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  • 大型有机玻璃柱(带分布系统)
    上海楚定自产的层析柱适用于分子筛,离子交换,凝胶渗透与亲和层析。设计先进,装柱简便,洗脱"死体积"小,具有良好的耐化学腐蚀性,是生物化学、石油化工、化学分析、疾病诊断等实验室及化学制药的中试及大规模生产必备的最佳层析工具。 该产品结构合理,使用方便,能保护凝胶面不受液流的破坏,层析流动分布均匀,从而能提高分辨率。配套的层析柱转换接头,结构合理,能保护凝胶面不受液流的破坏,层析流动分布均匀和分辨率高等优点。转换接头,可根据需要,调节长短150mm左右,特殊长短可另行订制。系列产品包括:大型增压玻璃层析柱;高压水冷夹套层析柱;中压大型有机玻璃层析柱(带分布器),各种层析柱座架等。列层析柱适用于分子筛,离子交换,凝胶渗透与亲和层析。设计先进,装柱简便,洗脱"死体积"小,具有良好的耐化学腐蚀性,是生物化学、石油化工、化学分析、疾病诊断等实验室及化学制药的中试及大规模生产必备的最佳层析工具。 该产品结构合理,使用方便,能保护凝胶面不受液流的破坏,层析流动分布均匀,从而能提高分辨率。配套的层析柱转换接头,结构合理,能保护凝胶面不受液流的破坏,层析流动分布均匀和分辨率高等优点。转换接头,可根据需要,调节长短150mm左右,特殊长短可另行订制。系列产品包括:大型增压玻璃层析柱;高压水冷夹套层析柱;中压大型有机玻璃层析柱(带分布器),各种层析柱座架等。 货号 内径(cm) 长度(cm) CD-0301 10cm 50cm CD-0302 10cm 100cm CD-0303 20cm 50cm CD-0304 20cm 100cm CD-0305 30cm 50cm CD-0306 30cm 100cm CD-0307 40cm 50cm CD-0308 40cm 100cm CD-0309 50cm 50cm CD-0310 50cm 100cm CD-0311 60cm 50cm CD-0312 60cm 100cm CD-0313 70cm 50cm CD-0314 70cm 100cm
  • 大型有机玻璃层析柱(带分布系统)
    配套的层析柱转换接头,结构合理,能保护凝胶面不受液流的破坏,层析流动分布均匀和分辨率高等优点。转换接头,可根据需要,调节长短150mm左右,特殊长短可另行订制。系列产品包括:大型增压玻璃层析柱;高压水冷夹套层析柱;中压大型有机玻璃层析柱(带分布器),各种层析柱座架等。列层析柱适用于分子筛,离子交换,凝胶渗透与亲和层析。设计先进,装柱简便,洗脱"死体积"小,具有良好的耐化学腐蚀性,是生物化学、石油化工、化学分析、疾病诊断等实验室及化学制药的中试及大规模生产必备的最佳层析工具。 该产品结构合理,使用方便,能保护凝胶面不受液流的破坏,层析流动分布均匀,从而能提高分辨率。配套的层析柱转换接头,结构合理,能保护凝胶面不受液流的破坏,层析流动分布均匀和分辨率高等优点。转换接头,可根据需要,调节长短150mm左右,特殊长短可另行订制。系列产品包括:大型增压玻璃层析柱;高压水冷夹套层析柱;中压大型有机玻璃层析柱(带分布器),各种层析柱座架等。 货号 内径(cm) 长度(cm) CD-0301 10cm 50cm CD-0302 10cm 100cm CD-0303 20cm 50cm CD-0304 20cm 100cm CD-0305 30cm 50cm CD-0306 30cm 100cm CD-0307 40cm 50cm CD-0308 40cm 100cm CD-0309 50cm 50cm CD-0310 50cm 100cm CD-0311 60cm 50cm CD-0312 60cm 100cm CD-0313 70cm 50cm CD-0314 70cm 100cm
  • 大型有机玻璃柱(带分布系统)
    HM系列层析柱适用于分子筛,离子交换,凝胶渗透与亲和层析。设计先进,装柱简便,洗脱"死体积"小,具有良好的耐化学腐蚀性,是生物化学、石油化工、化学分析、疾病诊断等实验室及化学制药的中试及大规模生产必备的最佳层析工具。 该产品结构合理,使用方便,能保护凝胶面不受液流的破坏,层析流动分布均匀,从而能提高分辨率。 大型有机玻璃柱(带分布系统) 单位:cm 金额:元/支 内径10 内径20 内径25 内径30 内径40 内径50 长度 单价 长度 单价 长度 单价 长度 单价 长度 单价 长度 单价 50 1020 50 1440 50 1560 50 1920 50 2980 50 3500 100 1200 100 1595 100 2160 100 2640 100 3620 100 4200

