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【分享】深圳晶圆和硅片背面缺陷检测与分析

扫描电镜（SEM/EDS）

  • 深圳材料表面分析检测中心

    缺陷分析服务：1、微观形貌观察

    2、杂质、残留物成分分析

    使用设备：1、扫描电子显微镜（SEM）

    2、能量色散谱（EDS）

    价格：1、300元/样（提供5张照片）

    2、350元/样

    电话：0755-25594781 白帆

    中心网址：http://www.sz863.com

    MSN：slevin.van@gmail.com
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  • huangtao0307

    第1楼2008/06/24

    有沒有一些IC失效分析的資料可以一起分享一下呢

    sz863 发表:深圳材料表面分析检测中心

    缺陷分析服务：1、微观形貌观察

    2、杂质、残留物成分分析

    使用设备：1、扫描电子显微镜（SEM）

    2、能量色散谱（EDS）

    价格：1、300元/样（提供5张照片）

    2、350元/样

    电话：0755-25594781 白帆

    中心网址：http://www.sz863.com

    MSN：slevin.van@gmail.com

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