原位微区

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原位微区相关的耗材

  • TEM 原位液体芯片(可定位型)
    TEM 原位液体芯片产品说明产品名称:Nano-VIEW Cell 产品编号:ZB-CG0010用途:原位 TEM 观测化学反应过程,原位 TEM 观测生物活体细胞/菌落等,可封装液体,制样方便,结果清晰。简介及使用方法:本款产品为密封式芯片,由上下两片具有氮化硅薄膜窗口的芯片组成,氮化硅膜厚度为 50nm。制样时,将待观测液体滴加在“Out-frame”的“liquid tank”中,再将“In-frame”扣在“Out-frame”之上(Au spacors 朝下),组成上图中最右图所示结构;再使用 AB 胶绕“In-frame”外缘将其与“Out-frame”粘接在一起,完成密封过程。 芯片密封之后,其外切圆尺寸为 3mm。使用案例:在 TEM liquid cell 中原位观测 Ag 纳米线与 S 纳米颗粒的反应过程,配方如下:原料:Ag 纳米线(1mol/L 于乙醇中)、 S 的乙醇饱和溶液制样过程:将 Ag 纳米线/乙醇溶液与 S 的乙醇饱和溶液混合后,取约 1μL 溶液滴加在 liquid tank 中,将两片芯片叠盖在一起,用胶将其外缘密封,封片观察。结果:随着观测时间的增加,可明显观察到 Ag 纳米线的缺陷的产生、逐渐生成 Ag2S 的过程。
  • 原位液体电镜精选工具包
    原位液体电镜精选工具包Protochips公司的原位加热和电学系统常用的Poseidon Select,可将液体环境密封在电子束可穿透的两个膜之间,可实现各种各样的纳米尺度过程和环境的可视化。这得益于其自对中部件和多种E-芯片配置,Poseidon Select以无与伦比的实验简洁性极大地拓展了电镜功能。实现实时的材料和过程成像。这里介绍几样这个实验专用的工具给科研人员。价格仅供参考,详情电询。货号产品名称规格75958Poseidon Select Toolkit包含下列图示物品75958-01Small Volume Pipette 0.1-2μl - Autoclavable. Small volume allows for precise deposition of sample onto the Poseidon E-chip. Requires compatible pipette tips,微量移液器75958-02Pipette Tips - 10 ul disposable pipette tips, required for the small volume pipette.配套枪头,250个/包75958-03PEEK Tubing Cutter - used to safely cut PEEK tubing without crimping75958-04PTFE Dish - 60mm diameter 25 ml capacity. Used to clean photoresist off E-chips. Two are required, one for acetoneto disolve the resist and one for methanol to ensure there is no acetone residue.75958-05Watch Glass - 75 mm diameter. Used to plasma clean E-chips to ensure they are clean and hydrophillic. Curved watch glass makes placing and picking up E-chips easier.75958-06Torque Screw Driver - for tightning lid screws.75958-07Torque Driver Bit - for Torque Screw Driver75958-08Torque Driver Adapter - Insert Bit 1/4" Dr Hex Adapters. Adapter holds the torque driver bit, so it can be inserted into the torque driver78325-25Style 2A Straight-Tip PVDF Tweezers - Carbon tip tweezers help to avoid chipping the E-chip silicon79325-41Style 7 Curved-Tip PVDF Tweezers - Carbon tip tweezers help to avoid chipping the E-chip silicon价格仅供参考,详情电询。
  • SEM / TEM专用液体原位芯片
    TEM用液体原位芯片由于电镜需要真空环境的特点,正常情况样品只能做真空环境下静态电镜分析。运用新技术生产的液体芯片可将待测液体样品封闭起来,并通过氮化硅薄膜窗口做动态观测。基于氮化硅薄膜的液体原位芯片。它可以用作液体原位TEM观测。L-300液体芯片由上芯片和下芯片组合而成,芯片中间有10×50μm氮化硅薄膜观察窗口,下芯片左右两侧各有一个液体滴加口。上下两枚芯片由密封胶粘合在一起,中间有一个微型液体腔室。原位实验时首先在液体滴加口滴入待测液体,等待待测液体在浸润通过微型液体腔室并从另外一个液体滴加口渗出。再使用环氧树脂密封两个液体滴加窗口,待胶固化后即可进行原位液体观测。 ZB-NS0300 液体芯片使用说明 ZB-NS0300 液体芯片是用环氧树脂胶将上芯片和下芯片粘合在一起组合而成,中间形成微型液体腔室。芯片中间有 10um x 10um x 30nm 的氮化硅薄膜观察窗口,背面左右两侧各有一个液体滴加口。准备工作:待测液体、微量进样器、镊子、双面胶(固定芯片)、吸气装置(注射器针头带有橡胶圈)、胶(环氧树脂胶或指甲油)。待测液体封装流程: (示意图如第二页所示)1. 取出芯片,翻转芯片,使用双面胶将芯片固定在实验台上;2. 使用微量进样器向液体滴加口滴加待测液体;3. 将抽真空注射器插入另一液体滴加口;4. 向下按压橡胶使其尽量与芯片紧密贴合;5. 缓慢吸拉注射器, 观察左侧滴加口的液体是否减少,若没有减少,按住橡胶,继续缓慢吸拉注射器;6. 使用胶密封液体滴加口,胶干燥后即可进行原位液体观测。 ZB-NS0300原位TEM液体芯片剖面图 ZB-NS0300原位SEM液体芯片剖面图

