜厚及 OCD 测量设备、半导体硅片应力测量设备、FIB-SEM 双束系统、全自动晶圆缺陷复查设备、激光切割设备等方面积累了大量经验,形成了一定技术沉淀。生产及管理可行性目前,上海精测主要聚焦半导体前道检测设备领域,进一步加快上海精测在半导体检测领域相关技术的引进、消化和吸收,使上海精测具备集成式膜厚测量设备(200/300mm 硅片)、用于 200mm 硅基 Micro-OLED 制程膜厚测量设备、高产率 300mm 硅片膜厚检测机等产品的研发及生产能力,同时进一步降低生产成本,提高产品竞争力。上海精测以椭圆偏振技术为核心开发的适用于半导体工业级应用的膜厚量测设备以及光学关键尺寸量测系统,已经取得国内一线客户的批量重复订单;电子显微镜相关设备预计在 2020 年年底前推向市场,其余储备的产品目前正处于研发、认证以及扩展的过程中。关于上海精测半导体技术有限公司上海精测半导体技术有限公司成立于2018年7月,主要从事以半导体测试设备为主的研发、生产和销售,同时也开发一部分显示和新能源领域的检测设备。上海精测半导体技术有限公司通过自主构建研发团队及海外并购引入国产化等手段,实现半导体测试、制程设备的技术突破及产业化,快速做大做强;并倚靠母公司精测电子在平板显示检测领域已经在国内市场取得领先的市场地位,提高相关专用设备产品在集成电路市场的竞争力,旨在将公司打造成为全球领先的半导体测试设备供应商及服务商。------------------------------------拓延:关于举办首届中国电镜产业化发展论坛的通知一、会议时间4月23日下午13:30-17:00(ACCSI 2021召开同期)ACCSI 2021大会官网:https://www.instrument.com.cn/accsi/2021二、会议地点江苏无锡融创万达文华酒店三、组织单位主办单位:中国电子显微镜学会 仪器信息网四、会议形式定向邀请、圆桌会议、半开放形式五、会议主题主题:首届中国电镜产业化发展论坛内容:围绕“当前环境下,中国电镜产业化如何快速发展”,议题内容主要涵盖以下三部分内容:1)产业化/创业历程,2)发展现状,3)发展痛点及发展建议/倡议/合作机会等六、 目标参会人群及规模政府及协会学会领导,电镜业界专家/学者、实验室主任、技术/研发负责人;电镜企业及周边企业董事长、总经理、总工、市场总监、研发总监等,规模约80人。   七、会议议程(拟定,以年会官网最终信息为准)ACCSI2021分论坛:首届中国电镜产业化发展论坛议程安排(4月23日下午)主持人:中国电子显微镜学会 理事长 韩晓东中国科学院电工研究所 副所长 韩立议题内容分享人致辞中国电子显微镜学会 理事长 韩晓东开篇报告:中国电子显微镜产业发展现状及展望中国科学院电工研究所 副所长 韩立议题发言:中科科仪电镜产业化历程北京中科科仪股份有限公司 电镜事业部总经理 孟祥良议题发言:透射电镜原位系统产业化进展介绍百实创(北京)科技有限公司 总经理 李海鑫开放讨论:国产电镜产业化现状?处于什么阶段?有哪些痛点?… … 全体邀请嘉宾仪器信息网专家委电镜专业组成立仪式、颁发专家聘书仪器信息网高层议题发言:与中国科学家的产业化合作(拟)待定议题发言:高通量扫描电镜产业化与展望聚束科技(北京)有限公司 总经理 何伟开放讨论:哪些先进经验?如何取长补短?… … 全体邀请嘉宾议题发言:高时空分辨TEM研发及新技术发展中国科学院物理研究所 研究员 李建奇议题发言:如何让国产电镜更好地赋能各行各业?国仪量子(合肥)技术有限公司 营销中心副总经理 付永强开放讨论:成果转化、产业化?合作机会?… … 全体邀请嘉宾小结主持人晚宴八、联系方式首届中国电镜产业化发展论坛:杨编辑,15311451191,yanglz@instrument.com.cnACCSI 2021大会: 杜老师, 13671073756 李老师, 15611023645附:关于2021第十五届中国科学仪器发展年会(ACCSI2021)2021第十五届中国科学仪器发展年会(ACCSI2021)将于2021年4月21-23日在无锡市召开。ACCSI定位为科学仪器行业高级别产业峰会,经过14年的发展,单届参会人数已突破1000人,被业界誉为科学仪器行业的“达沃斯论坛”。ACCSI2021以“创新发展,产业共进”为主题,力求对过去一年中国科学仪器产业最新进展进行较为全面的总结,力争把最新的产业发展政策、最前沿的行业市场信息、最新的技术发展趋势、最新的科学仪器研发成果等在最短的时间内呈现给各位参会代表。