【讨论】ICP-MS测钾、钠的干扰元素是什么。

我认为首先得从自身注意，配标准溶液时一定要戴口罩，手套等。

除了自身环境因素的影响，还应考虑试剂纯度，仪器测试条件，以及所用工作气体Ar的干扰。

K Na属于检出限不容易控制的元素，两者电离能都比较低，锥口处的盐分沉积容易产生再次电离，提高仪器背景，而且环境中含量较高，容易产生污染，其中K由于还受到ArH干扰，因此更难于测定低含量

一般环境样品中的K Na含量较高，相对比较容易测定
微电子行业中的K Na测定则需要实验室的超净条件，全PFA的进样系统，白金接口，以及冷焰技术或碰撞反应池技术解决干扰。

谢谢专家了，我试着做做看

ICP MS测定K Na的干扰较少，主要是注意环境和试剂的纯度，一般检测限10ppb左右，不过这足够了，若你要准确测定几十个ppm的浓度的话，标准曲线可以从0.1拉到200ppm,几分时间0.01s,使用碰撞气体。

如果是环境样品中的K Na，也可以采用分辨率调整技术测定高含量