原位微区相关的仪器

  • 产品简介通过MEMS芯片对样品施加力学、电场、热场控制,在原位样品台内构建力、电、热复合多场自动控制及反馈测量系统,结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式,实现从纳米层面实时、动态监测样品在真空环境下随温度、电场、施加力变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等关键信息。我们的优势力学性能1.高精度压电陶瓷驱动,纳米级别精度数字化精确定位。2.实现1000℃加热条件下压缩、拉伸、弯曲等微观力学性能测试。3.nN级力学测量噪音。4.具备连续的载荷-位移-时间数据实时自动收集功能。5.具备恒定载荷、恒定位移、循环加载控制功能,适用于材料的蠕变特性、应力松弛、疲劳性能研究。优异的热学性能1.高精密红外测温校正,微米级高分辨热场测量及校准,确保温度的准确性。2.超高频控温方式,排除导线和接触电阻的影响,测量温度和电学参数更精确。3.采用高稳定性贵金属加热丝(非陶瓷材料),既是热导材料又是热敏材料,其电阻与温度有良好的线性关系,加热区覆盖整个观测区域,升温降温速度快,热场稳定且均匀,稳定状态下温度波动≤±0.1℃。4.采用闭合回路高频动态控制和反馈环境温度的控温方式,高频反馈控制消除误差,控温精度±0.01 ℃。5.多级复合加热MEMS芯片设计,控制加热过程热扩散,极大抑制升温过程的热漂移,确保实验的高效观察。优异的电学性能1.芯片表面的保护性涂层保证电学测量的低噪音和精确性,电流测量精度可达皮安级。2.MEMS微加工特殊设计,同时加载电场、热场、力学,相互独立控制。智能化软件1.人机分离,软件远程控制纳米探针运动,自动测量载荷-位移数据。2.自定义程序升温曲线。可定义10步以上升温程序、恒温时间等,同时可手动控制目标温度及时间,在程序升温过程中发现需要变温及恒温,可即时调整实验方案,提升实验效率。3.内置绝对温标校准程序,每块芯片每次控温都能根据电阻值变化,重新进行曲线拟合和校正,确保测量温度精确性,保证高温实验的重现性及可靠性。技术参数类别项目参数基本参数杆体材质高强度钛合金控制方式高精度压电陶瓷倾转角α≥±20°,倾转分辨率<0.1°(实际范围取决于透射电镜和极靴型号)适用电镜Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi适用极靴ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP(HR)TEM/STEM支持(HR)EDS/EELS/SAED支持应用案例600°C高温下铜纳米柱力学压缩实验以形状尺寸微小或操作尺度极小为特征的微机电系统 (MEMS)越来越受到人们的高度重视 , 对于尺度在 100μm 量级以下的样品 , 会给常规的拉伸和压缩试验带来一系列的困难。纳米压缩实验 , 由于在材料表面局部体积内只产生很小的压力 , 正逐渐成为微 / 纳米尺度力学特性测量的主要工作方式。因此 , 开展微纳米尺度下材料变形行为的实验研究十分必要。为了研究单晶面心立方材料的微纳米尺度下变形行为 , 以纳米压缩实验为主要手段 , 分析了铜纳米柱初始塑性变形行为和晶体缺陷对单晶铜初始塑性变形的影响。结果表明铜柱在纳米压缩过程中表现出更大程度的弹性变形。同时对压缩周围材料发生凸起的原因和产生的影响进行了分析 , 认为铜纳米柱压缩时周围材料的凸起将导致纳米硬度和测量的弹性模量值偏大。为了研究表面形貌的不均匀性对铜纳米柱初始塑性变形行为的影响 , 通过加热的方法 , 在铜纳米柱表面制备得到纳米级的表面缺陷 , 并对表面缺陷的纳米压缩实验数据进行对比分析 , 结果表明表面缺陷的存在会极大影响铜纳米柱初始塑性变形。通过透射电子显微镜 ,铜纳米柱压缩点周围的位错形态进行了观察 , 除了观察到纳米压缩周围生成的位错 , 还发现有层错、不全位错及位错环的共存。表明铜纳米柱的初始塑性变形与位错的发生有密切的联系。
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  • 定制化原位显微光学/光谱学测试系统Customized In-situ Optical / Spectroscopic MicroscopeSystem我公司集成了自主研发的激光自动聚焦等自动化功能的核心光学/光谱学模组均采用模块化设计,物镜下方没有任何零部件占用空间,并且具备完整的软硬件接口,可以方便地集成到客户的工况环境或者研究机台上,为客户提供定制化的测试系统。技术特色:激光自动聚焦:&bull 显微光学和光谱学模组都可配备激光自动聚焦模块。
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  • RESOlution 激光微区原位同位素分析与定年系统能够分析安装在两种样品支架上的多个样品。惰性气体样品池通过GeoStar软件与RESOlution系统集成,通过波纹管将样品池连接到质谱仪,每台设备标配一个可装载43个锥形样品的支架和一个多尺寸平底样品支架。同时可选购多个样品支架或根据要求定制支架样式,除He可视化分布和热历史重建等应用外,RESOchron 系统能够更准确和更高性价比地测得热年代学年龄和地质年代学年龄。技术指标:1、激光脉冲宽度:5-7ns;2、脉冲能量:12mJ;3、脉冲能量稳定性:2%RSD;4、重复频率:300Hz;5、能量密度:20 J/cm2;6、样品台移动范围:155x105mm;7、重量:750kg(1600 lbs.)。RESOchron双定年优势:1、在单一矿物上快速测定(U-Th)/Pb和(U-Th-Sm)/ He年龄;2、避免了使用危险化学品进行矿物溶解;3、在先前只能获得一个年龄的测试时间内,现在可获得多达50个矿物年龄。RESOlution 激光微区原位同位素分析与定年系统易于掌握,用户培训耗时短,使用方便,结合成熟的RESOlution和AlphachronTM技术,可与远程用户协作的、免费的、有离线分析点选取功能的软件,提高仪器使用效率,可连续监测激光的输出能量,独特的结构化界面对于用户来说简单易学,同时还有许多实验室人员需要的强大功能,使用电动离轴观察系统和高分辨率相机对样品池中的样品进行成像,所有这些操作都通过GeoStar软件轻松控制。
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原位微区相关的试剂