分布相关的仪器

  • 光谱角分布测量系统■ 全波段光谱透过率测量,反射角分布测量■ 全波段光谱反射率测量,反射角分布测量■ 波长范围:200nm-IR■ 不同的光谱范围可能需要不同的光学光路设计结构■ 双层平台独立旋转,重复定位精度0.005度,分辨率0.00125度;■ 样品置于上层旋台,探测器置于下层旋台,样品和探测器可以任意角度工作;■ 台面上放置一个五维调整镜座,可将样品调整到旋台的旋转中心并且垂直于台面■ 功能扩展:测量光栅衍射效率
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  • 一、荧光分布成像系统(EEM View)简介 作为荧光分光光度计的配件系统,这是全球首创将相机与荧光分光光度计的完美结合,融合了智能算法的先进技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。 新型荧光分布成像系统可安装到日立F-7000/71000荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球漫反射后均匀照射到样品,利用荧光光度计标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱,积分球下方的CMOS相机可获得样品图像,并利用独特的AI光谱图像处理算法,可以同时得到反射和荧光成分图像。 二、 荧光分布成像系统特点: 1. 可以全面测定样品的光谱数据(反射光、荧光特性)在不同光源条件下(白光和单色光)拍摄样品图像,(区域:Φ20mm、空间分辨率:0.1 mm左右、波长范围:360-700nm),同时利用先进的光谱算法,分别显示荧光图像和反射图像, 根据图像可获得不同区域的光谱信息(荧光光谱、反射光谱)荧光分布成像系统软件分析(EEM View Analysis)界面(样品:LED电路板)2. 样品安装简单,适用于各种样品测试样品只需摆放到积分球上,安装十分简单!丰富的样品支架支持精确测量的校正工具 荧光分布成像系统是一种全新的技术,将它配置到荧光分光光度计中,改变了常规荧光光度计只能获得样品表面区域平均化信息的现状,可以查看样品图像任意区域的光谱信息,十分适合涂料、材料、油墨、LED、化工等领域。
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  • 分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL描述:分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL50-1800是新型A类测角光度计,专为R&D实验室和产品符合性测试中心实验室而设计,可调节远场光度和色度测量系统,在H,V轴坐标中对汽车LED和其他类型灯具的发光强度分布进行光度测试,分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL适用于汽车,铁路和其他车辆前照灯的快速准确测量,还可用于交通信号灯和机场照明系统的光度表征。可以测量的技术参数包括:发光强度分布,极坐标图,圆锥图,光通量,中心光束强度,相关色温,显色指数,麦克亚当椭圆,角度颜色均匀性,还可选测发光效率,功率因数和温度。 分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL工作原理:测角仪是一种带有旋转轴的仪器,用于测量光通量和照明设备或光源的发光强度分布。发光强度可通过在固定距离处以不同方向旋转的照明设备进行照度(远场)或照度(近场)测量获得。利用足够的角度步长和范围,可以通过汇总每个测量方向上的所有发光强度来计算照明设备的光通量。根据发光强度分布,可以推断出照明应用的属性,例如横向/纵向等照度曲线或圆锥图。测角仪的类型基本上可以分为1组,2组和3组,也称为A类,B类和C类,它们的区别在于在测量过程中照明设备的旋转方式以及在这种测量过程中获得的光度数据系统。 A类测角仪具有固定的水平轴和垂直于第一轴的移动轴。通过围绕水平轴旋转光源,同时将另一个轴保持在固定位置(旋转vs高度)来进行测量。A类测角仪是表征光束相对有限的汽车照明的理想选择。 B类测角仪具有固定的垂直轴和移动的水平轴。通过围绕垂直轴旋转光源,同时将另一个轴保持在固定位置(高度vs旋转)来进行测量。B类适用于显示器和泛光灯。 C类测角仪是高度专业化的类型,具有固定的垂直轴和移动的水平轴。在C平面或圆锥面上进行测量。C类测角仪与B类相同,只是光源旋转了90°。 国际标准建议将这种类型用于一般照明系统。 分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL产品亮点: l A类测角仪,配备3个机械化H,V和Z轴以及DUT移动x,y机械安装台l 激光对准系统带有反射镜和系统控制选件,有助于校准系统垂直和水平对准 l 软件界面友好,操作简单l 机电一体化组件,自动化程度高l 可控制和可编程功能,坚固耐用 l 符合相关标准,测量准确可靠 分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL应用范围: l 大型LED模块和大型照明设备。 l 符合标准: CIE 121-1996, IESNA LM-75-01 升级选项:l 可选用于测试汽车前照灯的外围设备。 分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL技术参数:CIE 测角仪类型:远场Type A 包含H,V轴和X,Y,Z方向运动DUT移动x,y机械台5轴伺服电机与绝对位置编码器H轴运动:角度范围± 100°,额定转矩555 Nm,速度高达10 °/sH轴分辨率:0.002° H轴再现性:0.05° * (*额定负载时) V轴运动:角度范围± 180°,额定转矩98 Nm,速度高达50°/sV轴分辨率:0.002° V轴再现性:0.05° * (*额定负载时)Z轴运动:线性范围0-800 mm,起重力高达1500NZ轴再现性:70 μmX,Y轴运动:线性范围± 150 mm,速度高达40 mm/sX,Y再现性:70 μmDUT安装板:方形400x400 mm,多个 M6 安装孔最大DUT尺寸:≤ 1800 mm(对称定位)产品尺寸(W x H x D):810 x 2020 x 1990 mm光轴高度:1350 mm最小房间高度:2600 mm最小房间宽度:4000 mm最大负载:50 kg产品重量:450 kg电源:AC 110-230V, 3000 W控制器:用于所有电机的内部控制器 通过局域网连接PC 制造商远程支持功能 机身设有7英寸液晶触摸显示屏 DUT固定期间可操作所有轴的手动控制器安全性:设备两侧设有紧急停止按钮,可选安全设备包含激光扫描仪或光栏传感器选项:GL Photometer 3.0 LS + Flicker GL Spectis 1.0 LS GL Spectis 4.0
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分布相关的试剂

