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采用低场核磁共振法快速测定了不同分散工艺、研磨时间、分散剂及含量所制备的导电浆料的横向弛豫时间，结果表明：当以BYK为分散剂，其含量为0.6%时，采用纳米均质分散工艺，研磨时间为30分钟时可制备出稳定分散的导电浆料。相比于其他检测浆料分散性的方法，对于浆料不需进行任何前处理，可直接于浓稠状态下测试，且设备操作简单，能快速得到结果，可有效提高研发和生产效率。方案
低场核磁共振法测定电子浆料的分散性
光电材料 | 电子浆料
前处理设备 EXAKT 三辊研磨机 80E PLUS
EXAKT 备件耗材 金刚石切割带锯
耗材/配件 -
零维（0D）金属卤化物是一类新兴的半导体材料，广泛应用于光电材料，包括发光二极管、激光器和光伏发电。特别是异金属（由一种以上的金属中心组成）的金属卤化物，由于其潜在的协同光物理特性取决于对组成金属中心的选择，因此具有巨大的前景1。在本文中，使用FLS1000光致发光光谱仪的时间分辨发射光谱（TRES）确认零维（0D）金属卤化物Tris SbMnCl的发射路径。方案
利用时间分辨光谱（TRES）解析零维金属卤化物能量转移过程
光电材料 | 时间分辨光谱，能量转移过程
检测仪器 爱丁堡一体化稳态瞬态荧光光谱仪FS5
爱丁堡-稳态/瞬态荧光光谱仪FLS1000
检测仪器 FLS1000 -
热活化延迟荧光（TADF），也称为E型延迟荧光，是由Francis Perrin于1924年首次观察到的。在2012年，日本九州大学的Chihaya Adachi教授及其同事利用TADF机制在有机发光二极管（organic light emitting diodes, OLED）中获得三重态激子并创造了一种不需要使用重金属的新型高效的OLED，使其再次兴起并受了更加广泛的关注。自此以后，TADF已成为在OLED中收集三重态激子最常用的方法之一，并且新型TADF发射器由于其具有良好稳定性和有吸引力的颜色坐标而深受学术界和工业领域的研究。方案
利用FS5荧光光谱仪识别热活化延迟荧光
光电材料 | 热活化延迟荧光，TADF
爱丁堡一体化稳态瞬态荧光光谱仪FS5
检测仪器 FS5 -
大多数典型的LED由III-V族化合物半导体构成。III-V半导体是指包含元素周期表中第III族(B, Al, Ga, In)和第V族 (N, P, As, Sb)元素的合金材料。对于蓝色和绿色的LED，通常为In、Ga和N元素。InGaN基LED中的p型和n型区域由GaN形成，其带隙较大，为3.4 eV (360 nm)。可以通过调节Ga与N比值使其成为p型或n型。InGaN基LED的有源区由InxGa1-xN形成，加入In元素会降低半导体的带隙。通过改变In与Ga的摩尔比，可以调谐LED的发射波长和发光颜色。但随着In含量的增加，InGaN发光二极管的效率也会随之降低。因此，通过增加In的含量使其发射波长大于550 nm是没有实用意义的。光谱覆盖范围超过550 nm最为常用的LED为(AlxGa1-x)0.5In0.5P。可通过增加Al和Ga的摩尔比，使其带隙增大, 发射波长蓝移。采用电致发光技术能够测试InGaN和AlGaInP LED的发射波长，并确定LED的有源区带隙及组成。 本篇应用，通过使用耦合电致发光附件的FS5荧光光谱仪测试了四种III-V族化合物发光二极管的发光特性并确定它们的带隙和色度坐标。方案
耦合电致发光附件测试III-ⅤLED的应用
光电材料 | 显示器件LED
检测仪器 爱丁堡-稳态/瞬态荧光光谱仪FLS1000
爱丁堡一体化稳态瞬态荧光光谱仪FS5
检测仪器 FS5 -
“现有的超长有机室温磷光（UORTP）材料多以对磷光团进行羧基化、羟基化等改造，增强其在刚性基质聚乙烯醇（PVA）中的相容、分散性，加强其与基质间的分子间作用等，来获得高性能。但 PVA 易吸湿，这极大限制了其应用场景，例如需要水处理的光刻显影等领域。一旦将基质换为光刻领域所常使用的聚丙烯酸酯衍生物，则因基质较弱的刚性，材料的磷光性能显著下降。我们提供了一个在聚甲基丙烯酸甲酯（PMMA）基质中实现兼具长 τP 和高 ΦP 的 UORTP 发射的完整设计策略。”刘如意表示。刘如意师从四川大学卢志云教授，上述研究已经发表在《 AngewandteChemie International Edition》上。方案
荧光光谱+纯有机光引发剂+开发
光电材料 | 纯有机光引发剂
HORIBA高灵敏一体式FluoroMax-4荧光光谱仪
检测仪器 FluoroMax-4 -
