厚度规

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厚度规相关的厂商

  • 安徽良臣硅源材料有限公司专业生产柱层层析硅胶,薄层层析硅胶,高效薄层层析硅胶板(TLC),制备型色谱硅胶板(PTLC,薄层厚度0.5-2.0mm),微晶纤维素薄层析板,厂家直销,期待您的联系!
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  • 公司位于长江大桥入口,建宁路98金海市场,交通方便。经营的产品:工程检测及试验仪器(非金属超声波检测仪,数显回弹仪,楼板厚度检测仪、钢筋保护层直径检测仪,基桩检测仪,低应变检测仪,裂缝测宽仪,裂缝测深仪,钢筋锈蚀仪,工程检测工具)测绘仪器(全站仪,经纬仪、水准仪、测距仪 、垂准仪、指向仪);建筑装璜仪器(激光投线仪、扫平仪、测距仪、激光水平尺,投点仪);;勘测仪器(地下管线仪、测深仪);通讯设备(对讲机,手持GPS,RTK GNSS);工业检测仪(接地电阻,漏电开关,红外测温仪,风速计,噪音计,照度计,拉拔仪,金属探测仪)
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  • 本公司自成立以来,主要代理及销售球栅尺,磁栅尺,千分表,光栅尺,测高仪产品。各知名品牌检测仪器仪表.优异的产品质量与良好的服务态度,赢得了新老客户的一致好评。本公司主要代理及销售以下系列产品:欢迎来电咨询,我们热忱为每一位客户提供技术支持TEL:+86 512 65781662 +86 13962107506★ 德国ELGO直线磁栅尺、数显★ 英国NEWALL球栅尺、VULCAN球栅尺数显 ★ 德国ZOLLER对刀仪、EZset对刀仪 瑞士URMA对刀仪、PWB对刀仪★ 日本三丰Mitutoyo各种量具(卡尺、高度规、高度尺、高度计、千分尺、百分表、千分表、杠杆表、厚度计、深度尺、磁性表座) ★ 日本三丰Mitutoyo量仪(高度仪、投影仪、工具显微镜、硬度计、粗糙度仪) ★ 瑞士TESA各种量具(卡尺、千分尺、高度尺、百分表、千分表、杠杆表等)★ 日本PEACOCK牌测试工具(如:百分表、千分表、厚度表、杠杆表、深度表) ★ 日本SK牌测试针规、EISEN牌测试针规 ★ 日本SONY高度规、Nikon高度规、显微镜、日本PEAK各规格放大镜 ★ 日本CITIZEN西铁城精密线性电感量仪、电子探规、电子式测微计、信号指示量表、卧式内径测量仪 ★ 瑞士TRIMOS高度仪、TESA高度仪★ 台湾万濠《Rational》投影仪、二次元影像测量仪、工具显微镜、三座标、光栅尺 ★ 台湾精展GIN 正弦磁台、冲子成型器、万向磁性座、V型块、砂轮成型器、钨钢块规、高速钢块规、陶瓷块陶 ★ 国产显微硬度计、显微镜、量块、针规、螺纹量规、针规 ★ 国产精密花岗石平台、量表座、推拉力计、比测台企业精神:以诚为本,实事求是,取长补短!积极探索,勤勉努力,持之以恒!经营理念:为客户提供最满意的产品和服务管理理念:制度为本,追求标准化、科学化、合理化人才观: 品德至上,敬业为本
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厚度规相关的仪器

