质谱峰面积法

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质谱峰面积法相关的厂商

  • 400-860-5168转6112
    质谱佳科技是国内专业从事分析仪器维修等技术服务、进口二手分析仪器销售和租赁的领先企业,原厂工程师团队为客户在色谱、光谱、质谱仪的维护保养、维修、仪器认证、技术升级、仪器搬迁,软硬件操作培训等多方面提供完善的技术支持和整体解决方案。 质谱佳科技在美国、欧洲、日本有着良好的合作伙伴,凭借优质的进货渠道和专业的选品团队为客户提供优质的二手仪器。主营品牌有:Thermo(赛默飞)、AB Sciex(爱博才思) 、Agilent (安捷伦)、Waters(沃特世)、Shimadzu(岛津)等,另外质谱佳科技还提供分析仪器配件、耗材的销售。 质谱佳科技总部位于长沙,通过设在上海、海口等地的分公司,形成服务全国的网络。为制药、食品、环保、三方检测、新能源等多个行业以及高校、科研院所、政府实验室等客户提供方便快捷的本地化服务。
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  • 400-860-5168转4496
    衡昇质谱专注无机质谱等分析仪器的研发和制造。公司业务聚焦在质谱领域的自主研发,既定战略是:只专注发展有自主知识产权的质谱仪器。 以“衡昇”命名,是将“张衡”“毕昇”两位我国古代科技创新的杰出代表作为榜样,希望继承先贤之创新精神,立足科学研究,促进创新发明,为我国科学仪器事业做贡献。
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  • 合肥迪泰质谱检漏仪专业生产厂家。氦质谱检漏仪用于真空检漏、如电厂汽轮机组,镀膜机,高压真空柜,真空炉,如有需要请联系 15056044460 王小姐合肥迪泰真空技术有限公司是专业氦质谱检漏设备供应商。主要产品有:氦质谱检漏仪,充氦回收系统,真空箱检漏系统,高真空设备,真空零配件等。公司拥有专业化的研发团队和科技人才队伍。所生产的新一代全自动高灵敏度氦质谱检漏仪采用多项国际先进技术。真空箱氦检漏系统设计科学,产品性能稳定。氦质谱检漏广泛应用于航天航空,汽车制造,真空应用等领域。
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质谱峰面积法相关的仪器

  • 基于20多年稀有气体质谱仪的经验,Thermo Scientific开发了系列新一代多接收稀有气体质谱仪。它结合创造性的新特征和经过实践验证的成熟的同位素质谱技术,开发了Helix MC Plus、Helix SFT和ARGUS VI三款先进的静态真空稀有气体质谱仪,是多接收静态惰性气体质谱迈进的重要一步。Thermo Scientific ARGUS VI质谱是一款拥有高灵敏度的多接收系统,主要为氩氩定年而设计的终极工具。多接收稀有气体质谱技术的进步,为地球科学、核科学等许多学科打开了新的应用大门。 主要特点: 高效离子源结合约700cc内部体积设计能在低捕获电流情况下实现超过1×10-3 Amps/Torr 的灵敏度; 同时接收氩的5个同位素,无需跳峰,减少了分析时间,大产出效率; 先进的接收器组合包含了许多新特征,如离子流偏转技术能够在固定的接收器组合上实现动态多接收; 1010Ω/1011Ω/1012Ω/1013Ω 放大器拥有不同的动态范围范围使大部分分析都能在长寿命的法拉第接收器上进行。新型CDD电子倍增器可用于36Ar或低浓度样品的跳峰检测; ARGUS VI 质谱仪是目前体积最紧凑的惰性气体质谱仪,占地面积非常小。