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  • 光源相对光谱能量分布测量
    随着新型光源的不断产生,光源的光谱分辨率在测量中变得日益重要,而光源的光色特性及其表征量如色坐标、色温和显色指数等是由光源的光谱能量分布决定的,所以需要更好地了解光源的光谱分布特性。一般的光源是不同波长的色光混合而成的复色光,如果将它的光谱中每种色光的强度用分光光度计测量出来,就可以获得不同波长色光的辐射强度的数值。本文介绍使用紫外可见分光光度计测量光源相对光谱能量分布的方法。
  • 荧光体树脂片的图像和光谱分布测量
    传统荧光分光光度计只能提供测试区域内的平均荧光信息,日立F-7100通过安装荧光分布成像系统可以获取样品荧光图像,反射图像,荧光光谱分布,反射光谱分布等多方面的信息。为客户提供样品更全面的信息,启发科研新思路!
  • 样品年份_化学值分布参数对近红外检测结果的影响
    以云南优质烤烟为实验材料!在国产光栅漫反射型近红外仪器上!比较研究了不同年份样品建模'不同化学值分布建模对近红外检测结果的影响"结果表明&总糖'尼古丁组分模型偏差受年份影响较大!总氮组分模型偏差与样品年份关系不明显"烤烟组分的不同化学值分布建模结果表明&用化学值按自然正态分布的样品建立模型的结果优于按均匀分布建模的结果"该研究对从大量天然产物样品中挑选代表性样品时所采用的挑选方法和原则具有指导性的参考价值"

