干涉镜

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干涉镜相关的厂商

  • 联合光科技(北京)有限公司
    联合光科技(北京)有限公司创立于2016年, 由国内多家知名光学企业联手创办, 致力于为用户提供优质激光光学元件、工业成像镜头、进口高精度光学检测系统和快捷、专业的解决方案。我们的产品涵盖了大多数光学领域，包括元件类，机械类，光学检测服务，光学冷加工及镀膜，并提供光学产品的定制服务，在高功率激光和特殊镀膜应用尤为突出。总部位于北京，在深圳和香港设有分公司，在济南、上海设有办事处，并且在长春，锦州，昆明和重庆设有工厂。为了将更好的产品提供给用户，我们在北京建立了先进的检测实验室和较完善的检测体系，并且采用国际知名品牌检测仪器。 主要产品：l 光学元件（标准光学镜片、高功率激光窗口镜片、定制光学元件、偏振元件）l 英国ULO CO2红外光学材料、镜片、光学器件l 光机械部件（压电电控平台，光学防震桌，光学调整架，手动位移台，光机组件，光桥系统）l 全系列高品质工业成像镜头（定焦/远心/线扫/变焦变倍/特殊定制镜头）、照明光源l 光学测量仪器? 德国MarOpto- 轮廓仪、干涉仪（倾斜波干涉仪、斐索干涉仪、动态干涉仪、干涉测量软件、断面检测、表面检测）? 德国Dioptic- ARGOS 表面疵病检测仪、光纤端面缺陷检测? 日本壶坂Tsubosaka-镜头/相机鬼影、杂散光测试系统；可调色温、亮度光源；镜头焦点偏差、光圈、闪光灯、快门测量、手机防抖测试系统；太阳灯? 美国 Bristol- 非接触式测厚仪? 美国Optometrics- 衍射光栅、分光器件、线栅偏振片、Minichrom? 单色仪等? 德国Artifex-光功率计、跨阻抗放大器、门控积分放大器、LIV激光二极管和LED特性测试系统、积分球、激光二极管驱动器? 波兰inframet-可见光电视相机测试系统（TVT）、红外热像仪测试系统（DT、LAFT、SAFT）、夜视仪测试系统（NVT、NVS、NVB）、激光测距机测试系统（LT、LTF、LTE）、二代像管像增强器测试系统（ITS-I、ITS-P、ITS-R）、条纹管测试系统（SPT、STT）、多传感器测试系统（JT、MS）、被动式THz成像仪测试系统（THP）、短波成像仪测试系统（ST）、紫外成像仪测试系统（UT）以及红外热像仪计算机模拟器（Simterm）等? 美国Headwall -高光谱成像、拉曼光谱仪、衍射光学元件? 其他-SPF防晒指数测试仪；大气测量辐射计/光度计；Mini-Chrom单色仪；激光二极管测试分析系统；积分球；激光功率探测器；光伏测试太阳模拟器；固态光电倍增管等等
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  • 北京普瑞微纳科技有限公司
    北京普瑞微纳科技有限公司位于中关村国家自主创新示范区。公司专注于光学技术研发领域，探索光学仪器制造技术，着重发展尖端电子光学、精密机械以及计算机相结合的光、机、电一体化的电子光学仪器，是集研发、制造、销售及服务为一体的专业化公司。 公司拥有一支包括光学、精密机械、软件、图像处理等专业的研发团队，技术总监为多年在国外从事光学精密测量和控制领域的专家、核心成员均具有国外专业机构多年的研发背景，大多为学有所成的高端人才。公司拥有多项自主核心**，在技术的发展和创新方面处于业界领先地位。采用自主**技术研制并成功推出的PR05/06系列白光干涉三维形貌仪达到国际同类产品的先进水平，填补了国内在这一领域的产品空白。 公司致力于成为光学干涉精密测量、在线检测设备、精密控制系统、数字信号处理系统、机器人手臂、纳米材料研发等领域的领先企业。用创新的理念、精湛的技术、优质的产品和专业化的服务，成为用户最有价值和值得信赖的合作伙伴。
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  • 河北瀚考克光电科技有限公司
    瀚考克光电科技有限公司是专业从事光电检测设备，光学加工设备的销售服务商。公司主营产品：立式激光干涉仪，中心厚度测量仪，镜片边缘涂墨&检查机,中心偏差测量仪，数控非球面铣磨机，抛光机，单点金刚石车床，离子束加工机，轮廓仪，白光干涉仪，工具测量显微镜，显微硬度计。公司业务范围涵盖国内高校、研究所、以及精密光学加工制造企业。公司为以下欧美公司代理商：德国XONOX公司。
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干涉镜相关的仪器

  • 日立白光干涉显微镜VS1800 400-803-2799
    日立高新技术科学公司于2019年3月起，在中国开始销售利用光干涉原理进行非接触式无损伤三维表面形态测量的纳米尺度3D光学干涉测量系统“VS1800”，该产品搭配有支持多目的表面测量国际标准“ISO 25178*1参数对比工具”，通过简单而准确的样品测量支持客户的分析业务，与此同时，凭借不断创新积累的三维测量性能，实现高精度、高分辨率的表面性状的测量。 在半导体、汽车、食品、医药品等产业领域的材料研究和开发方面，为了提高产品的性能与功能，对产品表面的粗糙度、凸凹不平、翘曲等表面形状的评估变得尤其重要。以往，表面形态的测量方法，一般是采用触针式粗糙度测量仪等进行二维测量（线＋高差），但近年来，伴随着材料的薄膜化和微细构造化的加速，需要获取更多的信息，因此，采用扫描型白光干涉显微镜*2和激光显微镜*3等进行三维测量（面＋高差）便得到了灵活应用。 此外，2010年制定了有关三维表面形态评估的国际标准ISO 25178，确立了评估方法，在这种背景下，实施三维测量的企业和研究机构等日益增多。因此，需要我们急切实现有关表面形态测量上的测量与分析的简单化以及应对多种样品的测量问题。 