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计量仪器智能化,仪器利用人工智能等新技术实现智能检测,无需人工参与计量检测过程,同时仪器具备多种网络接口以便实现联网。
我国计量仪器和国外相比存在一定的差距,更严重的是,国外对一些敏感计量仪器限制进口,严重阻碍了我国经济建设和国防建设的发展。例如:我国激光参数计量测试仪器的发展较为落后,与国外发达国家相比存在明显的差距。目前,我国激光参数计量测试仪器的专业研发单位和供应商很少,仅中国计量科学研究院、中科院上海光机所、北京光电技术研究所、物科公司等少数几家,且研发工作处于十分零散的状态。其提供市场的计量测试设备也较片面,绝大多数只能用于较传统的激光产品的计量测试,对于新型激光器和激光产品常常不能提供有效的计量测试。表现在:(1)现有计量检测仪器无法对某些激光输出参量进行计量检测。目前对于激光脉冲宽度、峰值功率、脉冲激光瞬态功率—时间曲线等重要参数,国内尚没有研发出成型的计量检测仪器,对于此类激光参数难以进行计量检测。(2)现有计量检测仪器不适用于某些激光器的工作状态。对于目前大量使用的高脉冲重复率、高平均功率的激光器,国内现有的计量检测仪器难以适应其工作状态。具体而言,国内现有的激光能量计量仪器绝大部分仍是单脉冲测量仪器,在激光器重频工作状态下根本无法进行测量;少量可测重频激光的能量计,其最高使用频率也仅20~40Hz,对于很多高达百Hz乃至数千Hz的激光输出也不适用;在此种情况下国内一般只能使用激光功率计进行平均功率检测,而这种检测方式无法评估激光输出的脉冲能量的稳定性,同时此类激光往往有较高的输出峰值功率,一般激光功率计在测量时极易受到损伤。又如蓝光DVD使用的半导体激光器的测试仪器,国内外产品普遍采用光电探测器作为激光接受器,但国内探测器一般仅在632.8nm进行校准,且没有给出探测器的光谱响应度曲线,致使国产激光功率测量仪器无法准确测量蓝光DVD使用的半导体激光器的输出功率。(3)现有计量检测仪器的量限难以满足一些激光参数的测试要求。目前激光应用的领域十分广阔,某些应用(如激光测距、制导等)需要对极其微弱的光信号(低至10-14~10-15J)进行检测校准,而另一些应用(如万瓦级激光加工机、化学激光器等)又需要对极高的激光输出能量功率(10KW、1MJ)或极高的峰值功率进行检测。国内现有的激光计量检测仪器其测量下限一般仅在10-9W或10-8J量级,测量上限也仅在数千瓦和数百焦尔量级,无法满足上述应用的计量检测需求。同时,我国国产的激光测数计量测试仪器在新技术的消化、吸收和利用上也远远落后于国际仪器行业的发展水平。当国外先进的激光计量检测仪器在5~10年前,早已全面实现智能化,而向虚拟化、网络化仪器发展的今天,国产激光计量测试仪器大部分仍然停留在模拟集成电路和数字化仪器阶段,仅少量的发展至智能化仪器水平,落后国际水平至少15年。国产激光参数计量测试仪器不仅在测量性能上落后于国际水平,在使用功能上亦远远逊色。进口仪器在智能化的基础上利用仪器本身具备的数据处理能力,提供了丰富的测量数据表达形式,直观友好的人机界面,同时通过仪器具备组网功能,依靠主控计算机强大的处理能力,协调多台仪器进行多参数协同测试,利用神经网络、模糊逻辑等算法对获得的原始测量数据进行综合分析,得到精确的测量结果并给出用户习惯的数据表达方式。而国产仪器绝大部分功能单一,根本不具备基本数据处理能力和联机能力。近年来,国外激光参数测量仪器大量进入国内市场。国内传统的激光参数计量检测产品在性能指标、功能多样性、技术水平、工作可靠性、使用便捷程度等方面均存在较明显差距,仅仅依靠价格优势,勉强抵抗国外产品对我国激光参数计量测试仪器市场的冲击。从中国计量科学研究院每年进行校准的激光参数计量检测仪器的情况看,进口仪器设备所占比重已由1995年的不到10%,迅速增长到50%左右。目前激光产品研究和使用单位在经费许可的情况下几乎很少考虑采购国产测试仪器,国产仪器正受到进口仪器猛烈的冲击。在扫描探针显微镜方面(SPM),国内对SPM的研究应当说是比较早的,中国科学院白春礼院士首先研制出我国
[font=宋体]在实际应用中,尽管光学计量仪器多种多样,但它们的光学原理却[color=blue]都基于四种基本原[/color][/font][font=宋体][color=blue]理[/color][/font][font=宋体],它们是:[color=blue]望远光学原理、显微光学原理、投影光学原理、干涉光学原理。[/color][/font][font=宋体]基于应用不同的光学原理,光学计量仪器可分为[color=blue]:自准直类光学计量仪器、显微镜类光学计量仪器、投影类光学计量仪器、光干涉类光学计量仪器四大类。[/color][/font][font=宋体]望远系统主要性能是视角放大率,在观察时用来扩大眼睛对远处物体的视角,用以观察物体。在测量时常被用来产生平行光以进行各种用途的测量,应用此原理的光学计量仪器有:自准直光管、测角仪、立[/font]([font=宋体]卧[/font])[font=宋体]式光学计等。[/font][font=宋体]显微系统的主要性能是较高的放大率。它与放大镜相比,有较高的放大率和分辨本领。可清楚地观察和分辨微小物体和物体的细小部位。应用此原理的光学计量仪器有:工具显微镜、光学分度头、测长仪、测长机、双管显微镜等;[/font][font=宋体]投影系统的主要性能:是较高的、准确的横向放大率。[/font][font=宋体]被测量的形状复杂、细小的物体或物体表面缺陷等经强投射光或强反射光照射,再经投影物镜放大成像在影屏上后进行测量。应用此原理的光学计量仪器有:大、中、小型投影仪、专用的公差带投影仪等。[/font][font=宋体]光干涉系统主要性能是有很高的检测精度。它是以光波波长作:“尺子”,实现了对表面粗糙度、长度微小变化等几何量的高精度测量。应用此原理的光学计量仪器有平面平晶等厚干涉仪、接触式干涉仪、干涉显微镜等。[/font]