会议期间将颁发 “年度优秀新品”、 “年度绿色仪器”、“年度行业领军企业”、“年度十大第三方检测机构”、“年度售后服务厂商”、“年度网络营销奖”“年度人物”等多项行业大奖,引领科学仪器产业方向。会议日程(拟定,以年会官网最终信息为准)时间日程会议内容4月21日9:00-20:00参会注册14:00-17:00第三届仪器CMO圆桌峰会4月22日9:00-12:00大会特邀报告13:30-15:30i100峰会:中国科学仪器发展高峰论坛16:00-18:00仪器及检测风云榜颁奖盛典4月23日分论坛9:00-17:00第六届中国质谱产业化发展论坛第五届检验检测产业峰会9:00-12:00实验室智能化论坛量子精密测量产业化发展论坛生命科学仪器发展与精准医疗产业对接圆桌论坛石墨烯检测与标准发展论坛科学仪器及检测人才发展论坛13:30-17:00生命科学仪器创新成果转化圆桌论坛环境监测热点技术及市场论坛首届中国电镜产业化发展论坛中药分析与质量控制创新发展论坛近红外光谱产业化发展论坛贵金属及珠宝检测技术发展论坛参会咨询报告及参会报名:010-51654077-8124 13671073756 杜老师 15611023645李老师赞助及媒体合作:010-51654077-8015 13552834693魏老师微信添加accsi1或发邮件至accsi@instrument.com.cn (注明单位、姓名、手机)咨询报名。报名链接:https://insevent.instrument.com.cn/t/mK报名二维码扫描二维码立即报名

酞菁钴相关的仪器

  • 基于20多年稀有气体质谱仪的经验,Thermo Scientific开发了系列新一代多接收稀有气体质谱仪。它结合创造性的新特征和经过实践验证的成熟的同位素质谱技术,开发了Helix MC Plus、Helix SFT和ARGUS VI三款先进的静态真空稀有气体质谱仪,是多接收静态惰性气体质谱迈进的重要一步。Thermo Scientific ARGUS VI质谱是一款拥有高灵敏度的多接收系统,主要为氩氩定年而设计的终极工具。多接收稀有气体质谱技术的进步,为地球科学、核科学等许多学科打开了新的应用大门。 主要特点: 高效离子源结合约700cc内部体积设计能在低捕获电流情况下实现超过1×10-3 Amps/Torr 的灵敏度; 同时接收氩的5个同位素,无需跳峰,减少了分析时间,大产出效率; 先进的接收器组合包含了许多新特征,如离子流偏转技术能够在固定的接收器组合上实现动态多接收; 1010Ω/1011Ω/1012Ω/1013Ω 放大器拥有不同的动态范围范围使大部分分析都能在长寿命的法拉第接收器上进行。新型CDD电子倍增器可用于36Ar或低浓度样品的跳峰检测; ARGUS VI 质谱仪是目前体积最紧凑的惰性气体质谱仪,占地面积非常小。
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  • 电镜主动减震台-固润光电应用范围:为各类透射式电子显微镜(TEM)、扫描式电子显微镜(SEM)、发射式电子显微镜、探针显微镜、扫描隧道显微镜、原子力显微镜(AFM)、横向力显微镜。白光干涉仪,光刻机,微纳米结构和加工仪器!超低频隔震台、防震台、减震台、除震台,主动隔振台,主动减振台,主动防震台,主动防振系统。table stable,主动隔振台,主动防震台,主动减振台,桌面式防震台特点:是一款紧凑型、模块化的六自由度隔振系统,用于抵消工作环境对灵敏度高的精密设备产生的不必要振动,以提高精密设备的性能,具有卓越的性能及通用性。该隔振台的主动隔振频率为 0.5Hz - 200Hz,被动隔振频率200Hz,其能够整合到现有的需要低频隔振的设备中,主动检测输入振动并动态消除;允许自由选择整个系统的尺寸和配置,可通过增加隔振模块的数量来支持更大的仪器载重量。安装简单,易操作,稳定性高,能无故障连续使用多年。AVI系列产品的优势和亮点在于:六个自由度全方位隔振低频隔振行业领先(0.5-200 Hz主动隔振, 200Hz以上被动隔振)主动隔振性能突出(特别是在0-5 Hz)最大刚度和稳定性可扩展容纳任何设备尺寸无缝安装,使用简便 AVI系列主要型号有:AVI-200系列(适用于重达450kg的设备)AVI-400系列(适用于重达900kg的设备)AVI-600系列(适用于重达1360kg的设备)增加隔振装置可提高承重力,如AVI-600系列搭配8个隔振装置可用于重达5400kg的设备。 此外,AVI系列还有多个升级选项可供选择,如:LFS 传感器系统(搭配LFS系统AVI系列可用于0.5-200 Hz隔振)工作台集成隔音箱集成定制面板尺寸及材料(包括阻尼铝板,花岗石块,电路板,可打孔等)机架式控制器(标准尺寸19″)振动器集成(激励源) AVI系列还可根据特定的研究需求进行定制。 table stable,主动隔振台,主动防震台,主动减振台,桌面式防震台
