【求助】请教：用AES研究杂质元素在晶界的偏聚如何准备样品？？

你腐蚀样品是不是可能把样品的真实情况破坏了。做晶界，可以通过深度剖析找晶界啊！但是这个时候你最好知道晶界的大致深度，那样作样可能快点而且也便宜点。
你的P含量有点少，如果没有偏聚的话，可能很难测到。
但是我没有做过铸态试样，也不太清楚它的程度。

谢谢您的解答，可是为什么通过深度剖析就可以找到晶界呢（因为我不是搞材料的，不是很清除），另外“晶界深度”一般指的是什么概念呢，我只是采用腐蚀液将钢材基体腐蚀后能够看到晶粒组织，黑色的晶界，如何知道他的深度呢？？？？希望能再帮我详细解释一下吧，谢谢

顶一下，希望高手再帮我解答一下吧

再顶一下，希望高手帮我解决疑问啊

堆晶界这个东西我们不太清楚
你可以详细的回答
也许大家能够帮助你

提个小小的建议：
1、晶粒大小是多大？一般做晶界偏聚有种办法是先让晶粒长大，然后用AES做Map，做线扫。
2、如果是场发射的，分辨率很高，可以直接在晶界做成分，如果是灯丝的，就困难多了。
3、P含量太少了，很难测出