此次发售的“VS1800”产品， 搭配了符合ISO 25178标准的分析工具 “ISO 25178参数对比工具”。在ISO 25178标准中规定了评估表面性状的32个项目的参数，但在对比样品时，选择最适合评估的参数很难，成为分析业务的难题。“ISO 25178参数对比工具”，通过按差异程度大小顺序自动对测量的参数值进行依次排序，可轻松选出最适合对比样品的参数，从而支持客户的分析业务。 此外，“VS1800” 产品，通过光干涉方法*4除了可实现大视野测量、0.01nm的垂直方向分辨率*5、高重现性外，亦通过日立高新技术科学自主研发的技术，继承了多层膜的无损伤测量等传统产品的高测量性能。此外，该产品还可搭配“大倾斜角测量选配 ”*6功能，通过捕捉大倾斜角斜面的微弱的干涉条纹变化，实现传统的光干涉方式无法实现的大倾斜角斜面测量，从而应对多种多样的样品表面性状的三维测量。 日立高新技术集团拥有可实现极微细样品的高分辨率测量的原子力显微镜、扫描电子显微镜直至大视野、高精度测量可能的“VS1800”等产品阵容，提供表面分析解决方案，从而满足客户的广泛需求。*1 ISO 25178：规定表面形态评估方法的国际标准。*2扫描型白色干涉显微镜：利用光干涉原理进行非接触式、无损伤的表面形态测量的测量设备。*3激光显微镜：将激光作为光源进行表面形态测量的测量设备。 *4光干涉方法：是利用两列或两列以上的光波相互叠加而出现光明暗（干涉条纹）现象（干涉）的检查方法。*5 0.01 nm的垂直方向分辨率为Phase模式时的性能。*6“大倾斜角测量选配”为选择项目。 【主要特点】(1)高测量性能?垂直方向分辨率：利用光干涉方法，通过独自的算法，实现0.01 nm*的垂直方向分辨率?重现性：利用干涉条纹测量凸凹的高度，通过将来自Z驱动机构的影响最小化，实现0.1 %以下的重现性?测量速度：由于不需要样品的前处理，只要将样品放置在样品台上即可完成测量准备。通过光干涉方法最 快5秒钟即可完成测量?测量视野：以从干涉条纹获取的信息为基础进行凸凹高度的测量，由此可实现广范围（One-shot最 大6.4 mm×6.4 mm）测量与高垂直方向分辨率的两者兼顾。此外，通过连接多个数据的图像，可进一步实现广范围的分析?无损伤测量：通过日立高新技术科学自主研发的技术，对玻璃和薄膜等透明多层结构样品进行测量时，无需对样品进行加工切割成截面，即可在无损伤的情况下，完成多层结构样品的各层厚度或异物混入状况的确认以及缺陷分析等 　* Phase模式时 (2) 易于使用的操作界面采用直观易懂的操作界面，能够轻而易举地进行图像分析处理前后的图像对比，从而支持分析时的最合适图像处理选择。此外，可简单地列出处理与分析的内容、创建独自的分析参数、重复使用分析参数等，并且还可批量处理数据，由此实现统一管理多个样品和分析结果，减轻繁琐复杂的后处理。 (3) ISO 25178参数对比工具在对比多个样品时，通过将ISO 25178标准中规定的32项参数值按差异的大小顺序重新排列，从而在样品对比时能够轻松选取最适参数，支持客户的分析业务。 (4) 硬件升级按每一台XY样品台的驱动方式，设计了3个类型的产品，即基础模式的手动型Type 1、电动型Type 2、Type 3。从Type 1到Type 2、Type 3，均可根据不同的用途进行升级。
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    厂商： 日立科学仪器（北京）有限公司
    品牌： 日立/Hitachi
    型号： VS1800
    价格： 100万 - 200万元
  • 干涉滤光片 400-628-5299
    A. JSL系列窄带干涉滤光片JSL系列,窄带干涉滤光片（Narrow Bandpass Interference Filters）选型表型号名称中心波长(nm)半宽FWHM(nm)峰值透射率(%)JSL394-25窄带干涉滤光片3941530JSL400-25窄带干涉滤光片4001530JSL420-25窄带干涉滤光片4201530JSL440-25窄带干涉滤光片4401530JSL460-25窄带干涉滤光片4601530JSL480-25窄带干涉滤光片4801530JSL500-25窄带干涉滤光片5001530JSL520-25窄带干涉滤光片5201530JSL526-25窄带干涉滤光片5261530JSL540-25窄带干涉滤光片5401530JSL560-25窄带干涉滤光片5601530JSL580-25窄带干涉滤光片5801530JSL589-50窄带干涉滤光片5891530JSL600-25窄带干涉滤光片6001530JSL620-25窄带干涉滤光片6201530JSL620-50窄带干涉滤光片6201530JSL640-25窄带干涉滤光片6401530JSL660-25窄带干涉滤光片6601530JSL670-50窄带干涉滤光片6701530JSL680-25窄带干涉滤光片6801530JSL700-25窄带干涉滤光片7001530JSL750-25窄带干涉滤光片7501530B. 美国CVI Melles Griot窄带干涉滤光片 相关参数： 选型表：C.美国Andover滤光片 美国Andover公司提供种类非常丰富的窄带和带通滤光片，被广泛应用于各种领域，如：基本激光谱线研究领域、汞灯特征谱线研究领域、生物医学及光谱分析学领域。Andover的滤光片，具有其专利技术，可防止波长随时间的漂移，每个滤光片都配有一个密封铝框，能有效的防碎，防划伤和防潮。主要参数: 1.直径公差：+0/-0.25mm 2.封装： 氧化黑铝合金外框 3.主要尺寸：&Phi 12.5mm，&Phi 25mm，&Phi 50mm （及&Phi 9mm，&Phi 21mm，&Phi 45mm） 4.