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  • 固态热调制器SSM1820利用半导体制冷和直接加热实现快速的调制,使传统的全二维气相色谱 (GC×GC) 彻底摆脱了液氮和其他制冷剂的使用,显著降低了GC×GC技术的使用难度和运营成本。产品特点:调制范围:C7–C40 *调制周期:≥ 2秒,无上限,数字可调,支持非连续和用户编辑模式热区温度:50℃~320℃ 数字控制,支持程序升温冷区温度:-50℃~9℃数字控制,支持程序升温制冷方式:半导体制冷适配商业化GC/GC-MS设备,直接安装后升级成全二维系统*具体沸点范围跟配置调制柱有关默认配置SV调制柱SV调制柱(C7—C40)该范围以外应用请联系厂家定制产品包括固态热调制器主机及电源,安装工具包,调制器控制软件,高级模式安装包(如有),全二维色谱数据处理软件,一年售后服务和技术支持。
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酞菁钴相关的耗材

  • 扫描电镜、FIB和STEM样本固定台
    扫描电镜、FIB和STEM样本固定台(Specially Designed Specimen Holders For SEM)专为SEM扫描电镜的样本固定而设计。 这些样本固定器能够显著提高你的工作效率,因为你可以同时观察多个样本,这就减少了频繁抽真空所消耗的时间;同时工作腔室更加洁净。固定器的材质为硬铝材料,配备弹簧或固定螺丝以确保样本的稳定性。固定器可通过变换端口实现各种标样的适配,有一个中央螺纹连接适配销,首先应根据所用电镜选择合适的适配销。Adapter A:总体尺寸:28mm长x 3.1mm直径(加长套尺寸:6.25mm长*4.8mm直径)Adapter B: 总体尺寸: 28 mm 长x 6 mm 直径Adapter C:总体尺寸: 34.5 mm 长x 16 mm 直径所有适配器都有一个5 mm长的螺纹 通用SEM扫描电镜样本台(Universal SEM Sample Holder)这种固定器可以用来固定形状不规则的样本,直径范围在3mm-29mm之间,样本安装拆卸简单,铝质材料,四个样本夹持柱可移动,可以轻松固定较小的样本。固定器尺寸:48mm*42mm*12mm厚 订购信息:货号产品名称规格75910Universal SEM Holder Amray Baseeach75910-01Universal SEM Holder Amray Base with Pin Aeach75910-02Universal SEM Holder Amray Base with Pin Beach75910-03Universal SEM Holder Amray Base with Pin Ceach 垂直样本固定器(样本台)Vertical Mount for Thin Samples Flat Base这种固定器是用来固定各种垂直的薄的样本,它的直径为25mm,厚度为10mm。虎口能够夹持最薄3mm厚的样本。弹簧保证样本垂直,以便对他的横截面积进行研究。这种固定器对研究硅片横截面非常有帮助。通过适配销和你的仪器连接。订购信息:货号产品名称规格75915Thin Sample/Vertical Mount Holder, Flat Baseeach75915-01 Thin Sample/Vertical Mount Holder, Adapter Pin Aeach75915-02Thin Sample/Vertical Mount Holder, Adapter Pin Beach75915-03Thin Sample/Vertical Mount Holder, Adapter Pin Ceach 复合样本台(Multi Pin Holder)这种样本台的主要优点在于节省时间。它可以同时容纳3-5个直径12.5mm、1/8”销的独立小样本台。