方案详情文
智能文字提取功能测试中
GBTEST我们专注半导体晶圆测试系统集成 负载牵引测量系统 负载牵引测量系统是改变射频波器件验入源阻抗和输出负载超抗的阻抗牵引系统,同时它也是一套复杂的、多功能,由多家厂和用户协同合作才可以正常安装和运行、才能保证在后续长期使用中正常发挥功能的系统,这其中最重要的保证就是生产厂家要有经过国际权威机构严格审核的质量保证体系,易捷测试代理Maury Microwave公司出色质量的射频德波测量产品,广泛地为航空航天,防务电子设备和无线信领域内的用户提供产品和服务。 色载引MT2000&MT1000系统特点多路超宽带混合信号输出和频谱分析测量 最高可达240MHz >多维度参数同时日成:100X于传统测速度>集成4至6个全反射系数电子式抗构配器 A591000509001:2015 与MPI等半日动/白动针台花容,在片高速量产到试 AAW Utnc-fo Ha te ompoct lPu hinai TNTT 转接器和附件 校准件和电缆组件及适配器 MT1000和MT2000混合信号有源负载牵引系统是经过商业验证的非常受欢迎的解决方案,能够在高达每分钟1000阻抗/功率状态的高速下执行负载牵引,在以下条件下不限制史密斯圆图覆盖范围:· 单音CW和脉冲CW射频信号· 直流和脉冲直流偏置· 时域NVNA电压和电流波形和负载线· 频率介于1 MHz和40 GHz之间在上述条件下具有高幅度反射系数的高速负载牵引对于:· 由于更快的测量速度,缩短了产品上市时间· 减少传统被动机械负载牵引系统造成的瓶颈而不会降低精度· 验证非线性紧凑模型· 提取非线性行为模型· 研发,设计验证测试和晶圆上生产测试此外,MT2000是经过商业验证的非常受欢迎的解决方案,能够在基频,谐波和基带频率下实现高达500 MHz带宽的宽带阻抗控制,非常适用于:· 在宽带PA电路的设计中使用ACPR和EVM测量数据· 基于受控基带终端提高PA线性度· 在真实的天线负载条件下评估DUT的性能· 在不同的匹配网络拓扑下评估DUT的性能MT1000和MT2000是交钥匙单盒负载牵引解决方案,取代了通常由无源基波和/或谐波阻抗调谐器,VNA和/或NVNA,模拟信号发生器,矢量信号发生器,矢量信号分析仪和示波器执行的功能,并添加高速负载牵引测量的能力和调制信号的宽带阻抗控制。Key Features (Typical Performance)> Broadband system concept (e.g. 0.7-40.0 GHz)> Re-configurable hardware; single-ended, differential and number of controlled harmonics> High speed and dynaic range> Embedded measurement of (Pulsed/Isothermal) DC parametersSingle Tone>" Real-time“ measurement speed>1,000 power and load states per minute> Multi-dimensional parameter sweeps> (Pulsed/Isothermal) High Power testing> measurement of calibrated Voltage and Current waveforms> Device protection included> Waveform reconstructionModulated singals> wideband modulated singals(e.g. multi-carrier WCDMA) up to 240 MHz> Modulated Signal Library Included > Losses and delay of cables, probers etc, are eliminated> Upload the s-paramenters of any " Virtual matching networks" and get a one-to one agreement with your board design (also for linearity)> Dvice testing with digital predistortionThis novel mixed-signal load pull system is designed to handle realistic wideband complex modulated signals with a high dynamic ranged and provide user defined reflection coefficients vs. frequencey at the DUT reference planesThe system concept is based on:> IQ signal generation , synthesized with fully synchronized arbitrary waveform generators(AWG)> Wideband A/D converters to measure the wideband reflection coefficient
关闭产品配置单
深圳市易捷测试技术有限公司为您提供《射频芯片中CP测试检测方案(电子/半导体)》,该方案主要用于射频芯片中CP测试检测,参考标准《暂无》,《射频芯片中CP测试检测方案(电子/半导体)》用到的仪器有负载牵引 MT2000、PNA-X网络分析仪。
我要纠错相关方案