波长范围：194nm～1550nm 谱线类型： Andover的滤光片，有多种谱线类型，请参看下表，也请在选型时注意相应的谱线类型(MDM=Metal-Dielectric-Metal)：选型表（部分产品）表1：直径&Phi 12.5mm直径&Phi 25mm直径&Phi 50mm中心波长（nm）半波宽（nm）谱线类型最小透过率（%）厚度（mm）193FS15-12.5193FS15-25193FS15-50193.0± 3.515± 37124200FS10-12.5200FS10-25200FS10-50200.0+3/-010± 27124214FS10-12.5214FS10-25214FS10-50214.0+3/-010± 27124214FS22-12.5214FS22-25214FS22-50214.0± 322± 48204220FS10-12.5220FS10-25220FS10-50220.0+3-010± 27124228FS10-12.5228FS10-25228FS10-50228.0+3-010± 27154228FS25-12.5228FS25-25228FS25-50228.0± 325± 58204232FS10-12.5232FS10-25232FS10-50232.0+3/-010± 27154239FS10-12.5239FS10-25239FS10-50239.0+3-010± 27154239FS25-12.5239FS25-25239FS25-50239.0± 325± 58204248FS10-12.5248FS10-25248FS10-50248.0+3-010± 27124250FS10-12.5250FS10-25250FS10-50250.0+3-010± 27124254FS10-12.5254FS10-25254FS10-50253.7+3-010± 27124254FS25-12.5254FS25-25254FS25-50253.7± 325± 58184260FS10-12.5260FS10-25260FS10-50260.0+3/-010± 27124265FS10-12.5265FS10-25265FS10-50265.0+3/-010± 27124265FS25-12.5265FS25-25265FS25-50265.0± 325± 58204270FS10-12.5270FS10-25270FS10-50270.0+3/-010± 27124280FS10-12.5280FS10-25280FS10-50280.0+3/-010± 27124280FS25-12.5280FS25-25280FS25-50280.0± 325± 58204289FS10-12.5289FS10-25289FS10-50289.0+3-010± 27154297FS10-12.5297FS10-25297FS10-50296.7+3/-010± 27154300FS10-12.5300FS10-25300FS10-50300.0+3/-010± 27154300FS25-12.5300FS25-25300FS25-50300.0± 325± 58204307FS10-12.5307FS10-25307FS10-50307.1+3/-010± 27154307FS25-12.5307FS25-25307FS25-50307.1± 325± 58204310FS10-12.5310FS10-25310FS10-50310.0+3-010± 27154313FS10-12.5313FS10-25313FS10-50313.0+3/-010± 27154313FS25-12.5313FS25-25313FS25-50313.0± 325± 58204320FS10-12.5320FS10-25320FS10-50320.0+3/-010± 23258326FS03-12.5326FS03-25326FS03-50326.1+0.5/-03± 0.52158326FS10-12.5326FS10-25326FS10-50326.1+2/-010± 23258326FS25-12.5326FS25-25326FS25-50326.1± 325± 53258330FS10-12.5330FS10-25330FS10-50330.0+3/-010± 23258334FS10-12.5334FS10-25334FS10-50334.0+2/-010± 23258337FS03-12.5337FS03-25337FS03-50337.1+0.5/-03± 0.52207337FS10-12.5337FS10-25337FS10-50337.1+2/-010± 23257340FS08-12.5340FS08-25340FS08-50340.0+2/-08± 23357340FS10-12.5340FS10-25340FS10-50340.0+3/-010± 23257选型表（部分产品）表2：直径&Phi 12.5mm直径&Phi 25mm直径&Phi 50mm中心波长（nm）半波宽（nm）谱线类型最小透过率（%）厚度（mm）340FS25-12.5340FS25-25340FS25-50340.0± 325± 53257350FS10-12.5350FS10-25350FS10-50350.0+3/-010± 23257350FS25-12.5350FS25-25350FS25-50350.0± 325± 53257350FS40-12.5350FS40-25350FS40-50350.0± 540± 83257355FS10-12.5355FS10-25355FS10-50355.0+2/-010± 23257360FS10-12.5360FS10-25360FS10-50360.0+3/-010± 