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  • Prima BT过程开发质谱仪a)工作原理:Prima BT是Prima PRO的小型化,其在基本原理和内部构造上基本与Prima PRO完全一致,是Prima PRO在小型试验装置或实验室开发过程应用的缩小版。它的分析性能指标几乎与Prima PRO完全一致,既可以作为实验室质谱仪使用,也可以作为小型在线分析仪使用。Prima BT过程开发质谱仪是非常强大的连续分析仪器,能够快速、准确灵活的分析多个流路、多个组分的气体。它采用磁扇扫描原理实现对多种气体浓度的检测,工作原理如下图: 质谱分析仪工作原理图 由RMS多流路快速进样系统导入气体分子样品;经过离子源将该样品转为离子态片段或气体离子,然后按照样品离子的质荷比不同,对经过磁扇区进行分离,分离过程遵循如下基本物理公式: ,其中:r为离子运动的轨道半径,M是粒子的质量,V是加速电压(1KV),β是磁场强度,e是离子的电子电荷。只有在一定的V及β的条件下,具有特定质荷比M/e的正离力才能通过运动半径为r的轨道进入检测器。当V,r固定,M/e与β2成正比,连续改变扫描磁场强度,就可使具有不同的M/e离子顺序到达离子检测器。 被选定的离子进入检测器后形成微弱的电流信号,检测器的输出信号经过板载微处理器转换,最终输出的信号表征样气中各个组分的浓度。在整个分析过程中,质谱仪工作在真空状态。该真空系统,由两部分组成:由选装机械泵提供的初级真空和由涡轮分子泵提供的高度真空。 b)产品用途:在线质谱仪可从容应对石油化工应用的众多挑战,其中包括:l 发酵研发 l 生物燃料研发 l 催化剂研发 l 热分析 l 人类热量研究 l 实验装置气体分析 l 析出气体分析 c) 特点:l 最好的在线测量精度 l 最号的测量稳定性 l 界面有好的软件能够灵活设定分析方法 l 容错设计能够确保达到99.9%的运行时间 l 延长的预防性维护时间间隔 l 高度简单化的维护步骤l 出色的“分析仪到分析仪”重复性d)技术指标:离子源 封闭式电子轰击源,双灯丝,带精密温度控制(120-200℃±0.1℃) 质量分析器 层叠式扫描电磁铁,150px半径,80°偏转 质量范围 1-150 amu 在1000 eV 离子能 (1-200 amu 在750 ev 离子能) 分辨率在两个分辨狭缝之间切换,分辨率60/20(标准);可选140/85, 100/45 重量刻度稳定性 0.013 amu 在 28 amu 超过 24 hours 峰形 在分辨率60时,顶部宽度为底部宽度的一半 丰度灵敏度 250 ppm 以27/28为准检测器 法拉第检测器或法拉第和SEM双检测器(可选) 进样口16个,15个用于分析,另外1用于与标定口连接标定口6个,1/4”卡套进样类型 毛细管,带分子渗漏和旁路(标准) 真空系统 涡轮分子泵和旋转泵;可替换为涡轮分子泵和内部膜片泵 进样流量 数字测量和记录每一流路流量 精度 0.1% 相对 (典型, 依据应用) 线性 1%,样气浓度变化超过10倍 (典型, 依据应用) 动态范围 10 ppb – 100% (理论l, 依据应用,使用外部旋转泵)稳定性 1% 相对,超过1 周 (典型, 依据应用) 控制器内置工业CPU,独立的操作系统,不依赖外部电脑独立工作。与外部控制软件GasWork的通讯功能。电源230 VAC (± 10VAC),50Hz通讯MODBUS RTU,以太网,OPC.安装方式桌面放置
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  • Xevo TQ-S cronos三重四极杆质谱仪革新定量分析能力。实现可靠的性能。高性能定量分析,所有操作人员均可使用。 常规检测不受限制 - 扩展每次进样的分析物并扩大经过验证的浓度范围,从而最大程度提高性能,且不增加实验室空间占用。提供以目的为导向的性能,使您能够轻松采集和审核定量分析数据,从而满足分析和法规要求每次进样分析更多的目标分析物,并覆盖更宽的浓度范围开发耐用方法,轻松设置系统用于分析性能可靠,帮助您满足分析和法规要求使用始终满足要求的技术,节省报告结果所需的时间。Xevo TQ-S cronos极其稳定,内置全新的倒锥形样品锥孔,可最大程度延长正常运行时间,所用技术通过屡获殊荣的QDa质谱检测器进行开发。节省方法开发和审核定量数据所需的时间使用Quanpedia软件能够将方法轻松转移至Xevo TQ-S cronos,该软件能够存储化合物数据库及相应的方法。了解定量分析软件的最新更新版本。