sartre 2009/03/26
玻璃主要是硅酸钠 氧不能够测 但是可以根据Si和Na进行定量的 [quote]原文由 [B]hb-hd-wy[/B] 发表: 对于测量玻璃作为基材的产品,EDXRF应该不是很好用的,0.5mm的玻璃会被X射线穿透,如果要在玻璃下面在垫上一块金属的话,EDXRF又不能够测量到氧元素。楼主提到的是玻璃上镀了金膜,如果在玻璃上加的CR足够厚的话,EDXRF是可以进行测量的。EDXRF比XPS或者SEM+FIB可要省很多钱呢,建议楼主到XRF版面提问。 [quote]原文由 [B]sartre[/B] 发表: 贴个EDXRF实测数据吧 镀层厚度测定 样品:Cu 板上镀Ni ,再度 Au 条件:20KV, Pd M 滤片 50秒 样品号 次数 元素 厚度 (单位) 1 1 Au 467 Å Ni 3.38 μm 2 Au 462 Å Ni 3.45 μm 3 Au 460 Å Ni 3.39 μm [quote]原文由 [B]hmzhou83[/B] 发表: 我不是很清楚哪个版块有技术可以解决这个问题,估计电镜也许可以,所以先发在这个版块,要是有其他版块有此项技术请告知一下,我再转发。谢谢! 我们需要测量的金膜是溅射在玻璃基片上的。玻璃基片约0.5mm厚,大小约1cm*1cm。基片上有一层很薄很薄的铬,完全可以忽略,金膜溅射在铬上的,厚度约50nm左右,我们想比较准确测量一下其厚度,误差 1-3nm以内吧。误差5-10nm左右呢???示意图如下 [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191652_627196_1628190_3.jpg[/img][/quote][/quote][/quote]
fengyonghe 2009/03/26
[quote]原文由 [B]yijian_zq[/B] 发表: [quote]原文由 [B]hmzhou83[/B] 发表: 我不是很清楚哪个版块有技术可以解决这个问题,估计电镜也许可以,所以先发在这个版块,要是有其他版块有此项技术请告知一下,我再转发。谢谢! 我们需要测量的金膜是溅射在玻璃基片上的。玻璃基片约0.5mm厚,大小约1cm*1cm。基片上有一层很薄很薄的铬,完全可以忽略,金膜溅射在铬上的,厚度约50nm左右,我们想比较准确测量一下其厚度,误差 1-3nm以内吧。误差5-10nm左右呢???示意图如下 [img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191652_627183_1609375_3.jpg[/img][/quote] 只要把样品做好,扫描电镜能不能测的关键在于束斑直径,也就是最高分辨率。如果误差允许5-10纳米,束斑直径3纳米的扫描电镜可以做。如果误差允许1-3纳米,束斑直径1纳米的扫描电镜可以做。型号为SUPRA 55和SUPRA40扫描电镜,束斑直径1纳米。在横截面上玻璃和金膜形成很大的反差,更有利于测量。国内已有长度测量的标样,在测量之前先行校对一下误差。纳米级长度的扫描电镜测量方法通则,标准编号:GB/T 20307-2006 金属履盖层横截面厚度扫描电镜 测量方法 JB/T 7503-1994
dukite2001 2009/03/23
扫描电镜作比较难,主要因为制样就不好做,加上最高端的分辨率目前也有问题,玻璃不导电,选用透射电镜制样做或许最可行!
1350799 2009/03/23
你上网查一下,X射线荧光测厚仪CMI9000,我想这个可以解决你的问题!
huangtao0307 2009/03/25
你有膜厚儀試一下﹐那個應該可以的
狼图腾
第3楼2009/03/23
你的样品如果做corss-section后,电镜测量也可以,不过误差会大于1-3nm,且估计cross-section不好备样。
XRF有一种是专门测量镀层厚度的,在有标样的条件也,也可以做,但你的厚度50nm太薄了,我见过的XRF测厚仪估计误差也有50nm.
最好的我想是XPS,没有用过,但肯定能测,之前我们公司一个部门就专门测这中10-100nm的镀层厚度,好几百万的机器专门测这个,呵呵
yijian_zq
第11楼2009/03/25
你好楼主,我有你要的仪器,专门用于玻璃上面镀层的检测.是非破坏性的检测仪器!希望你能联系我,我将给你提供相关的技术参数!谢谢!
yijian_zq@163.com