23257365FS05-12.5365FS05-25365FS05-50365.0+1/-05± 12207365FS10-12.5365FS10-25365FS10-50365.0+2/-010± 23257365FS25-12.5365FS25-25365FS25-50365.0± 325± 53257370FS10-12.5370FS10-25370FS10-50370.0+3/-010± 23257380FS10-12.5380FS10-25380FS10-50380.0+3/-010± 23257390FS10-12.5390FS10-25390FS10-50390.0+3/-010± 23407400FS10-12.5400FS10-25400FS10-50400.0+3/-010± 23457400FS20-12.5400FS20-25400FS20-50400.0± 220± 43457400FS40-12.5400FS40-25400FS40-50400.0+10/-040± 83457405FS05-12.5405FS05-25405FS05-50404.7+1/-05± 12357405FS10-12.5405FS10-25405FS10-50404.7+2/-010± 23457410FS10-12.5410FS10-25410FS10-50410.0+3/-010± 23457415FS10-12.5415FS10-25415FS10-50415.0+2/-010± 23457420FS10-12.5420FS10-25420FS10-50420.0+3/-010± 23457430FS10-12.5430FS10-25430FS10-50430.0+3/-010± 23457436FS05-12.5436FS05-25436FS05-50435.8+1/-05± 12457436FS10-12.5436FS10-25436FS10-50435.8+2/-010± 23457440FS10-12.5440FS10-25440FS10-50440.0+3/-010± 23457442FS02-12.5442FS02-25442FS02-50441.6+0.2/-01± 0.22358.5442FS03-12.5442FS03-25442FS03-50441.6+0.5/-03± .52408.5442FS10-12.5442FS10-25442FS10-50441.6+2/-010± 23457450FS10-12.5450FS10-25450FS10-50450.0+3/-010± 23457450FS20-12.5450FS20-25450FS20-50450.0± 220± 43557450FS40-12.5450FS40-25450FS40-50450.0+10/-040± 83557456FS10-12.5456FS10-25456FS10-50455.5+2/-010± 23507458FS02-12.5458FS02-25458FS02-50457.9+0.2/-01± 0.22408.5458FS03-12.5458FS03-25458FS03-50457.9+0.5/-03± 0.52458.5458FS10-12.5458FS10-25458FS10-50457.9+2/-010± 23507460FS10-12.5460FS10-25460FS10-50460.0+3/-010± 23507470FS10-12.5470FS10-25470FS10-50470.0+3/-010± 23507480FS10-12.5480FS10-25480FS10-50480.0+3/-010± 23507486FS10-12.5486FS10-25486FS10-50486.1+2/-010± 23507488FS02-12.5488FS02-25488FS02-50488.0+0.2/-01± 0.22458.5选型表（部分产品）表3直径&Phi 12.5mm直径&Phi 25mm直径&Phi 50mm中心波长（nm）半波宽（nm）谱线类型最小透过率（%）厚度（mm）488FS03-12.5488FS03-25488FS03-50488.0+0.5/-03± .52508.5488FS10-12.5488FS10-25488FS10-50488.0+2/-010± 23557490FS10-12.5490FS10-25490FS10-50490.0+3/-010± 23557800FS10-12.5800FS10-25800FS10-50800.0+3/-010± 23507800FS20-12.5800FS20-25800FS20-50800.0± 220± 43507800FS40-12.5800FS40-25800FS40-50800.0+10/-040± 83507810FS10-12.5810FS10-25810FS10-50810.0+3/-010± 23507810FS20-12.5810FS20-25810FS20-50810.0± 220± 43507820FS10-12.5820FS10-25820FS10-50820.0+3/-010± 23507830FS10-12.5830FS10-25830FS10-50830.0+3/-010± 23507830FS20-12.5830FS20-25830FS20-50830.0± 220± 43507840FS10-12.5840FS10-25840FS10-50840.0+3/-010± 23507850FS10-12.5850FS10-25850FS10-50850.0+3/-010± 23507850FS20-12.5850FS20-25850FS20-50850.0 ± 220± 