TargetLynx功能项下“摘要栏”中的新“标记”有助于轻松查看任何超出限度的样品将您的采集链接到处理方法以自动更新MRM功能数量根据经过处理的TargetLynx数据文件自动更新Quanpedia保留时间每次进样分析更多的分析物,覆盖更宽的浓度范围MRM采集速率高达555 MRM/s,可在每次色谱运行中定量分析更多的化合物。在组分以极高的浓度存在且线性动态范围涵盖五个数量级的情况下,通过减少稀释和重新进样来最大程度提高实验室效率。快速获得高数据质量 - 在采集速率为555 MRM/s的条件下获得的峰强度与采集速率为50 MRM/s的条件下获得的峰强度相比,减小不超过25%较宽的线性动态范围 - 一般来说,定量分析具有未知分析物浓度的样品可能非常耗时值得信赖的多残留农药检测性能Xevo TQ-S cronos在多残留农药检测应用上有非常好的表现。Xevo TQ-S cronos不仅能够提供准确、精密的结果,而且还可以在极少的用户干预下日复一日地运行。在黄瓜、番茄和辣椒基质中检测到204种适合LC分析的农药采用PSA dSPE样品制备法直接制备DisQuE (CEN)将提取物稀释10倍,实现优异的长期性能卓越的线性和离子丰度比一致性,可满足分析和法规要求使棘手基质获得可靠的长期性能TrendPlot结果显示,在简单的蛋白质沉淀净化后,在柱上连续进样(上样量10 pg)超过1700次(超过80小时)所获得的血浆中磺胺二甲氧嘧啶的峰面积。对许多分析物重复使用高难度方法时,即使驻留时间短至5 ms,精密度%RSD也能小于4%。
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质谱峰面积法相关的资讯

  • 动态法与静态法对小比表面积的样品测试精度分析
    p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 对于小比表面积样品,如电池材料、有机材料、生物材料、金属粉体、磨料等空隙度微小的材料,由于吸附量微小,静态法测试的结果较含有风热助脱装置和检测器恒温装置的高精度动态法仪器误差大。对静态法为什么在小比表面样品测试方面精度难以保证,原因如下: /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 以比表面积1m2/g的样品为例,该样品0.5g对氮气的吸附量在BET分压范围内在标况下约0.1ml,在测试过程中的吸附环境液氮温度下的体积约0.03ml;样品管装样部分的剩余体积(也就是背景体积)约在3-5ml左右,要在3-5ml的样品管体积中准确定量出0.03ml的总吸附量且保证精度达到3%以内,可以算出要求压力传感器的精度要达到0.03%以上;但目前进口最好的压力传感器的精度只有0.1%,而且通常比表面及孔径分析仪用的压力传感器精度为0.15%,也就是说目前最高精度的压力传感器,即使温度场理想测定,液氮面理想恒定,环境温度理想准确条件下,对吸附量确定量的不确定度也只能达到0.003ml,即不确定度达到10%;若对于比表面再小或堆积密度小也就是装样量也难以很大的样品,其准确度就可想而知了。 但对于中大比表面样品,一般吸附量不会那么微小,静态法的精度很容易保证在2%甚至1%以内便不是问题; /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 所以在小比表面样品的测试方面,静态法只能通过增加装样量来降低误差,常见的是静态一般都会为小比表面积样品配备大容量样品管,但由于背景体积(吸附腔体积)也随之增大,所以准确度提高也是有限的;而有些厂家宣称静态法小比表面测试下限可以达到0.0001m2/g,是不负责任的; /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 对具有风热助脱、检测器恒温、低温冷阱的高精度动态法仪器,其相对不具有该装置的标准动态法比表面仪,其精度得到明显提高;动态法比表面仪,与其它分析仪器类似,其精度和灵敏度& nbsp 大小主要取决于信噪比;也就是要提高精度和灵敏度,就需要从提高信号强度、抑制背景噪声、消除外界干扰三方面来控制。