  • 湿膜厚度规(梳规) 400-860-5168转1594
    仪器简介:湿膜厚度规(梳规)产品展台为您精选湿膜厚度规(梳规)产品,欢迎您来电咨询湿膜厚度规(梳规)产品的详细信息!湿膜厚度规(梳规)是测量色漆、。各种涂料施工后,立即将湿膜厚度稳定垂直地放在平整的工件涂层表面,立即可测得涂层厚度。技术参数:湿膜厚度规 湿膜厚度规是测量色漆、。各种涂料施工后,立即将湿膜厚度稳定垂直地放在平整的工件涂层表面,立即可测得涂层厚度。 主要技术参数 SHG湿膜厚度规 型号 SHG-100 SHG-200 SHG-700 SHG-750 量程(&mu m) 10~100 20~200 250~700 50~750 外形尺寸 (长× 宽× 高) 65× 36× 1.5mm 65× 43× 1.5mm YQH湿膜厚度规 型号 YQH-200 YQH-700 量程(&mu m) 0~100 200~700 外形尺寸 (长× 宽× 高) &Phi 50× 27mm 外形尺寸:&phi 50mm× 27mm主要特点:湿膜厚度规 湿膜厚度规是测量色漆、。各种涂料施工后,立即将湿膜厚度稳定垂直地放在平整的工件涂层表面,立即可测得涂层厚度。 主要技术参数 SHG湿膜厚度规 型号 SHG-100 SHG-200 SHG-700 SHG-750 量程(&mu m) 10~100 20~200 250~700 50~750 外形尺寸 (长× 宽× 高) 65× 36× 1.5mm 65× 43× 1.5mm YQH湿膜厚度规 型号 YQH-200 YQH-700 量程(&mu m) 0~100 200~700 外形尺寸 (长× 宽× 高) &Phi 50× 27mm
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  • 滚轮式湿膜厚度规产品展台为您精选滚轮式湿膜厚度规,面向全国销售滚轮式湿膜厚度规,欢迎来电咨询滚轮式湿膜厚度规产品,YQH滚轮式湿膜厚度规 是测量色漆、清漆等各种涂料湿膜涂刷厚度的测量工具。该厚度规不仅能在平整的基板上,并能在曲面状基板上进行测量,测量精度高。 主要技术参数 型号:YQH-100、YQH-200、YQH-1000 量度(&mu m):0~100、0~200、0~1000 重量:0.2Kg     外形尺寸:&phi 50mm× 27mm
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  • 厚度规7360 400-860-5168转3136
    日本三丰Mitutoyo厚度表7360厚度表547, 7系列厚度表带有一个方便的握柄、拇指触发器表和弹性心轴,可进行快速高效的检测。型号齐全,应用更广泛。日本三丰Mitutoyo厚度表7360特点1.应用范围广,具有多种测量面 (心轴和测砧上)。2.Digimatic 厚度表集三丰公司zui为用户青睐的 IDC 和 IDS 系列 Digimatic 厚度表于一体,采用液晶读数显示以及 SPC 数据输出,真正实现无误读。3.547-401 (547-400S) 系列是测量纸张、胶片、金属丝、金属薄板等类型材料的理想工具。4.指针式厚度表能快速测量薄片类产品的厚度,如纸和毛毡。5.测头和测砧均由陶瓷制成:无锈 ( 不包括547-401 ) 。6.表盘一体式设计可防止水和油从正面渗入。