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  • 正态分布和t分布的关系怎样?

    正态分布和t分布的关系怎样?

    一级注册计量师教材第252页有:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/03/201303182131_430889_1626275_3.jpg这里说到了正态分布,又说t分布。正态分布和t分布的关系怎样呢?

  • 【求助】什么是窄分布,宽分布,

    各位老师好,学生是菜鸟一个,请教:什么是窄分布,宽分布以及什么是窄分布进样,宽分布进样.GPC系统启动后,有一个"平衡30分钟/清洗20分钟/测试60分钟"是什么意思.谢谢赐教

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  • 日立发布荧光分布成像系统新品
    一、荧光分布成像系统(EEM View)简介 作为荧光分光光度计的配件系统,这是全球首创将相机与荧光分光光度计的完美结合,融合了智能算法的先进技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。 新型荧光分布成像系统可安装到日立F-7000/71000荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球漫反射后均匀照射到样品,利用荧光光度计标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱,积分球下方的CMOS相机可获得样品图像,并利用独特的AI光谱图像处理算法,可以同时得到反射和荧光成分图像。 二、 荧光分布成像系统特点: 1. 可以全面测定样品的光谱数据(反射光、荧光特性)在不同光源条件下(白光和单色光)拍摄样品图像,(区域:Φ20mm、空间分辨率:0.1 mm左右、波长范围:360-700nm),同时利用先进的光谱算法,分别显示荧光图像和反射图像, 根据图像可获得不同区域的光谱信息(荧光光谱、反射光谱)荧光分布成像系统软件分析(EEM View Analysis)界面(样品:LED电路板)2. 样品安装简单,适用于各种样品测试样品只需摆放到积分球上,安装十分简单!丰富的样品支架支持精确测量的校正工具荧光分布成像系统是一种全新的技术,将它配置到荧光分光光度计中,改变了常规荧光光度计只能获得样品表面区域平均化信息的现状,可以查看样品图像任意区域的光谱信息,十分适合涂料、材料、油墨、LED、化工等领域。创新点:创新点主要有两个方面:硬件方面:全球首创将将荧光分光度计与CMOS相机结合在一起,能够同时观察样品光谱和图像的技术。软件方面:运用了智能光谱算法,可以获取样品任意区域的光谱信息。常规的荧光分光光度计测得的是样品表面信息平均化的信号,得到的是一条荧光光谱,这个新的系统能够对样品表面进行分区,从而获得不同区域的光谱信号,使得光谱信息细致化了。 荧光分布成像系统
  • 日立发布荧光分布成像系统新品
    1. 荧光分布成像系统(EEM View)简介作为荧光分光光度计的配件系统,这是全球首创将相机与荧光分光光度计的完美结合,融合了智能算法的先进技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。 新型荧光分布成像系统可安装到F-7100荧光分光光度计的样品仓内。入射 光经过积分球的漫反射后均匀照射到样品,利用F-7100标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱,结合积分球下方的CMOS相机可获得样品图像,并利用独特的AI光谱图像处理算法,可以同时得到反射和荧光图像。 2. 荧光分布成像系统特点:? 