硫镓银晶体中内部均匀性检测方案(红外光谱仪)

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硫家银晶体的透过率曲线晶体为 8mm*8mm尺寸的单晶锭，厚度为2.8mm，双面光亮平滑，外观呈棕黄色。将样品夹于薄膜支架上，用 FTIR 主机测定晶体的透过率。分辨率4cm°，扫描20次。 图1是该晶体在4000-400 cm°范围内的透过率曲线，由曲线可知，在4000-900 cm°范围内透过良好，在750cm附近有吸收峰。 硫家银晶体的绘图测定1 设置红外显微镜为观察模式，将晶体放在CaF2载玻片上，用16倍物镜选择样品1050um×750um区域，观察其形态。 图2是硫家银晶体的显微镜照片，可见晶体内部有斜向纹理及黑色斑点。 选择红外显微镜透射模式，利用最新的IRsolution-Mapping 软件对晶体样品进行绘图测定。设置测定条件如下：显微镜光圈150pmx150um，测定间隔 150 um，分辨率8cm-1，，扫描50次，则定光谱范围4000-720cm。 图3和图4表示有关900-750 cm°处的吸收强度(峰面积)在该区域内的变化情况。由绘制的三维谱图可知，图上形成峰的区域大多在该晶体的黑斑处，可见黑斑处的杂质对晶体均匀性的影响非常大。 红外显微镜测定硫银晶体内部均匀性 摘要 硫家银(AgGaS2)晶体是一种性能优异的新型红外非线性光学材料，在激光通信和国防科技方面都有广泛用途。作为光学器件，硫家银晶体内部的均匀性直接影响到其光学性能。这里介绍用红外显微镜透射模式测定硫家银晶体内部均匀性的方法。 关键词 FTIR显微透透射模式硫家银晶体均匀性 图1硫家银晶体透过率曲线 图2硫家银晶体的显微镜照片 图3晶体900-750 cm处的峰面积绘图 分析该杂质可能是在晶体生长过程中包裹进去的。此外在图上还发现有凹陷处，该处可能与晶体生长的致密性有关。以上选择的是典型的有缺陷处的样品区域。 硫银晶体的绘图测定2 在显微镜观察模式下，选择晶体外观上颜色均一透亮的区域，尺寸大小600umx600um。 图5是该区域的显微镜照片，在该区域晶体的颜色及纹理走向均一致。设置测定条件如下：显微镜光圈100umx100um，测定间隔100 um， 分辨率8cm’， 扫描50次。 图6表示有关900-750 cm处的吸收强度(峰面积)在该区域内的变化情况。同样，由三维谱图显示，吸收峰在此区域吸收强度分布均匀。由此得出结论，晶体在此区域内生长的致密均匀，性能良好。 图4 3色显示的绘图 图5晶体600um*600um区域显微镜照片 图6晶体900-750 cm°处的峰面积绘图