43507850FS40-12.5850FS40-25850FS40-50850.0+10/-040± 83507860FS10-12.5860FS10-25860FS10-50860.0+3/-010± 23507870FS10-12.5870FS10-25870FS10-50870.0+3/-010± 23507880FS10-12.5880FS10-25880FS10-50880.0+3/-010± 23507890FS10-12.5890FS10-25890FS10-50890.0+3/-010± 23507100FS10-12.5100FS10-25100FS10-501000.0+3/-010± 23458.5100FS20-12.5100FS20-25100FS20-501000.0± 220± 43458.5100FS40-12.5100FS40-25100FS40-501000.0+10/-040± 83458.5014FS10-12.5014FS10-25014FS10-501014.0+2/-010± 23458.5046FS10-12.5046FS10-25046FS10-501046.0+2/-010± 23458.5050FS10-12.5050FS10-25050FS10-501050.0+3/-09± 23458.5064FS02-12.5064FS02-25064FS02-501064.0+0.2/-.01± 0.22408.5064FS03-12.5064FS03-25064FS03-501064.0+0.5/-.03± .52458.5064FS10-12.5064FS10-25064FS10-501064.0+2/-010± 23408.5110FS10-12.5110FS10-25110FS10-501100.0+3/-010± 23408.5115FS10-12.5115FS10-25115FS10-501150.0+3/-010± 23408.5120FS10-12.5120FS10-25120FS10-501200.0+3/-010± 22358.5125FS10-12.5125FS10-25125FS10-501250.0+3/-010± 22358.5130FS10-12.5130FS10-25130FS10-501300.0+3/-010± 22358.5130FS20-12.5130FS20-25130FS20-501300.0± 320± 53358.5 备注：以上选型表中是Andover紫外和红外的常规滤光片， 可见光部分及其他种类滤光片，型号非常多，由于篇幅限制，不能全部列出，有需求可以联系我们。
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    厂商： 北京卓立汉光仪器有限公司
    品牌： 卓立汉光/ZOLIX
    型号： 各种型号
    价格： 面议
  • 日立白光干涉显微镜VS1800 400-860-5168转3993
    产品创新点上市时间：2019年3月(1)高测量性能 ，垂直方向分辨率高，重现性好，测量速度快，测量视野广，无损伤测量(2)易于使用的操作界面(3)ISO 25178参数对比工具(4)硬件全面升级产品简介日立高新技术科学公司于2019年3月起，在中国开始销售利用光干涉原理进行非接触式无损伤三维表面形态测量的纳米尺度3D光学干涉测量系统“VS1800”，该产品搭配有支持多目的表面测量国际标准“ISO 25178*1参数对比工具”，通过简单而准确的样品测量支持客户的分析业务，与此同时，凭借不断创新积累的三维测量性能，实现高精度、高分辨率的表面性状的测量。在半导体、汽车、食品、医药品等产业领域的材料研究和开发方面，为了提高产品的性能与功能，对产品表面的粗糙度、凸凹不平、翘曲等表面形状的评估变得尤其重要。以往，表面形态的测量方法，一般是采用触针式粗糙度测量仪等进行二维测量（线＋高差），但近年来，伴随着材料的薄膜化和微细构造化的加速，需要获取更多的信息，因此，采用扫描型白光干涉显微镜*2和激光显微镜*3等进行三维测量（面＋高差）便得到了灵活应用。 此外，2010年制定了有关三维表面形态评估的国际标准ISO 25178，确立了评估方法，在这种背景下，实施三维测量的企业和研究机构等日益增多。因此，需要我们急切实现有关表面形态测量上的测量与分析的简单化以及应对多种样品的测量问题。此次发售的“VS1800”产品， 搭配了符合ISO 25178标准的分析工具 “ISO 25178参数对比工具”。在ISO 25178标准中规定了评估表面性状的32个项目的参数，但在对比样品时，选择最适合评估的参数很难，成为分析业务的难题。“ISO 25178参数对比工具”，通过按差异程度大小顺序自动对测量的参数值进行依次排序，可轻松选出最适合对比样品的参数，从而支持客户的分析业务。 此外，“VS1800” 产品，通过光干涉方法*4除了可实现大视野测量、0.01nm的垂直方向分辨率*5、高重现性外，亦通过日立高新技术科学自主研发的技术，继承了多层膜的无损伤测量等传统产品的高测量性能。此外，该产品还可搭配“大倾斜角测量选配 ”*6功能，通过捕捉大倾斜角斜面的微弱的干涉条纹变化，实现传统的光干涉方式无法实现的大倾斜角斜面测量，从而应对多种多样的样品表面性状的三维测量。 日立高新技术集团拥有可实现极微细样品的高分辨率测量的原子力显微镜、扫描电子显微镜直至大视野、高精度测量可能的“VS1800”等产品阵容，提供表面分析解决方案，从而满足客户的广泛需求。*1 ISO 25178：规定表面形态评估方法的国际标准。*2扫描型白色干涉显微镜：利用光干涉原理进行非接触式、无损伤的表面形态测量的测量设备。*3激光显微镜：将激光作为光源进行表面形态测量的测量设备。