国家标准GB
无名
第1楼2008/05/26
GB 4059-1983 硅多晶气氛区熔磷检验方法
第2楼2008/05/26
GB 4060-1983 硅多晶真空区熔基硼检验方法
第3楼2008/05/26
GB 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法
第4楼2008/05/26
GBT 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法
第5楼2008/05/26
GBT 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
第6楼2008/05/26
GBT 1558-1997 硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法
第7楼2008/05/26
GBT 14264-1993 半导体材料术语
edwin889
第8楼2008/05/26
谢谢您！不知能否提供SEMI 16-1296，感谢。
stcaptain
第9楼2008/07/29
非常感谢！！
dolly001021
第10楼2008/07/29
我也需要啊
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