测定样品的光谱数据(反射光、荧光特性)? 在不同光源条件下(白光和单色光)拍摄图像 (区域:Φ20mm、空间分辨率:0.1 mm左右、波长范围:360-700nm)? 利用自主研发的分析系统1),分开显示荧光图像和反射图像? 根据图像可获得不同区域的光谱信息(荧光光谱、反射光谱)1) 国立信息学研究所 佐藤IMARI 教授?郑银强副教授共同研究成果荧光分布成像系统软件分析(EEM View Analysis)界面(样品:LED电路板)样品安装简单,适用于各种样品测试样品只需摆放到积分球上,安装十分简单!丰富的样品支架支持精确测量的校正工具总结以上为荧光分布成像系统的特点和功能结束,这是一种全新的技术,将它配置到荧光分光光度计中,改变了常规荧光光度计只能获得样品表面区域平均化信息的现状,可以查看样品图像任意区域的光谱信息,十分适合涂料、材料、油墨、LED、化工等领域。创新点:创新点主要有两个方面:硬件方面:全球首创将将荧光分光度计与CMOS相机结合在一起,能够同时观察样品光谱和图像的技术。软件方面:运用了智能光谱算法,可以获取样品任意区域的光谱信息。常规的荧光分光光度计测得的是样品表面信息平均化的信号,得到的是一条荧光光谱,这个新的系统能够对样品表面进行分区,从而获得不同区域的光谱信号,使得光谱信息细致化了。 荧光分布成像系统
  • 复合荧光材料的量子产率分布测量
    1. 引言量子产率是评价荧光材料发光效率的重要参数,复合荧光材料通常由两种或两种以上的材料组成,依据样品的量子产率分布可以确认每种成分的发光效率,助力于样品的精细化分析。 日立荧光分布成像系统能够同时获取样品图像和光谱信息,从而实现精细化测量,此次实验测定了复合荧光材料的量子产率分布。 2. 应用数据 2.1 附件介绍荧光分布成像系统是荧光分光光度计的新附件,包含软件和硬件两部分。入射光通过附件中的积分球均匀照射到样品,通过荧光分光光度计的检测器获取荧光光谱,利用积分球下方的CMOS相机同时获取样品荧光和反射图像。图1 荧光分布成像系统安装示例利用样品的反射图像计算出吸收量,利用荧光图像计算出荧光量,从而计算得到量子产率分布图像。 图2 量子产率分布图像计算过程 2.2 实验部分 实验材料 样品:复合荧光材料 测量设备:日立F-7100,荧光分布成像系统 结果与分析使用日立F-7100测定样品的三维荧光光谱,通过荧光分布成像系统的分析软件对样品三维荧光光谱进行平行因子分析(PARAFAC),得到如图两种成分。图3 样品的三维荧光光谱 通过荧光分布成像系统中的智能光谱算法,将拍摄的样品图像分离为反射成分图像和荧光成分图像,如图所示。图4 样品的拍摄图像和反射、荧光图像在荧光分布成像系统软件中,可以将不同激发波长下样品的图像信息保存为如下缩略图,直接用于文档中。图5 不同激发波长下的样品图像(缩略图)对获得的样品荧光图像和反射图像进行分区,如下图将样品测量区域分成5x5的格子,选取不同的格子,坐标系中便显示对应的光谱。图中选取的两个位置分别对应平行因子分离出的成分1和成分2。图6 样品的荧光图像和荧光光谱图7 样品的反射图像和反射光谱基于以上样品的荧光图像和反射图像,软件自动计算出对应的量子产率分布图像,如下图,通过点击图像中不同的区域,可以获得对应的量子产率曲线。图8 量子产率分布和不同激发波长的量子产率因此使用荧光分布成像系统将样品在不同激发波长下的拍摄图像分离为反射图像和荧光图像,可以计算出影响荧光材料发光效率的量子产率分布图,样品中黄色区域的量子产率约60%,红色区域的量子产率约35%。 3. 总结 荧光分布成像系统是日立首创的全新技术,与日立超高扫描速度的荧光分光光度计联用,助力客户实现更精细化的荧光分析。拨打电话400 630 5821,获取更多信息!
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