*4光干涉方法：是利用两列或两列以上的光波相互叠加而出现光明暗（干涉条纹）现象（干涉）的检查方法。*5 0.01 nm的垂直方向分辨率为Phase模式时的性能。*6“大倾斜角测量选配”为选择项目。 【主要特点】(1)高测量性能a.垂直方向分辨率：利用光干涉方法，通过独自的算法，实现0.01 nm*的垂直方向分辨率b.重现性：利用干涉条纹测量凸凹的高度，通过将来自Z驱动机构的影响最小化，实现0.1 %以下的重现性c.测量速度：由于不需要样品的前处理，只要将样品放置在样品台上即可完成测量准备。通过光干涉方法最 快5秒钟即可完成测量d.测量视野：以从干涉条纹获取的信息为基础进行凸凹高度的测量，由此可实现广范围（One-shot最 大6.4 mm×6.4 mm）测量与高垂直方向分辨率的两者兼顾。此外，通过连接多个数据的图像，可进一步实现广范围的分析e.无损伤测量：通过日立高新技术科学自主研发的技术，对玻璃和薄膜等透明多层结构样品进行测量时，无需对样品进行加工切割成截面，即可在无损伤的情况下，完成多层结构样品的各层厚度或异物混入状况的确认以及缺陷分析等 　* Phase模式时 (2) 易于使用的操作界面采用直观易懂的操作界面，能够轻而易举地进行图像分析处理前后的图像对比，从而支持分析时的最合适图像处理选择。此外，可简单地列出处理与分析的内容、创建独自的分析参数、重复使用分析参数等，并且还可批量处理数据，由此实现统一管理多个样品和分析结果，减轻繁琐复杂的后处理。 (3) ISO 25178参数对比工具在对比多个样品时，通过将ISO 25178标准中规定的32项参数值按差异的大小顺序重新排列，从而在样品对比时能够轻松选取最适参数，支持客户的分析业务。 (4) 硬件升级按每一台XY样品台的驱动方式，设计了3个类型的产品，即基础模式的手动型Type 1、电动型Type 2、Type 3。从Type 1到Type 2、Type 3，均可根据不同的用途进行升级。
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    厂商： 柜谷科技发展（上海）有限公司
    品牌： 日立/Hitachi
    型号： VS1800
    价格： 150万 - 200万元
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干涉镜相关的资讯

  • 国际首台飞秒干涉散射显微镜研制成功
    光电界面携能载流子的时空演化与能源、催化和传感等领域紧密相关，是近年来物理、化学和材料等领域的研究热点之一。载流子的迁移、分布和弛豫是影响材料功能的关键之所在，因此，利用高时空分辨成像技术观测载流子时空演化对于新型材料基础研究和应用均具有重大意义。然而，极微弱载流子信号的测量是学界公认的难题。总体而言，国内外尚无成熟的仪器装置能够有效实现瞬态信号放大，直接"看见"少量载流子仍是巨大的挑战。近日，南京大学化学化工学院生命分析化学国家重点实验室康斌/徐静娟团队结合飞秒泵浦-探测技术和干涉散射显微术，研制成国际上首台飞秒干涉散射显微镜（Femto-iSCAT），并成功获得发明专利授权（专利号：202110510123.X）。该仪器作为一个通用测量平台，实现了超灵敏、高通量观测各种材料中的载流子迁移、分布和弛豫动力学。通过干涉放大效应和空间光场调制，瞬态图像对比度相比于传统方法提升了2个数量级以上，可探测极微弱载流子信号，从而有利于揭示超导材料、二维材料及新型光电材料中的稀奇科学现象。飞秒干涉散射成像原理随后作者展示了Femto-iSCAT的一系列极具挑战的应用场景，包括常用光电器件如金属薄膜、硅基半导体和钙钛矿太阳能电池中的界面载流子/热扩散迁移，单个等离激元微纳颗粒中的不均匀热电子分布和弛豫，以及二维材料中的载流子/激子在边缘态的独特动力学。Femto-iSCAT相比于传统瞬态显微镜，极大拓展了材料的适用范围，以极高灵敏度和检测通量实现了载流子时空演化的多功能成像，助力界面能量和载流子转移等超快过程的研究。该工作以"Decrypting Material Performance by Wide-field Femtosecond Interferometric Imaging of Energy Carrier Evolution"为题，于2022年7月22日发表在Journal of the American Chemical Society（美国化学会志）。博士生吕品田为该论文第一作者，康斌副教授和徐静娟教授为论文通讯作者，陈洪渊院士对该工作的研究思想做出了重要指导。该工作得到了国家自然科学基金、南京大学卓越研究计划、南京大学生命分析化学国家重点实验室自主研究课题等资助。文章链接：https://pubs.acs.org/doi/10.1021/jacs.2c05735
    时间： 2022-08-04
    作者： Ev
  • 徐涛院士团队研制出分子尺度分辨率干涉定位显微镜
    p style="text-align: justify text-indent: 2em "Seeing is believing，光学显微镜自1590年由荷兰詹森父子创制伊始，即成为生命科学最重要的研究工具之一。进入21世纪，借助荧光分子，科学家将光学显微镜的分辨率提高了一个数量级，由约一半光波波长（250 nm）拓展至几十纳米，并兴起了超高分辨荧光成像技术，用于“看到”精细的亚细胞结构和生物大分子定位，相关工作荣膺2014年诺贝尔化学奖。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "9月9日，Nature Methods杂志在线发表了中国科学院生物物理研究所徐涛院士研究组与科学研究平台纪伟正高级工程师研发团队合作研究论文，题为“Molecular resolution imaging by repetitive optical selective exposure”，为超高分辨光学显微镜家族再添新成员，使显微镜分辨率进一步被突破。