【原创】浅谈XRD数据评估技术一并诚邀高手齐来亮剑！::Please show us the best XRD raw data in your hand.

大陆兄我估计这种谱图在很多仪器上是做不出来的
除非是这台仪器刚买到
而且这个操作者必须非常熟悉XRD
您看那个背景才是2
大家仔细看看咱们平常出来的普图
那根本不是一个数量级
但是您这个想法不错
大家有个努力的方向
呵呵

这个intensity我看并不是通常的count，而是通过一定算法从线探测器上变换过来的，估计是乘以角度的余弦再积分得到的，这个你可以从原始数据中的强度能到小数点后4位，之前我还真没见过强度为非整数的谱图，见笑了。。。。

不过这个谱得到的时间确是非常短，线探测器积分时间是120秒，注意原始数据的步距是0.005度，但线探测器的好处在于它可以每步移动的角度非常大，这里可能是0.5～1度。这个实验总共花费的时间约5个小时，相对点探测器这相当快了。
现在的探测器技术真是让人开眼。

我相信坛子里有人能有技术和好的样品做出相当的图，只要有好结果，多少时间做出来的暂先不论。
在我眼里，好图的标准：1、相对噪音低；2、各个峰位的FWHM的分量随角度平滑过渡。

其实，好的数据像艺术品一样值得鉴赏。再次恳请高手亮剑。

感谢！受教了。

此图在高角度背底上扬的比较厉害，我用panalytical的机器在高角度上扬没这么厉害的。

我相信那intensity不是指count，按所描述的条件，count intensity应在1w以上。在文献上曾看到过这中xrd强度，当时就纳闷，那么窄的峰宽，怎么强度值会如此低。想来可能就是大陆兄的说法了。不过话说回来，不太喜欢这种强度表示，不利于同行的对结果的判读啊。

ps：ls有人惊叹背景为2，其实没有必要，呵呵，我们得看他的信噪比。


我给个用x‘pert的Si的结果。这是四年前测的（不是我的）。

step size: 0.0084°, counting time: 15 s。实验耗时28'13''。

遗憾的是，没有石墨单色器。

没错，我后来又做了两个步距0.02的样，上扬的更厉害。
请许老师贴出您提到的背底较好的图的原始数据，拜谢！

谢谢Maxwell兄的回复，我发的图也是没有单色器的结果，注意精修exp文件中的instrument信息中使用了约50%的alpha2。
另，不知道能不能贴个Ascii文件，光有图片不好对比评价啊。

呵呵，见附件。含原始文件及转换成rd和txt格式共三个。
Si-xrd

非常感谢，受教了．