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产品特点：Colour Rating Booklet ASTM - 16200-0订货号：16200-0METHODS ASTM D2276ASTM D2276 Standard test method for particulate contaminant in aviation fuel by line samplingColour rating booklet for use with the SSAFCON Sampler (16160-2).

泰州石墨烯研究检测平台是泰州市政府与泰州巨纳新能源有限公司共同成立的国内 石墨烯性能测试与结构表征的综合性研究及检测机构。平台目前建有近千平方米的检测洁净室，拥有高分辨拉曼光谱仪、原子力显微镜、三维共聚焦显微镜、电子束曝光系统、近场光学显微镜等国际先进的新材料性能检测及结构表征设备。平台致力于在石墨烯等高新碳材料以及新型低维材料（如各类二维材料、量子点）等领域提供全面专业的检测及表征服务。泰州石墨烯研究检测平台相关检测服务：微区形貌表征：表面洁净度、平整性、层数或厚度判定、均匀性分析等原子结构表征：原子缺陷、层间堆垛方式、电子能带结构等光学性能表征：紫外到红外波段透射、反射、吸收性能等成分检测及分析：元素含量与比率、官能团分析等电学、力学、热学、电化学性能表征等各种定制研究检测服务（如二维材料的光电响应测试）等 检测项目检测内容描述二维材料光电响应测试二维材料的光电响应测试定制化分析实验方案协助制定、数据分析整体解决方案原子力显微镜（AFM）检测石墨烯层数/厚度，尺寸，AFM图像光学显微分析石墨烯层数/厚度，尺寸，对比度分析，光学显微图片荧光显微分析发光样品显微图片3D显微分析石墨烯均匀性，表面起伏度，表面残余物检测拉曼（Raman）光谱分析（单谱） 石墨烯洁净度，层数，掺杂浓度，缺陷含量等拉曼（Raman）光谱分析 （单谱+成像）石墨烯洁净度，层数，掺杂浓度，缺陷含量等扫描电子显微镜（SEM）检测样品微观形貌（分辨率10nm）超高分辨场发射扫描电镜检测获取显微形貌、元素组成及分布信息生物型透射电镜获取显微形貌，适合对分辨率不高但是衬度要求高的高分子、生物型样品透射电子显微镜（TEM）检测获取显微形貌截面离子束抛光用离子束抛光，去除表面应力层，适合复杂样品的EBSD的采集，以及截面样品的SEM观察离子束平面研磨高分辨透射电子显微镜（TEM）检测样品高分辨形貌（分辨率1nm）,衍射图（结晶度，晶格取向等）低真空场超高分辨场发射扫描电镜检测获取显微形貌、元素组成及分布信息 变温光学显微镜获取样品的显微形貌，具有明场、暗场、偏光、微分干涉等模式电子背散射衍射—STEM检测获取微观取向信息，可用于晶粒度、晶界、织构、应力等分析X射线光电子能谱（XPS）表面元素含量及化学价态(氧含量分析，成键态),结晶性能等紫外可见吸收光谱分析200-3300nm薄膜、溶液的透射率，吸收率等红外光谱分析（FTIR）红外波段透射（350-7800cm-1），有机物官能团分析等X射线荧光光谱分析元素的定量和半定量分析直读光谱分析获取样品的成分灰分测试获取样品的灰分能谱仪分析获取样品的元素成分和分布，微区域元素的定性和半定量分析等离子体发射光谱元素分析分析样品中无机元素的准确成分及定量辉光放电质谱分析H以外的所有元素，包括常用分析方法难以测定的C，N，O，P，S等轻元素超低检测限，大多数元素的检测限为0.1～0.001ug/G碳硫元素分析C 和 S 的比例元素分析C H O N S 的比例元素分析同位素质谱元素分析：C、N、S 百分含量 同位素质谱：13C、15N含量离子色谱-阴离子阴离子含量分析电感耦合等离子体质谱痕迹量元素测定电子探针 元素定性分析、定量分析X射线衍射分析结晶度、晶粒大小、层间距等显微红外分析微区样品红外光谱采集液相色谱分析样品有机物质的含量圆二色光谱分析液相色谱质谱联用分析 样品有机物质的含量及具体成分气相色谱易挥发的有机物质的含量气相色谱-质谱联用易挥发的有机物质的具体成分核磁共振分析氢谱、碳谱石墨烯薄膜热传导性能测试石墨烯热导率热重分析测试材料的质量随温度的变化，可用于分析构成的比例热差分析测定样品在程序控制温度下产生的热效应，可分析融点、成分构成、热性能、相转变、结晶动力学等信息同步热分析测量样品的热流、转变温度和重量变化三种信息力学性能测试 （氧化石墨烯纸/薄膜等）拉伸应力、拉伸强度、扯断强度、剪切剥离力、杨氏模量等电阻测试（薄膜样品）薄膜面电阻等比表面积测试(BET)测试样品比表面积椭圆偏振分析平板材料或者薄膜的折射率、反射率、膜厚、吸收系数测定电学性能测试（Transport）迁移率，掺杂浓度等纳米粒度分析纳米粒径的分布微米粒度分析微米粒度的分布PH值测试测量PH值