该工作提出了一种基于激光干涉条纹定位成像的新技术，并据此研制出新型单分子干涉定位显微镜（Repetitive Optical Selective Exposure, ROSE），将荧光显微镜分辨率提升至3 nm以内的分子尺度，单分子定位精度接近1 nm，可以分辨点距为5 nm的DNA origami（DNA 折纸）结构。/pp style="text-align: center text-indent: 0em "img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 450px height: 226px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/201909/uepic/bcbdc347-2f8b-464e-9014-787a341c1e21.jpg" title="徐涛院士组与科学研究平台研发团队实现分子尺度分辨率光学成像.jpg" alt="徐涛院士组与科学研究平台研发团队实现分子尺度分辨率光学成像.jpg" width="450" height="226" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: center text-indent: 0em "strong图1 左侧，传统质心拟合定位方法，右侧，ROSE干涉定位方法/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "所谓干涉定位，是指采用不同方向和相位的激光干涉条纹激发荧光分子，荧光分子的发光强度与其所处条纹的相位有关，该技术即是通过荧光分子强度与干涉条纹的相位关系，来确定荧光分子的精确位置。为降低单分子发光时的闪烁和漂白对亮度和定位精度产生的不良影响，研发团队对显微镜光路进行了创造性地设计，分别为：基于电光调制器的干涉条纹快速切换激发光路，基于谐振振镜扫描的6组共轭成像光路，两种光路的同步实现了高达8 kHz的分时成像，确保在相机的单次曝光时间里把每个单分子发光状态均匀分配给6个干涉条纹，有效避免了荧光分子发光能力波动对定位精度的干扰。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "研发团队利用该技术对不同荧光位点间距的DNA origami阵列进行验证测试，证明干涉成像分辨率达到了3 nm的分子水平，可以解析5 nm的DNA origami阵列。后续的功能性实验结果显示，该技术在免疫标记的微管、CCP（clathrin coated pits，网格蛋白有被小窝）以及较致密的细胞骨架成像时展现出良好性能，该技术将为进一步解析精细亚细胞的组分和生物大分子的纳米结构提供有力工具。/pp style="text-align: center text-indent: 0em "img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 450px height: 311px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/201909/uepic/45780611-1a95-4748-a74e-d777d33bd780.jpg" title="分子尺度分辨率光学成像.jpg" alt="分子尺度分辨率光学成像.jpg" width="450" height="311" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: center text-indent: 0em "strong图2左侧，不同荧光位点间距的DNA origami成像，ROSE技术与传统的质心拟合方法进行对比验证。右侧，鬼笔环肽标记的微丝成像，ROSE技术与传统的质心拟合方法进行对比验证。/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "徐涛院士领衔的仪器研发团队近年来致力于显微成像仪器设备和技术方法的研究和开发，先后研制出偏振单分子干涉成像、冷冻单分子定位成像以及超分辨光电融合成像系统，开发了新的超分辨显微成像算法、探针和技术，申请有多项发明专利，上述成果被广泛应用于细胞生物学相关研究，支撑团队与合作者在该领域取得了系统性成果产出。纪伟正高级工程师所在的生命科学仪器研发中心是根据研究所发展新技术新方法的迫切需求而设立，隶属于科学研究平台，在提供技术服务的同时，聚焦生物显微成像仪器设备的研发与应用推广。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "徐涛院士和纪伟正高级工程师为该文章的共同通讯作者，谷陆生、李媛媛、张淑文为共同第一作者。李栋研究员、薛艳红、李尉兴参与了本课题。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "该工作受到中国科学院科研仪器设备研制项目、国家重点研发计划、国家自然科学基金以及北京市科技计划等项目的资助。/p
    时间： 2019-09-11
    作者： 葱头
  • 首套超算合成孔径雷达干涉测量系统研制成功
