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磁性材料中扫描电镜观察检测方案(扫描电镜)

检测样品磁性材料

检测项目扫描电镜观察

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日本电子株式会社(JEOL)

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方案详情文

7800F特设设计的物镜极靴在保证超高分辨率的同时，物镜磁场物外漏，对观察和分析磁性样品有很大的优势。

智能文字提取功能测试中

Application noteJEOLSolutions for InnovationSM 相关产品： JSM-7800F 领域：磁性材料样品的解析Copyright(C) JEOL Ltd. All Rights Reserved 利用超级混合式物镜(SHL)分析磁性材料样品新开发的用于低加速电压下高分辨率观察的物镜SHL，与迄今为止的通用型高分辨率观察所使用的半浸没式物镜不同，它通过静电场和磁场叠加控制了磁场的泄漏，实现了高分辨率观察。因此，很适合于以往半浸没式物镜难以进行的磁性材料样品的高分辨率观察以及电子背散射衍射(EBSD)分析。下面是对磁性材料样品的高分辨率观察结果和EBSD测试结果。磁铁矿纳米颗粒的高分辨率观察结果 1 由于SHL不受磁场泄漏的影响，很适合于EBSD分析。象上图所示那样，通过反极图能准确地确认晶体的取向。 111 ND TD RD 001 101 ( 产品规格如有变动，恕不另行通知。 ) ( 本资料中登载的产品如果受到外汇及外国贸易易规的安全保障出口的限制，或者需要从日本携带出境时，请与本公司联系。联系方式：日本电子株式会社电子光学仪器销售部 T E L ：+81 -3 - 6262 - 3 56 7 F AX ：+ 8 1-3 -62 62 -3 5 7 7 )

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