数显型技术参数精度:参见性能参数 (不包括量化偏差)分辨率:0.01mm 型 0.01mm0.001mm 型 0.001mm/0.001mm.0005"/0.01mm 型 .0005"/0.01mm.00005"/0.001mm 型 .0005"/.0001"/.00005"/0.01mm/0.001mm显示: 液晶显示长度基准: ABSOLUTE 静电线性编码器zui大反应速度: 无限制测力: 参见性能参数轴套外径: 8mm (ISO/JIS型) 或3/8"(ANSI/AGD型)电池: SR44 (一个),938882电池寿命: 正常使用情况下约为7,000小时尘/水防护等级:达到 IP42或IP53防护标准 (防尘型)数显型功能原点设置/预调、调零、GO/±NG判断、计数方向转换、自动电源开/关、简单计算、函数锁定、数据输出、英制/公制转换 (英制/公制型)警告:低电压、 计算错误、溢出错误、公差极限设置错误选件905338:用于数显型的SPC电缆 (1m)905409:用于数显型的SPC电缆 (2m)02AZD790F:用于U-WAVE的SPC 电缆 (160mm)902011:心轴提升杆 (ISO/JIS型)*902794:心轴提升杆 (ANSI/AGD型)*137693:心轴提升吊钩**540774:心轴提升电缆125317:备用橡胶保护套 (用于防尘型)02ACA571: 用于25mm/1"型号的附加心轴弹簧***02ACA773: 用于50mm/2"型号的附加心轴弹簧**** 仅用于12mm/.5"型号** 可用于25mm/1"或50mm/2"型号*** 千分表反向定位时使用 性能参数:公制型/数显型货号测量范围分辨率精度测力备注547-4010-12mm0.001mm±3μm3.5N以下高精度型、硬质合金心轴/测砧547-3010-10mm0.01mm±20μm1.5N以下标准型、陶瓷心轴/测砧547-3210-10mm0.01mm±20μm1.5N以下大进深型、陶瓷心轴/测砧547-3130-10mm0.01mm±20μm1.5N以下镜片厚度547-3150-10mm0.01mm±20μm1.5N以下凹槽深度547-3600-10mm0.01mm±20μm1.5N以下管壁厚度英制/公制型-----数显型货号测量范围分辨率精度测力备注547-400S /0 - .47".00005"0.001mm±3μm3.5N以下高精度型、硬质合金心轴/测砧547-300S / 547-500*0 - .4"/ 0 - .47"*.0005"/0.01mm±20μm1.5N以下标准型、陶瓷心轴/测砧547-320S / 547-520*0 - .4"/ 0 - .47"*.0005"/0.01mm±20μm1.5N以下大进深型、陶瓷心轴/测砧547-312S / 547-512*0 - .4"/ 0 - .47"*.0005"/0.01mm±20μm1.5N以下镜片厚度547-316S / 547-516*0 - .4"/ 0 - .47"*.0005"/0.01mm±20μm1.5N以下凹槽深度547-361S / 547-561*0 - .4"/ 0 - .47"*.0005"/0.01mm±20μm1.5N以下管壁厚度*使用ID-S Digimatic千分表,可选用带有.0001"/0.001mm分辨率ID-S系列千分表的标准型 (547-526)。公制型----指针式货号测量范围表盘读数值精度测力备注73270-1mm0.001mm±5μm1.4N以下精细表盘读数、陶瓷心轴/测砧73010-10mm0.01mm±15μm1.4N以下标准型、陶瓷心轴/测砧73050-10mm0.01mm±20μm2.0N以下标准型、陶瓷心轴/测砧73210-10mm0.01mm±15μm1.4N以下大进深型、陶瓷心轴/测砧73230-10mm0.01mm±22μm2.0N以下大进深型、陶瓷心轴/测砧73130-10mm0.01mm±15μm1.4N以下镜片厚度73150-10mm0.01mm±15μm1.4N以下凹槽深度73600-10mm0.01mm±15μm1.4N以下管壁厚度
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厚度规相关的资讯

