【原创】掠入射小角X射线衍射（GIXRD），掠入射小角X射线散射（GISAXS），小角X射线散射简介（SAXS）

楼主
可以详细的介绍吗？

GI SAXS以前一般是在同步辐射上做，现在实验室设备可以做吗？

楼主能否详细的介绍一下三种，很需要，我做ＳＡＸＳ时怎么总是重复性不好，有时有峰的再做可能又没有峰呢？

根据我的一点了解，现在实验室设备上好像还很难做，主要是散射信号太弱，采用实验室x光源测量时信躁比太差，甚至噪声远大于信号，所以增加采集时间也很难获得有效的信号，普通x光机很难进行GISAXS实验；不过现在有些实验室x光机发展也挺快的，在高亮度、高光强的x光机上面应该可以进行一些散射信号较强的试样的GISAXS实验。

再简单说一点吧：
掠入射X射线衍射（GID）就是入射X射线掠入射到样品表面，经过样品表面层（表面薄膜）衍射后再掠出射出来，测量出射的信号强度，这种方式测量时其入射－－衍射线构成的平面基本平行于试样表面（夹角大约为掠入射角），衍射晶面垂直于试样表面，入射X射线穿透试样不深，测量对表面结构敏感，出射信号包含了大量的表面层散射信号。
而通常XRD测量时，一般来说入射－－衍射束构成的平面垂直于试样表面（晶面），这样X射线穿透样品较深，出射信号含表面薄膜信号很少，测量对表面结构不敏感，所以也可以简单的理解为GID就是专门针对表面薄膜的XRD。
类似的原理，GISAXS就是针对表面薄膜的SAXS，GISAXS能获得的信息基本上就是SAXS能获得的信息，但GISAXS结果分析时要考虑衬底表面多次反射－－散射效应，数据分析稍微复杂一点。

你做SAXS重复性不好，因为不清楚你具体是在什么仪器上、探测器方面、样品这些信息，所以我只能大致分析一下:一般来说，你首先要排除光源和探测器的影响，比如采用汇聚的x射线方式时聚焦不好，如果在同步辐射做的话，光源不稳定也可能造成这种影响；此外也要排除探测器影响，比如气体探测器饱和、线性范围不好和探测器响应等等影响。
如果排除了光束的影响和探测器的影响，还有可能就是试样的影响，比如一些纳米颗粒的溶液样品均匀性很差，有些区域聚集严重，有些地方分布稀疏，如果其分散性不好就会造成重复性不好；对于固体或者粉末样品，也可能会由于试样本身的不均匀性造成测量重复性不好，所以，也有实验研究采用小角X射线散射测量试样不同区域来研究试样的不均匀性的。
还有一点概率较小的可能就是你试样放置重复性是否很好，比如你这次测量X射线照射到试样上了，下次没照上，重复性当然就较差了。
根据我的实验经验，如果排除以上各个因素后，各种试样的实验重复性都还不错的，如果你确实把X光源（光束）、探测器、和样品影响都排除了，重复性还是不好，那俺就实在无能为力了～～～呵呵

班门弄斧，大家见笑了～
大家在GID、GISAXS和SAXS方面有什么问题一起多探讨～

希望楼主有这方面的资料的话可以分享一下
谢谢

呵呵谢谢斑竹关照～
我手头上也只有一些国外GIXRD、GISAXS和SAXS文献，大家拿这几个做关键词到网上搜一下都很方便找到大量的文献的～