【求助】请教几个问题

从傅里叶变换的角度看，子函数（斑点）越多，就越逼近原函数（高分辨像）。

第1和第2个问题都不太理解，都是对一维结构吗？
第3个问题也看不大明白，Scherzer欠焦是为了让相位移尽量平坦吧，因为在弱相位体近似中，衍射束和透射束相差pi/2的相位，而Scherzer欠焦相当于一个Zernike phase plate，在一定范围内将这个pi/2相位补偿了，也就是更接近于投影势了。

刚开始看《材料评价的高分辨电子显微方法》，有两个问题：

1. 对于一维结构像，就是说电子束平行于某一平面族，这个意思是说，仅平行于某一平面族了，那么在操作时，如果得到弧形的衍射点（没有转正的两维衍射点），那么怎么得到一维衍射点，是转两维衍射的反操作吗？

2. 同样是一维晶格，怎么判断是晶格像还是结构像呢？

3. 对于二维晶格像，书上提到“由于二维晶格像只利用了有限的衍射波，因此，即使偏离谢尔策聚焦也能进行观察”，后面又说，“因为参与结构像成像的衍射波很多，拍摄应限定在谢尔策聚焦附近。”
是不是说较多衍射波参与成像，就增加了像振幅随厚度和欠焦波动的不确定性，从而使像无法解释？

多谢指点！

第一个问题没看明白，如果是指操作上怎么从转到只有一维衍射（只有一条轴亮）的情况，那么你说的在理解上是没有大问题的。

第二个问题和第3个问题是分辨率的问题，晶格象一般只需要第一层衍射点（离投射束最近的一层）的信息，当拍摄焦距设置在CTF只特别加强了第一层反射强度的时候，晶格分辨率的信息表现的很明显（“由于二维晶格像只利用了有限的衍射波，因此，即使偏离谢尔策聚焦也能进行观察”）。在降低了或者说避免了CTF的影响的时候，所有的反射既所有的结构上的周期都将体现在实验结果上（照片上），这时候就有结构信息了。在没有各种校正设备的前提下，Scherzer 欠焦附近会使CTF的作用最大可能的平均作用于所有的反射。当然，相位的也会得到正确的体现。（“因为参与结构像成像的衍射波很多，拍摄应限定在谢尔策聚焦附近。”更多的衍射波就能体现更多的结构内的周期信息。）

最后呢，欠焦的波动一般会导致两个问题，相位与强度。在能够准确确定出焦距的前提下这两个问题都有机会在图像处理或者出射波的重构过程中还原回来。即使焦距只能大致的判定，相位的问题在很多情况下还是可以校正回来的。但是由于准确的欠焦量不容易测定，最终结果的不确定性导致了这个问题并不简单，但是并不是总无法解释的。