增加信号强度的方法一般有增加称样量、增加检测器电流,但增加& nbsp 检测器电流一般噪声也会同时增大,所以检测器电流会有个最佳范围;所以在抑制噪声、消除外界干扰方面可做的工作就比较多了;其源于仪器自身的误差来源主要有:检测器温漂,信号锐度& nbsp ;以检测器恒温装置来抑制温漂,风热助脱装置可以提高信号锐度,其对于比表面1m2/g的样品0.5g对氮气的吸附量在分压0.2左右时脱附峰面积与背景可以保证在2%以内的误差; /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 所以对于小比表面样品,对具有风热助脱、检测器恒温、低温冷阱的动态法仪器,其灵敏度和分辨率的优势就体现出来了;但对中大比表面样品,由于信号强,普通动态法比表面积仪和静态& nbsp 法比表面积仪都可以保证精度;这点就像万分之一分析天平和千分之一天平的区别; /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 但绝大多数含有微孔、介孔等空隙的材料,比表面不会很小;要是很小比表面的材料,其空隙度的研究价值就有限了; /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 综上: /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 一、对于小比表面样品(10m2/g以下)优先选择采具有风热助脱及检测器恒温装置的用动态色谱法比表面仪器,利用其分辨率、灵敏度高的优势; /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 二、对于中大比表面样品,若只测试比表面积,动态法和静态法没有明显的优劣势,动态法由于具有固体标样参比法,具有快速测定比表面的优势,静态法具有BET多点法较省时液氮消耗 小的优势; /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 三、需要测比表面及孔径分布的样品,建议采用静态容量法的比表面及孔径分析仪。 /p
  • DX系列比表面积仪-正极材料磷酸铁锂比表面积测试
    在动力电池界,三元锂和磷酸铁锂是最常用的两种锂离子电池。三元锂电池因为其正极材料中的镍钴铝或镍钴锰而得名“三元”,而磷酸铁锂电池的正极材料为磷酸铁锂。由于三元锂电池当中的钴元素是一种战略金属,全球的供应价格连年来一路飙升,相较之下,磷酸铁锂电池中没有钴这种价格昂贵的金属,更加便宜。因此,更多的造车企业采用磷酸铁锂电池来降低生产成本,抢占市场份额。在过去的2021年,磷酸铁锂凭借高性价比优势成为市场选择的宠儿,主流材料生产企业大多实现扭亏为盈,而下游动力方面需求的强劲支撑也使其在年末阶段面对高价的碳酸锂原料依然积极扫货。2022年1月国内磷酸铁锂产量为5.91万吨,同比增长158.9%,环比小幅提升3.3%。2021年1-12月国内动力电池装机量达到154.5Gwh,同比增长142.8%,其中磷酸铁锂电池在7月实现对三元电池产量与装机量的双重超越后,领先优势不断扩大,1-12月累计装机量达到79.8Gwh,占比51.7%,同比增幅达到227.4%,其中宁德时代、比亚迪和国轩高科分列磷酸铁锂电池装机前三甲,CR3集中度超过85%。从生产企业来看,德方纳米凭借稳定的客户渠道和产能优势,全年产量继续领跑;国轩高科在储能和自行车领域开疆拓土,自产铁锂需求稳健,紧随其后;湖南裕能、贝特瑞、湖北万润是市场供应的坚实后盾。考虑到未来全球动力电池与储能电池需求,预计2025年全球磷酸铁锂正极材料需求约为98万吨,对应市场规模约为280亿元。伴随着宁德时代年产8万吨磷酸铁锂投资项目签署,磷酸铁锂新一轮周期即将来临。大规模的量产也必将刺激比表面积分析仪的市场需求。众所周知,比表面积分析仪在锂离子电池行业有着广泛的应用需求,主要应用于正极材料、三元前驱体材料、负极材料、隔膜涂覆用氧化铝等材料的比表面积测试。比表面积过大的石墨粉在粉碎过程中更易于使其晶型结构发生改变,小颗粒石墨粉中菱形晶数量相对较多,而菱方结构的石墨具有较小的储锂容量,使电池的充放电容量有所降低。另外比表面积过大,单位重量总表面积就会很大,需要的包覆材料越多,导致电极材料的堆积密度减小而体积能量密度下降。