销售信息:货号产品名称规格759203-Pin Holder, 25 mm Dia x 10 mm H, Flat Baseeach75920-013-Pin Holder, 25 mm Dia x 10 mm H, Adapter Pin Aeach75920-023-Pin Holder, 25 mm Dia x 10 mm H, Adapter Pin Beach75920-033-Pin Holder, 25 mm Dia x 10 mm H, Adapter Pin Ceach759215-Pin Holder, 32 mm Dia x 10 mm H, Flat Baseeach75921-015-Pin Holder, 32 mm Dia x 10 mm H, Adapter Pin Aeach75921-025-Pin Holder, 32 mm Dia x 10 mm H, Adapter Pin Beach75921-035-Pin Holder, 32 mm Dia x 10 mm H, Adapter Pin Ceach ISI DS 130 and 150 First Stage样本台直径10mm,高5mm,铜制,适合ISI DS 130 and 150 SEM’s。内圆筒高度可调,因此可以调整样本到合适的各种距离。销售信息:货号产品名称规格75925SI First Stage Holdereach 圆柱适配器(Pin Mount Stub Adapter)铝质,适用于3.1mm的销;有10、15、16mm直径可选。销售信息:货号产品名称大小规格75940-07Pin Mount Adapter16 mm x 55 mm (H)each75940-08Pin Mount Adapter16 mm x 25 mm (H)each75940-09Pin Mount Adapter15 mm x 15 mm (H)each75940-10Pin Stub Adapter10 mm x 10 mm (H) each75940-11Pin Stub Adapter15 mm x 10 mm (H)each75940-15Pin Stub Adapter38 mm x 15 mm (H)each75940-16Pin Stub Adapter38 mm x 16 mm (H) each 横截面固定器(Cross Sectional Holder)由无磁不锈钢制造,3.1mm直径的销;螺纹角度可调,可直接用于横截面样本的观察。货号产品名称 规格75942-01Cross Sectional Holdereach 5孔样本架(Five 10mm Stub Holder)5个10mm的孔用于固定圆柱式样本台,销的直径为3.1mm。销售信息:货号产品名称规格75945-05Five 10 mm Stub Holdereach 薄样本台(Thin Sample Holder) 用于横截面样本的检查,如晶片、多层电容、塑料等。直径12.7mm的表面,销为3.1mm。销的高度有8mm和15mm两种。对于ISI, JEOL, TOPCON,双重螺纹确保了样本的稳固。15mm直径×10mm高,6.4mm豁口。销售信息:货号产品名称规格75948-08Thin Film Holder, 8 mm (L) Pineach75948-15Thin Film Holder, 15 mm (L) Pineach75948-10Thin Film Holder, 15x10 mm Stubeach 冶金样本台(Metallurgical Mount) 直径31.8mm,3.1mm的销,深8mm。销售信息:货号产品名称规格75952-01Metallurgical Mounteach STEM样本台(STEM Holder) 可以使用它来完成3.05mm载网上的TEM样本的SEM观察。样本台能够旋转,保持反射镜和光电管的配合。铝质材料制造,选购时首先要确认已经具备的电镜型号。