  • 高光谱成像技术在薄膜厚度检测中的应用
    研究背景在薄膜和涂层行业中,厚度是非常重要的质量参数,厚度和均匀性指标严重影响着薄膜的性能。目前,薄膜厚度检测常用的是X射线技术和光谱学技术,在线应用时,通常是将单点式光谱仪安装在横向扫描平台上,得到的是一个“之”字形的检测轨迹(如下图左),因此只能检测薄膜部分区域的厚度。SPECIM FX系列行扫描(推扫式成像)高光谱相机可以克服上述缺点。在每条线扫描数据中,光谱数据能覆盖薄膜的整个宽度(如上图右),并且有很高的空间分辨率。 实验过程 为了验证高光谱成像技术在膜厚度测量上的应用,芬兰Specim 公司使用高光谱相机SPECIM FX17(935nm-1700nm))测量了4 种薄膜样品的厚度,薄膜样品的标称厚度为17 μm,20 μm,20 μm和23 μm. 使用镜面几何的方法,并仔细检查干涉图形,根据相长干涉之间的光谱位置及距离,可以推导出薄膜的厚度值。通过镜面反射的方式测量得到的光谱干涉图,可以转化为厚度图使用 Matlab 将光谱干涉图转换为厚度热图,通过SPECIM FX17相机采集的光谱数据,计算的平均厚度为18.4 μm、20.05 μm、21.7 μm 和 23.9 μm,标准偏差分别为0.12 μm、0.076 μm、0.34 μm和0.183 μm。当测量薄膜时,没有拉伸薄膜,因此测量值略高于标称值。此外,在过程中同时检测到了薄膜上的缺陷,如下图所示,两个缺陷可能是外部压力造成的压痕。结论SPECIM FX17高光谱相机每秒可采集多达数千条线图像,同时可以对薄膜进行100%全覆盖在线检测,显著提高了台式检测系统的检测速度,提高质量的一致性并减少浪费。与单点式光谱仪相比,高光谱成像将显著提高薄膜效率和涂层质量控制系统,同时也无X射线辐射风险。 理论上,SPECIM FX10可以测量1.5 μm到30 μm的厚度,而SPECIM FX17则适用于4 μm 到90 μm的厚度。如需了解更多详情,请参考:工业高光谱相机-SPECIM FX:https://www.instrument.com.cn/netshow/C265811.htm
  • 奥林巴斯全新测厚解决方案:使用交互式自定义模板标准化厚度检测
    从创造日常用品到开发尖端技术,制造工业几乎在每个领域都发挥着关键作用。确保产品质量和合规性是这项工作的关键,而工件检测有助于维持这些高标准。为了简化检测过程并优化质量控制工作,我们的工程师开发了一种新的厚度测量功能:交互式自定义模板。72DL PLUS超声测厚仪上提供的交互式自定义模板可在工件图像上显示清晰标注的检测位置,从而为用户进行常规厚度测量提供有用的可视化工具。此文将探究这种交互式自定义模板如何在从标准化厚度检测过程到改进质量控制和促进数据分析等方面为制造工业提供支持。标准化制造工业的厚度检测过程交互式自定义模板使用清晰标注的检测位置提供被检工件的视觉参考标记。管理员可以使用PC界面应用程序,通过几个简单的步骤创建模板:上传工件图像标记要检测的具体位置为检测位置添加自定义名称(可选)选择用于指示厚度测量状态和质量的颜色创建自定义模板后,管理员就可以轻松地将模板发送到生产车间的一台或多台72DL PLUS测厚仪上。通过在多台设备上实施标准化,消除了歧义,让所有检测员都可以遵循相同的流程,对工件进行一致的评估,而不受地点或当班时间的限制。通过PC界面应用程序上的工件创建工作流程,管理员可以在上传的工件图像上添加厚度测量位置(TML),并选择用于指示TML状态的颜色。厚度检测过程的效率和准确性当检测员在72DL PLUS测厚仪上调用工件设置时,仪器会显示待测工件的图像,并清楚标明检测位置。检测员可以使用触摸屏缩放和平移模板,以确认他们正在检测工件上的正确位置。自定义模板的交互特性可在检测过程中提供实时反馈。在记录测量值时,测厚仪会根据厚度测量位置(TML)的状态更新模板的颜色,从而为检测员提供即时的视觉反馈。通过这种交互式功能,检测员可以快速识别潜在的厚度变化或缺陷,从而缩短检测时间,迅速纠正问题。72DL PLUS测厚仪上显示汽车工件图像的交互式自定义模板。相应颜色的TML为生产车间的检测员提供实时反馈。厚度检测培训和支持交互式自定义模板还有益于培训新的检测员,因为模板明确了需要检测的具体位置。在检测数据文件(IDF)中,管理员和检测员等人员都可以轻松复核每个TML的测量值、轴向扫描、报警状态和其他信息,包括其在模板上的检测状态。这些数据可以直接在仪器上或通过PC界面应用程序进行复核。这种设置可促进检测做法的一致性,并方便新检测员遵守既定的检测标准。在PC界面应用程序上复核包含每个TML测量值的检测数据文件,并可在波形视图和工件图视图之间切换。促进厚度检测的数据管理和分析交互式自定义模板还有助于数据管理和分析。测量数据可轻松记录并与模板上的具体位置相关联。数据分析师可以回顾传输到PC界面应用程序的检测数据文件。他们可以研究工件每个TML的厚度趋势,并将这些信息用于质量控制文档、工艺改进和合规目的。PC界面应用程序显示多层测量工件的TML厚度趋势赋能制造工业数据驱动决策通过PC界面应用程序中的报告生成器,数据分析师可以利用一系列检测数据为利益相关方生成报告:工件设置信息检测数据文件统计厚度趋势带TML的工件图像通过这些支持数据驱动决策的全面报告,利益相关方可以根据可靠、全面的数据做出明智的选择。通过使用交互式自定义模板标准化检测、提高效率和准确性、改进培训和促进数据分析,制造商可以优化质量控制工作。我们期待看到这一功能给制造业带来的不断进步和影响。