原位微区相关的方案

  • 铀矿fs-LA-ICP-MS 原位微区U-Pb 定年
    利用飞秒激光剥蚀电感耦合等离子体质谱(fs-LA-ICP-MS)对锆石和铀矿之间的Pb/U 分馏行为, 以及纳米比亚白岗岩中晶质铀矿进行了详细的原位微区U-Pb 年代学研究.结果表明, fs-LA-ICP-MS 分析过程中铀矿和锆石之间表现出显著不同的Pb/U 分馏行为, 利用锆石标准物质M257 校正铀矿U-Pb 定年标准物质GBW04420 得到的年龄偏大17%. 因此,*的铀矿LA-ICP-MS 原位微区U-Pb 定年需要基体匹配的标准物质进行校正. 以GBW04420 为外标, 利用fs-LA-ICP-MS 在10 ?m, 1 Hz 激光条件, 同时配备信号匀化装置(SSD)的前提下, 对两个来自纳米比亚罗辛(Rossing)铀矿床东南侧欢乐谷(Gaudeanmus)地区的白岗岩岩石薄片中晶质铀矿进行了分析. 其中一个样品给出的U-Pb 谐和年龄为(507± 1)Ma(2?, n=21), 两个样品206Pb/238U 加权平均年龄分别为(504± 3) Ma(2?, n=21)和(503± 3)Ma(2?, n=22). 分析结果与前人的热电离质谱为基础的同位素稀释法(ID-TIMS)结果一致((509± 1)和(508± 12) Ma). 同时与铀矿共生锆石给出的U-Pb 上交点年龄结果((506± 33)Ma(2?, n=29)和(501± 51) Ma (2?, n=29))在误差范围内相同. 由于共生高U 锆石严重的Pb 丢失, 所以铀矿定年相对于共生锆石定年结果更为*可靠. GBW04420 是一个可以用于铀矿原位微区U-Pb 同位素准确定年的标准物质.
  • 飞秒激光剥蚀MC-ICP-MS法测定硫化物原位微区硫同位素标准的制备(英文原文)
    在使用标准样品进行原位微区硫同位素测定时,我们制备了一系列粉末压片和黄铜矿玻璃标准样品来纠正质量偏差。采用飞秒激光剥蚀多收集器电感耦合等离子体质谱法(fsLA-MC-ICP-MS)测定了标准样品的硫同位素组成。黄铜矿玻璃(YN411-m)是将黄铜矿在N2保护条件下于1000° C融化,然后快速淬火制成。采用fsLA-MS-ICP-MS对YN411-m进行了多次均匀性测定,外部精度为0.28‰(n = 35)。当测定黄铜矿(GC)δ 34S时,使用矿物颗粒、粉末压片、黄铜矿玻璃片作为标准。结果表明,基体效应是由浓度、元素组成和晶体结构引起的。从实用性考虑,熔融玻璃比粉状压片更合适作为标准样品。我们还发现载气流量、激光通量和光斑尺寸对结果的规律性有影响。因此,我们可以不使用匹配的标准样品,通过调整激光和MC-ICP-MS的参数来获得准确的δ 34S结果。此外,fsLA-MC-ICP-MS由于可以极大地提高灵敏度、空间分辨率(10 - 20μ m)因此非常有利于原位微区硫同位素测定。可以通过分析较小的矿物微区,特别是成矿后期充填的硫化物矿物,来解释多成因矿床的成因
  • 微根窗技术原位监测黄瓜根系的生长
    MS-190原位植物根系分析仪采用经典的微根窗技术,可原位观察和研究植物的根、菌根、甚至根瘤的生长、死亡及分布(根系构型)规律;结合专业根系分析软件,量化分析根的长度、面积、根尖数量、直径、分布格局、活根及死亡根的数量等。

原位微区相关的论坛

  • 求找能做辰砂原位微区微量元素分析的机构

    各位大佬,本人目前有几个辰砂树脂靶样想利用LA-(MC)-[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/yp][color=#3333ff]ICP-MS[/color][/url]做原位微区微量元素分析,辰砂的主要成分是硫化汞,我问了很多机构都说做不了,请问诸位大佬们知道哪里能做么?

