双相钢中磁学特性检测方案(扫描探针)

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Quantum DesignCHINA (MFM)信息 利用 AFSEM 原位分析样品的磁学特性 快速定位感兴趣的样品区域 原位 SEM 与 AFM 分析联用 > 特殊设计的磁性“super-tip”， 能够获得高分辨率的形貌及磁力显微(MFM)成像信息 Ouan 图1用于高分辨 MFM 成像及测量的“super-tip” 图2利用 AFSEM 在 SEM 腔体中原位观测双相钢的磁学及形貌：(a)利用 SEM 快速定位感兴趣的样品区域； (b)SEM 下观测到的铁磁相及顺磁相；(c)利用 AFSEM 获得的形貌信息；(d)利 用 AFSEM 观测到的 MFM 信息 图3利用 AFSEM 在 SEM 腔体中原位观测磁性薄膜的磁学及形貌：(a)利用 SEM 快速定位感兴趣的样品区域；(b)利用 AFM 对微区轮廓进行观察和定量测试； (c)相应区域的磁力显微 相关产品： 扫描电镜专用原位 AFM 探测系统：：https：//qd-china.com/zh/pro/detail/3/1912082218984 Ouantum Design China  利用AFSEM原位分析样品的磁学特性Ø  快速定位感兴趣的样品区域Ø  原位SEM与AFM分析联用Ø  特殊设计的磁性“super-tip”，能够获得高分辨率的形貌及磁力显微（MFM）成像信息图1 用于高分辨MFM成像及测量的“super-tip”图2 利用AFSEM在SEM腔体中原位观测双相钢的磁学及形貌：(a)利用SEM快速定位感兴趣的样品区域；(b)SEM下观测到的铁磁相及顺磁相；(c)利用AFSEM获得的形貌信息；(d)利用AFSEM观测到的MFM信息图3 利用AFSEM在SEM腔体中原位观测磁性薄膜的磁学及形貌：(a)利用SEM快速定位感兴趣的样品区域；(b)利用AFM对微区轮廓进行观察和定量测试；(c)相应区域的磁力显微（MFM）信息