如果能准确的对各种原材料进行比表面积测试,在一定程度上有助于研判后续产品的性能。磷酸铁锂作为动力电池的正极材料,其比表面积与电池的性能密切相关。通常情况下,磷酸铁锂的比表面积与碳含量呈线性关系。生产中有比表面积测试仪进行测试。比表面积太小,说明材料的碳包覆量不够,直接体现是电池内阻偏高、循环性能不好。比表面积过大,说明材料的碳包覆量过高,直接的体现是材料的电化学性能极好,但易团聚、极片加工困难,且涂布不均匀等。行业标准《YS/T1027-2015磷酸铁锂》明确规定了磷酸铁锂比表面积测试方法及流程。快速高效、精确规范的测试离不开性能优良的测试仪器,JW-DX系列快速比表面积测试仪,测试方法及数据符合《YS/T 1027-2015磷酸铁锂》的要求。JW-DX比表面积测试仪采用专利号为20140320453.2的吸附法专利测试,完全避免了常温下样品脱附不完全带来的测试误差,非常适合粉体生产厂家的在线快速测定。测试范围:比表面测试范围:0.0001m2/g,重复精度:±1%产品特性:1、测试速度快,5分钟测试一个样品;2、吸附峰的峰形尖锐,灵敏度大幅提高;3、独立4个分析站,实现了多样品的无干扰、无差异测试;4、外置式4站真空脱气机,避免污染测试单元。
  • 长春光机所大面积可控高活性拉曼光谱增强基底研究获进展
    p   近日,中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室在大面积可控高活性 a title=" " href=" http://www.instrument.com.cn/zc/34.html" target=" _self" 拉曼光谱 /a 增强基底的研究中取得进展:世界上首次利用溶致液晶软模板可控生长出大面积均匀的高活性表面拉曼散射增强基底,增强因子达到国际先进水平。相关结果发表在近期的Scientific Reports(2015, vol. l5, 12355)上。 /p p   表面拉曼散射增强由Martin Fleischmann 在1974年发现,是一种能够显著提高拉曼光谱灵敏度的技术。通常稀有金属纳米微结构被用于制备表面拉曼散射增强基底,但目前存在的多种制备方法(刻蚀法、种子生长法、各种化学沉积法)都不理想,没有系统解决耗时长、重复性差、成本高、不可控等问题。因此,研发一种全新的简单低成本可控的生长方法对表面拉曼散射技术的发展具有重要的应用价值。 /p p   该工作利用三相溶致液晶软模板并结合协同自组装生长原理可控制备了大面积均匀的银花纳米表面散射增强基底。使用琥珀酸钠、对二甲苯和硝酸银水溶液按照三相图进行配比,在适当的温度下发生相分离,琥珀酸钠分子亲水端相互靠拢将硝酸银溶液局限在其中,疏水端向外与对二甲苯结合。局域在亲水端的银离子在电化学沉积过程中结晶成核,逐渐长大,最终打破液晶软模板的束缚,在自组装效应的协同下生长为花形结构。该纳米结构具有较多的尖端与缝隙,可形成大量“热点”从而实现拉曼散射增强和荧光增强。该方法具有工艺简单、成本低廉、重复型号、形貌可控、易于大面积生长等优点,为表面拉曼散射增强和荧光增强基底的制备提供了新的研究思路,可广泛应用于食品安全、环境保护、生化检测等领域,同时为其批量化的工业生产打下了基础。 /p p   该工作得到了国家自然基金项目等经费的支持。 /p p style=" text-align: center " img width=" 600" height=" 91" title=" W020151214364646416690.jpg" style=" width: 494px height: 116px " src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201512/noimg/1cc076f2-4fe1-4f5e-af83-db28c29c6f99.jpg" border=" 0" vspace=" 0" hspace=" 0" / /p p style=" text-align: center " img width=" 500" height=" 