原位微区相关的资料

原位微区相关的资讯

  • 线上讲座 | 原位空间微纳尺度微区扫描电化学原理及应用
    线上讲座 | 原位空间微纳尺度微区扫描电化学原理及应用 主讲: 黄建书 博士, 阿美特克科学仪器部应用经理 讲座简介:传统的电化学方法基于样品的宏观平均响应表征,在局部腐蚀、能源材料、光/电催化活性、电致变色、微流控组装,生物医学、多维梯度材料等研究方面,面临诸多挑战。国内外相关研究表明,微区扫描电化学技术以其原位微纳尺度空间分辨率等特点,在上述热门研究方面显示出巨大优势及广阔应用前景。 主讲人: 黄建书博士,目前任阿美特克公司科学仪器部应用经理。主要负责普林斯顿及输力强电化学产品的技术支持,应用开发,市场推广等方面工作。多年来与国内外大学,科研单位及企业研发机构保持密切合作,尤其在原位超高空间分辨率微区扫描电化学应用方面积累了大量经验。曾多次在国内外学术会议上,进行普林斯顿及输力强电化学前沿应用报告。 主要内容: 金属及涂层表面腐蚀过程的演化分析 水分解,氧还原等光电催化活性位分布研究 电池电极材料离子脱嵌动力学表征 为了便于您时间安排,本次应用讲座,将连续举办两场,请您选择合适时间报名参加 第一场: 6月30日14:00-15:30 第二场: 7月07日14:00-15:30
  • AFSEM原位微区表征系统 助力新型纳米探针构筑及纳米热学成像研究
    获取材料甚至是器件整体的热学特性,是相关研究与开发当中非常有意义的课题。随着研究对象特征尺寸的不断减小,研究者们对具有高热学分辨率和高水平方向分辨率的表面温度表征方法以及与之相应的仪器的需求也日益显著。在诸多潜在的表征技术当中,扫描热学显微镜(Scanning Thermal Microscopy)是其中颇为有力的一种,它可以满足特征线度小于100 nm的研究需求。然而,这种表征方法,对纳米探针的结构及功能特性有比较高的要求,目前商用的几种纳米探针受限于各自的结构特点,均有一定的局限性而难以满足相应要求,也就限制了相应表征方法的发展与应用。着眼于上述问题,奥地利格拉茨技术大学的H. Plank团队提出了基于纳米热敏电阻的三维纳米探针,用于实现样品表面温度信息的超高分辨表征。相关成果于2019年六月发表在美国化学协会的期刊ACS Applied Materials & Interfaces上(ACS Appl. Mater. Interfaces, 2019, 11, 2522655-22667. Three-Dimensional Nanothermistors for Thermal Probing.)。 图1 三维热学纳米针的概念、结构、研究思路示意图 H. Plank等人提出的这种三维纳米探针的核心结构是一种多腿(multilegged)纳米桥(nanobridge)结构,它是利用聚焦离子束技术直接进行3D纳米打印而获得的,因而可以直接制作在(已经附有许多复杂微纳结构与微纳电路、电的)自感应悬臂梁上(self-sensing cantilever, SCL)。由于纳米桥的每一个分支的线度均小于100 nm,因而需要相应的表征策略与技术来系统分析其纳米力学、热学特性。