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ICP法是一种常用的元素分析方法，具有高灵敏度、高分辨率和高精度等优点，广泛应用于各种元素的定量分析。在测定工业硅中的金属元素方面，ICP法同样展现出其独特的优势。本文建立了电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-OES)法测定工业硅中的金属元素的方法，可供相关人员参考。
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ICP法是一种常用的元素分析方法，具有高灵敏度、高分辨率和高精度等优点，广泛应用于各种元素的定量分析。在测定工业硅中的金属元素方面，ICP法同样展现出其独特的优势。本文建立了电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-OES)法测定工业硅中的金属元素的方法，可供相关人员参考。
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北京东西分析仪器有限公司为您提供《解决方案|ICP法测定工业硅中的金属元素》，该方案主要用于其他中工业硅检测，参考标准《暂无》，《解决方案|ICP法测定工业硅中的金属元素》用到的仪器有ICP-7760HP型全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪。
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