403" title=" W020151214364646424163.jpg" style=" width: 500px height: 403px " src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201512/noimg/20cd9ad6-1ec6-4676-a03b-e16f1b0117c0.jpg" border=" 0" vspace=" 0" hspace=" 0" / /p p style=" text-align: center " img width=" 500" height=" 403" title=" W020151214364646425930.jpg" style=" width: 500px height: 403px " src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201512/noimg/32caa395-1b77-4582-9e7d-9c264138220d.jpg" border=" 0" vspace=" 0" hspace=" 0" / /p p style=" text-align: center " 溶致液晶软模板和自组装协同生长纳米银表面增强材料 br/ /p p br/ /p p br/ /p

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  • 【求助】质谱测试峰面积问题,请教大家~!

    LC-MS/MS待测物峰面积变低是怎么回事?在做LC-MS/MS检测一个化合物的PK时,建方法的时候发现,同一个样品多次进样,化合物的浓度在不停地变低,无论是做血样还是不是血样,怀疑是质谱的问题,但是内标的绝对峰面积很稳定,基本没有变化,把柱子冲洗之后,发现待测样品的浓度又增加了,但是重复进样后,仍然出现浓度不停变低的现象。求教各位大虾,这是什么问题,有没有解决的方法?

质谱峰面积法相关的耗材

  • 大面积光源
    仪器简介:大面积模拟器采用特殊的设计进行模拟日光辐射环境测试需求。 可靠的系统性能精确再现了太阳光谱(全辐射),系统基本组成:辐射单元,电源,以及控制系统。应用领域: 材料老化研究;增强紫外和日光照射下,涂料,纺织品以及塑料的颜色牢固程度和材料稳定性测试涂料,涂层长期紫外照射测试;技术参数:电源: 为了获得最好的性能,灯泡采用电子电源供电。电子电源或EPS-Modul采用方波电流对灯泡进行驱动。这样可以减少辐射调控至+/-1%以下, 即便功率输入发生变化的时候, 还可对强度进行控制和以及提供稳定的功率输出。另外,它可以提供最佳灯泡控制环境,这样就可以最大程度延长金属卤化物灯寿命。 控制系统: 系统的操作由专用计算机执行。菜单式软件用于系统的配置以及操作。系统输出以及设置可以保存,以便下次调用。保存的文件可以作为一个复杂的日光模拟测试程序一部分,顺序执行。在无缝操作界面,PC使用我们的软件可以与测试设备主控计算机相连,软件提供简单的操作以及快速测试设置,对测试设备进行最大负荷使用。 定位系统: 为了能让系统有效模拟各种自然日光条件,通常系统采用一个机械定位系统。这使得日光排列可以随轴而动,进而适应各种测试设置要求或模拟自然日光日周期变化。对于位置的控制可以采取手动按钮或者集成到软件系统进行自动控制。定位系统通常根据应用和测试设备的不同而不同。我们可以根据不同客户要求设计最合适的系统。 系统需要定制以达到客户测试目的。考虑到系统设计的机动性以及能够适应多种设置要求,系统采用模块化设计。对于不同尺寸的Radiation Unit,EPS-Moduls,以及Radiation Unit mounting systems,以及软件的灵活性,我们会设计出最经济的解决方案来满足日光模拟应用要求。 测试标准: 我们的系统设计符合多种测试方法规定, 比如:DIN 75220, “汽车部件在日光模拟环境中的老化”, Society of Automotive Engineers (SAE-汽车工程师学会) methods, MIL-STD-810, EPA 以及其他方法。作为模拟器产业的领军生产商。我们经常作为顾问参与测试标准的制定 。我们已经开发出了多种电源以及灯泡来适应多种应用要求。主要特点:采用专门的金属卤化物灯用作辐射源。金属卤化物灯可产生类似与连续光谱的高密多线光谱。与特殊的滤光片相结合,金属卤化物灯系统光谱分布非常接近自然日光(CIE85)。除了加速退化测试应用,不同特性的滤光片可以用于其他应用。结合反射镜,滤光片以及灯箱可以产生高辐射效率和高空间均匀性。
