【求助】请教SEM-EDS中的记数率

有的
技术率一般不能太高
过高影响结果的准确性
我们用的OXFORD要求小于3
单位忘了
呵呵

计数率，单位CPS（COUNTS PER SECOND 计数率的大小和很多因素有关，比如HV，WD，样品本身的原子序数大小等等，能谱安装到位与否都有关，一般计数越大速度越快，定量可靠程度越好。再有就是高计数的时候做元素面分布是一件很爽的事情。

谢谢上面两位的回复解答！
这里还真是个学习的好地方啊

呵！当然有影响咯！
计数率高频谱就会好点，一般要在2K-3K哦

那是不是还分设定的记数率和实际的记数率啊？
我看我们做分析的时候界面上显示的cps好象只有一千多点
我们用的是牛津的EDS

还有问题就是具体的记数率是怎么样定义的？
看它的单位应该是束流/时间，可我还是不能明白
请帮忙给个比较专业的解释。
谢谢

不是记数率， 是计数率， 就是单位时间内点了多少数， 英文 COUNTS PER SECOND， COUNT就是点数的意思。
点的是什么数， 是X射线光子的数， 能谱议的半导体探测晶体将X射线能量转换为电能，单位是伏特。
点数越高，就意味着晶体越忙， 晶体越忙，差错就越多，这个差错就是死时间。

嘿嘿，对不起，确实是计数率。
谢谢了

任兄的解释简单通俗，呵呵，正如您所说，谱仪越好，处理器能力越强，，死时间就越小。