  • 高阻隔材料测试中厚度对渗透率的影响
    当天气变冷时,我们马上就知道多穿几层衣服会让我们更暖和。简单地说,如果你想要更多的保护,你就增加更多的厚度。同样的原理也适用于气体透过率测试。经验法则是,如果你将材料的厚度增加一倍,阻隔水平也会增加一倍,相应的透过率将减少一半。厚度对渗透率的影响有多大?很少有人去了解的是,较厚的样品渗透达到平衡所需的测试时间。典型的假设是,厚度加倍就需要测试时间加倍。这是不正确的。通常情况下,每次材料厚度增加一倍,渗透率达到平衡需要4倍的时间。下面是厚度1mil和5mil PET薄膜及其渗透率水平的比较。选择这些薄膜是因为它们在短时间内WVTR达到平衡。在此示例中,1mil PET薄膜的水蒸气透过率 (WVTR) 为10.1 g/(m2 x day)。达到该值95%所需的时间不到30分钟。5mil PET薄膜的WVTR为2.17 g/(m2 x day),需要近450分钟才能达到最终值的95%。我们通常看到,对于厚样品特别是在测量更高阻隔材料时,最后5%~10%的渗透率平衡可能需要相对较长的时间。通过测试得出结论当测试较厚材料的阻隔时,整体渗透率会成比例下降。材料厚度增加5倍,测得的WVTR从10.1 g/(m2 x day)下降至 2.17 g/(m2 x day)。 随着材料厚度的增加,需要更多的时间(超过5倍)来测试样品以达到平衡。如图所示,渗透率水平和达到平衡的时间都受到材料厚度的影响。当您优化测试条件(例如WVTR和CO2TR的流速)和测试持续时间以确保平衡值时,需要牢记这一点。适用于薄样品的标准测试设置可能会为厚样品产生不准确或过早的结果。

厚度规相关的方案

厚度规相关的资料

厚度规相关的论坛

  • 【资料】卡尺和厚薄规(厚度仪)测量不确定度实例

    现在客户要求内校报告也须提供测量不确定度评估,以前我没有做过,现在想从常见的长度类仪器开始做,不知道那位有卡尺和厚薄规(厚度仪)不确定度评估实例,能否发一份给我?非常感谢![em54] email:pwindy.98@163.comor pengxz@nienyi.com.tw

厚度规相关的耗材

  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
  • 薄膜厚度测量系统配件
    薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪,可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器,可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪,比如标准吸收/透过率,反射率的测量,薄膜的测量,薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件:核心模块----光谱仪;外壳模块----各种精密精美的仪器外壳;工作面积模块----测量工作区域;光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件;测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型,不同光谱范围和光源,满足各种测量应用
  • 等厚度薄膜制样工具
    specac_迷你等厚度薄膜制样套装等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定。根据热压制膜原理,所得到样品是纯样品,谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求,提供了3种等厚度薄膜制样工具。不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜,还可以将粒状、块状或板材等不规则形状的聚合物变成可以用光谱检测的薄膜。视频:http://v.youku.com/v_show/id_XNDg3ODI1OTc2.html 点击观看视频
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