“目前获得 ³CT 态的主要思路有两种：1）构建具有扭转 D-A 结构的经键电荷转移（TBCT）型化合物；2）构建具有平面的 D-A 结构的 TBCT 型化合物。不过前者会因 ³CT→S0 的辐射跃迁过程会具有较强的旋轨耦合作用导致磷光寿命变短，而后者则会因 D、A 单元间存在较强的经键电子耦合作用，降低 3CT 态的辐射跃迁过程禁阻程度，导致磷光寿命变短。我们的工作则是构建仅具有空间电荷转移（TSCT）性质，而不具有 TBCT 性质的 D-CH2(sp³-C)-A 型化合物，借助 D、A 单元间较小的二面角，赋予 3CT 与 S0 态间以较弱的旋轨耦合作用，同时通过阻隔 D、A 单元间的经键电子耦合作用来降低其 CT 激发态的辐射跃迁允许程度。最终双管齐下，有效延长了化合物的 3CT 态寿命。”陈宽表示。陈宽师从四川大学卢志云教授，上述研 究 已 经 发 表 在 《 Angewandte Chemie International Edition》上。方案
荧光光谱+有机室温磷光材料+分子结构设计
光电材料 | 有机室温磷光材料
HORIBA Fluorolog®-3科研级荧光光谱仪
检测仪器 Fluorolog®-3 -
EXPEC 7350S型三重四极杆ICP-MS在对电子级多晶硅基体中ppt水平超痕量进行定量分析时，展现出了灵活的多模式分析功能以及强大的抗干扰能力。方案
EXPEC 7350S ICP-MS测定电子级多晶硅材料基体金属杂质含量
光电材料 | 电子级多晶硅
谱育科技 EXPEC 7350 三重四极杆ICP-MS
检测仪器 EXPEC 7350 -
碳量子点（C-dots）是指尺寸小于 10 nm 分散的类球形荧光碳纳米颗粒。2004年，美国南卡罗莱纳大学的Xu 等人在研究纯化碳纳米管的方法时，首次发现了可以放出明亮荧光的碳量子点。自发现以来，它们作为半导体量子点的潜在替代品受到材料科学界的广泛关注，特别是在生物应用方面，由于其低毒性。它们的一些应用包括光催化太阳能电池、生物成像和药物传输。 在本应用采用热处理牛奶的方法合成非均匀的碳量子点，在空气中的牛奶加热到220°C 2小时即可实现碳化，并在FLS1000荧光光谱仪中测试解析的C-dots的光致发光光谱和寿命。方案
科研级荧光光谱仪助力解析碳量子点发光特性
光电材料 | 碳量子点
爱丁堡-稳态/瞬态荧光光谱仪FLS1000
检测仪器 FLS1000 -
照明使用的发光材料需要符合国际照明协会（CIE）的标准，该标准对于照明工业非常重要，标准基于照明条件，亮度和观察者来制定。本文使用FS5荧光光谱仪对一系列在可见光范围内发光的荧光粉进行测试，并使用Fluoracle软件计算其色度坐标。方案
微晶荧光粉的色度坐标
光电材料 | 荧光粉；CIE色度坐标
爱丁堡一体化稳态瞬态荧光光谱仪FS5
检测仪器 FS5 -
液晶材料是一类介于固态和液态间的有机化合物，大量应用于液晶显示屏制造。在零下50摄氏度低温，一般呈白色塑料状的晶体状态；随温度上升，逐渐变软，呈透明的油脂状的黏性流体状态，到室温附近，黏度变得更小，呈白糖水状态，当温度上升到一定程度，液晶会融化成各向同性的液体。如果温度继续上升到130摄氏度以上，液晶就变成了透明的液体，变为透明时的温度叫做液晶的清亮点。方案
【仪电物光】全自动视频熔点仪在液晶材料清亮点检测的应用
光电材料 | 清亮点、熔点
仪电物光SGW-685 全自动视频熔点仪
检测仪器 SGW-685 -
采用EXPEC 6000测定硅材料中Al、B、Ca、Fe、P、Ni、Mn、Ti8种元素含量，通过对杂质含量不同的2种硅材料样品的测量，并计算检出限和方法精密度，考察EXPEC 6000在硅材料样品中的实际分析性能。结果表明：每种样品平行2次消解并测量的相对相差均小于6%，EXPEC 6000可用于硅材料样品中难电离元素B、P及金属元素的分析检测。方案
硅材料中金属元素检测方案(ICP-AES)
光电材料 | 金属元素
谱育科技 SPEC Pro 6000 防护型电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)
检测仪器 SPEC Pro 6000 -
在本申请说明中，介绍了通过JASCO分光光度计评估发光颜色和显色性的方法，用于LED、有机EL和PDP显示器的开发。此外，还介绍了一种使用相同系统评估液晶显示器（LCD）颜色的方法。 关键词：V-650/660/670，紫外可见/近红外，VWLU-788光色测量/分析程序，ELM-742外光源光纤，光色，材料方案
紫外可见光谱法测量发光颜色
jasco紫外可见分光光度计 V-700
检测仪器 v-700
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