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我们周围有各种各样形式的高分子（聚合物）材料。它们的表面具有代表着，有深刻意义的层状结构的形貌，涉及原材料的透明度与强度。利用SPM（扫描探针显微镜）观察聚乙烯与聚丙烯薄膜的表面，同时得到三维图像与粘弹性像。
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SPM应用 No.10 利用SＰM观察高分子薄膜的层状结构 我们周围有各种各样形式的高分子(聚合物)材料。它们的表面具有代表着，有深刻意义的层状结构的形貌，涉及原材料的透明度与强度。利用SPM (扫描探针显微镜)观察聚乙烯与聚丙烯薄膜的表面，同时得到三维图像与粘弹性像。从三维图像上，观察到微細的凹凸表面。粘弹性像清晰地观察到层状结构，了解到高分子晶化的情况(明显地显示随晶化的进展，硬化的部分。图象的每边长度为1um。因此利用SPM在大气中，简单地得到高分子薄膜的重要信息。 高分子薄膜的三维像(左)与弹性像(右) 水J70EL>05情造! (凹) 木J口ELD5造(弹性像) 高分子薄膜的三维像(左)与弹性像(右)
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产品配置单
岛津企业管理（中国）有限公司为您提供《高分子薄膜中层状结构检测方案(波散型XRF)》，该方案主要用于其他中层状结构检测，参考标准《暂无》，《高分子薄膜中层状结构检测方案(波散型XRF)》用到的仪器有多道X射线荧光光谱仪MXF-2400。
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