销售信息:货号产品名称规格75954-01Mini SEM Clamp 12.7 mm, Pineach75954-02Small SEM Clamp 15 x 10 mm, 3.2 mm (?") Pineach75954-03Medium SEM Clamp 25 x 15 mm, 3.2 mm (?") Pineach 微型通用夹具(样本台)(Universal Vise)虎口尺寸:25mm长、11mm宽、8mm高,底座连接销直径为3.1mm 销售信息:货号产品名称规格75950-01微型通用夹具(样本台)Universal Viseeach FIB样本台(FIB Sample Holder) Fortress™ FIB样本台可以重复使用,样本不需要粘胶、胶垫或导电油漆等物质就能被固定在指定位置;Fortress™ FIB样本台可以固定一个薄的、整个或部分TEM载网在指定位置;对于已安装样本,Fortress™ FIB样本台采用专利的CastleGuard™ 保护设计。一个SS200样本台盒可以最多储存30个Fortress™ FIB样本台。 特征:1. 特别的箝位机构保证样本安全,不需要顶部紧固 2. 3.1mm的连接销适合大多数FIBs and SEMs.3. 外部支撑结构能够在样本操作转移过程中起到有效的保护作用4. 经济型设计可以满足使用者在同一个样本台上制备和储存样本5 配备Sver™ 储存盒,便于储存和移动 Fortress™ FIB样本台– Low Profile Low Profile Fortress™ FIB Holder:既可以用于载网上的FIB lift out样本,也可以用于H-Bar切割样本。 Fortress™ Sample Loader:用来固定Fortress™ FIB样本台,使之能够从2个角度观察样本而不需要变换焦距。销售信息:货号产品名称规格75956-01FIB Sample Holder – Low Profileeach75956-50Fortress™ Sample Loader for Low Profileeach Fortress™ FIB样本台– High Profile High Profile Fortress™ FIB样本台:仅用于载网上的FIB lift out样本 Fortress™ Sample Loader:用来固定Fortress™ FIB样本台,使之能够从2个角度观察样本而不需要变换焦距。 销售信息:货号产品名称规格75957-01FIB Sample Holder – High Profileeach75957-50Fortress™ Sample Loader for High Profileeach
  • 固态参比电极
    固态参比电极    型号:GD型系列 特点及指标   工业用固态参比电极采用全封闭式,以高分子聚合物为基体,配以特种填料构成导电隔膜,从根本上改变了以往各种参比电极所沿用的液接方式。本系列电极的主要特点:结实可靠,可耐较高温度、压力,耐腐蚀和磨损,抗表面结垢,维护方便。 主要指标   与饱和甘汞电极电势差:(-45± 5)mV(GD-6)/(-56± 5)mV(GD-4)   使用温度:&le 80℃(GD-6);&le 130℃(GD-4)   使用压力:10MPa   pH值范围:0~12   电极内阻:&le 15 k&Omega (GD-6),&le 100 k&Omega (GD-4) 应用范围   GD型系列工业用固态参比电极,与指示电极(如玻璃电极、锑电极、白金电极)配套测量pH值或氧化还原电势值。既适用于低离子强度介质(如高纯水)、有机介质(如煤油)及黏稠介质(如化妆品)体系,又适用于高温高压体系,例如:抗菌素发酵罐、地热水、高温腐蚀介质、深海测量、油井勘探等。   本产品获国家发明专利,并获1991年北京国际博览会金奖。
  • 固态热解石墨平台,10/包
    每批石墨管都经过质量检测以确保其满足严格的污染、灵敏度、精确度、电阻和使用寿命等性能指标要求。 当您进行常规分析,并且希望低背景样品能获得最佳检测限时可使用间隔管。这同样适用于测定有机溶剂或易扩散到整个石墨管因而可能降低精度的低粘度样品。 Omega 平台管易于使用,同时具备优异的原子化效果:该集成平台可确保完美的热效应,产生高密度原子云,以便获得良好的信噪比和最佳检测限。 固态热解平台与石墨管的结合可提供比旧方法更好的一致性,并提供最佳的平台效应。这确保了在分析具有高背景或高干扰的样品时获得最佳性能。需要操作员有更高的操作技巧才能获得最佳结果。 高纯石墨减少痕量杂质的杂散吸收并且提高信噪比。 每一根管都经过手工检测其结果的重现性和可靠性 可减少重复检测而提高效率

酞菁钴相关的试剂

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