  • 高比表面积氧化石墨烯
    参数:制备方法:改良的H法高表面积氧化石墨烯直径:1 ~ 5um厚度:0.8~1.2nm单层比:99%纯度:99%比表面积(BET):100平方米/克堆积密度:0.009g/cm3体积密度:0.0052g/cm3Parameter:Preparation Method: Modified HUMMER’S methodHigh Surface Area Graphene OxideDiameter:1~5 μmThickness:0.8~1.2 nmSingle layer ratio:~99%Purity:~99%Specific Surface Area (BET):100 m2/gTapped Density:0.009g/cm3Bulk Density:0.0052g/cm3
  • AMPTEK X射线探测器FASTSDD大面积探测器 X光探测器
    匠心艺术之作70mm2 FAST SDD Amptek最新研发了一款TO-8封装的70mm2 FAST SDD探测器。它的封装和Amptek其他所有探测器封装一样。这样使得70mm2 FAST SDD成为非常方便的替代品。在同样性能下,计数率是25mm2SDD探测器的3倍。特性 l 70mm2有效面积准直到50mm2l 123ev FWHM @5.9keVl 计数率2,000,000cpsl 高峰背比-26000:1l 前置放大器上升时间60nsl 窗口:Be(0.5mil) 12.5um或C2(Si3N4)l 抗辐射l 探头晶体厚度500uml TO-8封装l 制冷ΔT 85Kl 内置多层准直器 应用l 超快台式和手持XRF光谱仪l SEM中EDS系统的样品扫描或测绘样品l 在线过程控制l X射线分拣机l OEM FASTSDD-70规格参数 通用探头类型硅漂移探头(SDD)探头大小70mm2准直到50mm2硅晶体厚度500um5.9keV处55Fe能量分辨率峰化时间4us时,分辨率为123-135eV峰背比20000:1(5.9keV与1keV计数比)探头窗口Be:0.5mil(12.5um)或C2(Si3N4)准直器内部多层准直器电荷灵敏前置放大器CMOS增益稳定性20ppm/℃外壳尺寸XR-100FastSDD-703.00 x 1.75 x 1.13 in (7.6 x 4.4 x 2.9 cm)重量XR-100FastSDD-704.4盎司(125g)总功率XR-100FastSDD-702W质保期1年使用寿命取决于实际使用情况,一般5-10年仓储和物流长期存放:干燥环境下10年以上仓储和物流:-40℃到+85℃,10%到90%湿度,无凝结工作条件-35℃到+80℃TUV 认证认证编号:CU 72101153 01检测于:UL61010-1:2009 R10.08 CAN/CSA-C22.2 61010-1-04+GI1输入前放电源 XR-100FastSDD-70 OEM 配置±8V@15mA,峰值噪声不超过50mV。 PA210/PA230或X-123:±5V探头电源 XR-100FastSDD-70-100到-180V@25uA,非常稳定,变化0.1%制冷电源电流电压 最大450mA最大3.5V,峰值噪声100mV注: XR-100FastSDD-70包含它自身的温度控制器输出前放灵敏度 极性输出上升时间反馈 典型的3.6mV/keV(不同的探头灵敏度不同)正输出信号(最大1KΩ负载)60ns复位型温度监控灵敏度根据配置不同而变化当使用PX5,DP5,或X-123时,直接通过软件读取开尔文温度 FastSDD-70 探头可用于Amptek所有的配置中
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