    p style="text-indent: 2em "来自空天院等单位的研究人员成功研制了我国首套自主知识产权的超算合成孔径雷达干涉测量系统，并首次实现全国尺度地表形变合成孔径雷达干涉测量制图。/pp style="text-indent: 2em "作为受地质灾害影响最严重的国家之一，我国地质灾害造成的损失逐年增加。“利用空间遥感技术实现地表形变大范围监测，对开展固体地球运动研究和地质灾害调查具有重要意义。”空天院研究员王超说。/pp style="text-indent: 2em "合成孔径雷达干涉测量技术是通过利用合成孔径雷达图像中的相位信号来获取毫米级地表形变信息的技术。随着宽幅合成孔径雷达成像技术的成熟，国内外合成孔径雷达卫星数据爆炸式增长。/pp style="text-indent: 2em "在计算机存储与计算能力不断增强的背景下，针对全国尺度的地质灾害调查、监测的迫切需求，研究人员结合卫星大数据处理技术与超算硬件平台，经过2年多时间对早期独立研发的相干目标时序合成孔径雷达干涉测量处理软件进行算法改进及并行优化，研发了我国首套具有自主知识产权的超算合成孔径雷达干涉测量系统，实现了合成孔径雷达干涉测量大数据自动化、批量并行处理。基于该系统，研究人员首次获取了全国尺度的地表形变合成孔径雷达干涉测量结果。/pp style="text-indent: 2em "王超表示，该系统所提供的大尺度地表形变产品不仅可以促进地球科学的新发现，服务于板块运动、全球环境变化等地球科学领域，而且还可以提高我国遥感数据处理能力，服务于我国大范围地面沉降的地理国情监测及地质灾害普查等领域，对社会经济可持续发展具有重大意义。/ppbr//p
    时间： 2020-12-17
    作者： 吴婕
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  • 【资料】干涉显微镜一点小知识

    干涉显微镜是将光波的干涉技术与显微镜结合起来,利用光的干涉可以精确测量试样表面上高度的微小差别.干涉显微镜主要应用在:1)表面光洁度的测定.精密加工过的试样表面粗糙度常用干涉显微镜进行测量.电解抛光、化学抛光过的试样表面质量也可以用干涉显微镜进行鉴定。2）相变浮凸的研究。材料中的马氏体、贝氏体转变的浮凸现象产生了微小高度差，在相衬显微镜下可以得到很好的衬度差别，易于观察，但不能测量浮凸的高度。利用干涉显微镜，可以根据干涉条纹测得浮凸的高度。3）用干涉显微镜可以研究材料塑性变形的程度。金属在应力作用下超过弹性极限要发生塑性变形。塑性变形过程中晶体要沿一定晶面发生滑移,利用干涉显微镜可以测量滑移台阶高度。干涉显微镜现主要用于高等教学实验中！

  • 平晶干涉法

    我们有个零件的密封面平面度要求0.6u, 密封面直径10mm, 在上海或其它地方有试验室采用JB/T 7389标准中的平晶干涉法测定平面度

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  • 100倍 尼康 显微镜 干涉镜头
    50X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective50倍 尼康干涉物镜镜头类型 Mirau放大率:100X数字孔径 NA:0.70焦深(μm):0.56视场, 1/2" 传感器:0.08 x 0.06mm视场, 2/3" 传感器:0.011 x 0.08mm视场，20直径视场目镜 (mm) :0.2视场，25直径视场目镜 (mm) :0.25焦距 FL (mm):2.0生产商:Nikon安装螺纹:RMS分辨能力 (μm):0.4类型:Mirau重量 (g):200.00工作距离 (mm):2.0Regulatory ComplianceRoHS:符合标准生产商 NikonRoHS 豁免用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。价格会有所波动，欢迎来电咨询。
    供应商： 誉荣电子科技有限公司
    品牌： NIKON
    价格： 面议
  • 50倍 尼康 显微镜 干涉镜头
    50X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective50倍 尼康干涉物镜镜头类型 Mirau放大率 50X数字孔径 NA 0.55工作距离 (mm) 3.4焦距 FL (mm) 4.0分辨能力 (μm) 0.5焦深(μm) 0.9视场，25直径视场目镜 (mm) 0.5视场，20直径视场目镜 (mm) 0.22视场, 2/3" 传感器 0.18 x 0.13mm视场, 1/2" 传感器 0.13 x 0.10mm支架 C-Mount安装螺纹 RMS重量 (g) 150生产商 NikonRoHS 豁免用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。价格会有所波动，欢迎来电咨询。
    供应商： 誉荣电子科技有限公司
    品牌： NIKON
    价格： 面议
  • 10倍 尼康 显微镜 干涉镜头
    10X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective10倍 尼康干涉镜头 CF IC Epi Plan类型 Mirau放大率 10X数字孔径 NA 0.30工作距离 (mm) 7.4焦距 FL (mm) 20.0分辨能力 (μm) 0.92焦深(μm) 3.04视场，25直径视场目镜 (mm) 2.5视场，20直径视场目镜 (mm) 2视场, 2/3" 传感器 0.88 x 0.66mm视场, 1/2" 传感器 0.64 x 0.48mm支架 C-Mount安装螺纹 RMS重量 (g) 125生产商 NikonRoHS 符合标准用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。欢迎来电咨询。
    供应商： 誉荣电子科技有限公司
    品牌： NIKON
    价格： 面议
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