为此,H. Plank研究团队次采用了有限元模拟与SEM辅助原位AFM(scanning electron microscopy-assisted in situ atomic force microscopy)测试相结合的策略来开展相应的研究工作,并由此推导出具有良好机械稳定性的三维纳米桥(垂直刚度达到50 N/m?1)的设计规则。此后,H. Plank引入了一种材料调控方法,可以有效提高悬臂梁微针的机械耐磨性,从而实现高扫描速度下的高质量AFM成像。后,H. Plank等人论证了这种新式三维纳米探针的电响应与温度之间的依赖关系呈现为负温度系数(?(0.75 ± 0.2) 10?3 K?1)关系,其探测率为30 ± 1 ms K?1,噪声水平在±0.5 K,从而证明了作者团队所提出概念和技术的应用潜力。 图2 三维热学纳米针的制备及基本电学特性 文中在进行三维纳米探针的力学特性及热学响应方面所进行的AFM实验中,采用了原位AFM技术,堪称一大亮点。研究所用的设备为奥地利GETec Microscopy公司生产的AFSEMTM系统,AFSEMTM系统基于自感应悬臂梁技术,因此不需要额外的激光器及四象限探测器,即可实现AFM的功能,从而能够方便地与市场上的各类光学显微镜、SEM、FIB设备集成,在各种狭小腔体中进行原位的AFM测试。此外,通过选择悬臂梁的不同功能型针,还可以在SEM或FIB系统的腔体中,原位对微纳结构进行磁学、力学、电学特性观测,大程度地满足研究者们对各类样品微区特性的表征需求。着眼于本文作者的研究需求来讲,比如探针纳米桥的分支在受力状态下的力学特性分析,只有利用原位的AFM表征技术,才可以同时获取定量化的力学信息以及形貌改变信息。当然,在真空环境下使用原位AFM系统表征微区的力、热、电、磁信息的意义远不止于操作方便或同时获取多种信息而已。以本文作者团队所关注的微区表面热学分析为例,当处于真空环境下时,由于没有减小热学信息成像分辨率的、基于对流的热量转移,因而可以充分发挥热学微纳针的潜能,探测到具有高水平分辨率的热学信息。 图3 利用AFSEM在SEM中原位观测nanobridge的力学特性 图4 将制备所得的新型纳米热学探针安装在AFSEM上,并在SEM中进行原位的形貌测量:a)SEM图像;b)AFM轮廓图像
  • 150万!清华大学材料特征微区原位拉伸形貌分析仪购置项目
    项目编号:BIECC-22ZB0952/清设招第2022433号项目名称:清华大学材料特征微区原位拉伸形貌分析仪购置项目预算金额:150.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):150.0000000 万元(人民币)采购需求:用于对各类材料在施加力情况下分析其显微形态学变化,微区拉伸、压缩下材料各个位置状态变化,从而了解材料在不同载荷的失效情况。对于材料服役条件下的性能可以进行深入了解分析。进而为材料设计工艺改进,新产品研发具有很大帮助。具体要求详见第四章。包号名 称数量01材料特征微区原位拉伸形貌分析仪1套合同履行期限:合同签订后270日内交货本项目( 不接受 )联合体投标。
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