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在现代电子材料发展中,连接器不可或缺,而连接器的不同形状(例如直针型、Z形几何形状)和尺寸可能会对分析带来不同的挑战。晓INSIGHT易于操作,配置灵活,可轻松应对不均匀、不规则,甚至微小件等形态的镀层样品测量带来的挑战,提供快速、准确和可重复的结果,帮助诸多的PCB、半导体等电子相关行业有效提高生产力,确保符合规范,以避免出现性能低下的风险以及与废料或返工相关的成本。
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苏州浪声科学仪器有限公司为您提供《连接器中镀层分析检测方案(X荧光测厚仪)》,该方案主要用于电子元器件产品中化学性质检测,参考标准《暂无》,《连接器中镀层分析检测方案(X荧光测厚仪)》用到的仪器有浪声 X射线荧光测厚仪 镀层分析仪 INSIGHT PCB、晶圆版。
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